Tamie Widjaya 1406552566 kelompok Perbedaan Prinsip XRD, XRF, dan EDS XRD XRD atau X-Ray Diffraction merupakan suatu alat yang digunakan untuk menganalisis sistem kristal pada material yang diuji. XRD dapat memberikan informasi mengenai jenis struktur, parameter kisi, susunan atom yang berbeda pada kristal. Prinsip kerja dari XRD ini menggunakan difraksi sinar X yang dihamburkan oleh sudut Kristal material yang diuji. Komponen utama pada XRD ini terdiri dari tabung katoda, sampel holder dan detektor. XRD akan memberikan data difraksi dan juga kuantitasi intensitas difraksi pada sudut dari suatu bahan. Setiap pola yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang Kristal yang memiliki orientasi tertentu. Berkas sinar-X yang dihamburkan ada yang saling menghilangkan dan saling menguatkan. Selain dari kelebihan XRD diatas, pastinya XRD juga mempunyai kekurangan, yaitu tidak dapat digunakan untuk analisa kuantitatif, sehingga XRD tidak dapat kita gunakan untuk menghitung jumlah dan kadar dari mineral-mineral tersebut. Biasanya, XRD digunakan untuk menghitung analisa jumlah yang tidak harus akurat. XRF XRF merupakan suatu alat yang digunakan untuk menganalisa komposisi kimia dan juga konsentrasi unsur-unsur yang terkandung dalam material dengan menggunakan metode spektometri. XRF hampir sama dengan XRD, tetapi bedanya XRF dapat mengukur secara kualitatif dan juga kuantitatif. Analisa menggunakan XRF dilakukan berdasarkan dengan identifikasi dan pencacahan karakteristik sinar-X yang terjadi akibat adanya efek fotolistrik. Elektron dikulit yang lebih dalam (kulit K) akan terpental keluar dari atom karena adanya sinar-X yang datang, maka dari itu terjadi kekosongan atau vacancy elektron. Lalu, karena terjadi kekosongan pada kulit K, elektron pada kulit L dan M takan turun disertai dengan emisi sinar X yang khas sehingga hal tersebut mengakibatkan kekosongan pada kulit L dan M. Ketika terjadi kekosongan pada kulit L, maka elektron pada kulit M dan N akan turun dengan disertai sinar-X. Spektometri XRF memanfaatkan sinar X yang dipancarkan oleh bahan yang selanjutnya ditangkap
Tamie Widjaya 1406552566 kelompok oleh detektor untuk dianalisis kandungan unsur dalam material tersebut. XRF mempunyai kelebihan, yaitu cukup mudah, murah, analisanya cepat, EDS (Energy Dispresion X-ray Spectroscopy) EDS merupakan suatu teknik analisa yang digunakan untuk menganalisis unsur atau karakterisasi kimia dari material. EDS merupakan salah satu variasi dari XRF yang mengandalkan penyelidikan sampel melalui interaksi antara radiasi elektromagnetik dan material. Pada EDF, kita akan menganalisa sinar-X yang diemisikan oleh material sebagai respon terhadap tumbukan dari partikel bermuatan. Kemampuan karakterisasi EDF bergantung kepada setiap atom, seperti yang kita ketahui bahwa setiap atom pastinya memiliki bentuk yang unik sehingga, dengan diberikannya sinar-X bentuk-bentuk dari atom tersebut akan teridentifikasi dan berbeda satu dengan yang lainnya. Kelebihan dari EDF ialah ia dapat digunakan untuk menganalisa komponen utama, produk maupun penambahan aditif yang jumlahnya kecil. Prinsip kerja dari EDS ini ialah dengan cara menggunakan detector EDS. Detector ini akan mengukur emisi abudance relatif sinar-x. Untuk dapat melihat karakteristtik dari sampel, kita harus memfokuskan sinar-X ke sampel. Detektor yang umum
digunakan adalah
lithium-drifted silikon. Saat sinar-x menumbuk detector terjadilah charge pulse yang sebanding dengan energi dari sinar-x. Nilai charge pulse yang telah diperoleh akan dikonversikan menjadi tegangan. Lalu nilai dari tegangan tersebut akan diurutkan di multichannel analyzer. Untuk setiap tumbukan yang terjadi akan dikirimkan ke komputer, sehingga kita dapat mengidentifikasi komposisi unsur yang terdapat pada material tersebut. Referensi: Smallman, R., & Bishop, R. (1999). Modern Physics Metallurgy and Materials Engineering. Oxford: Butterworth-Heinemann. Callister, William D. (2007) Material science and Engineering and Introduction, eight edition. United State of America: John Wiley & Sons, inc.
