Curso OMICRON Eletronorte

CURSO CAIXA DE TESTE

OMICRON

Eng. Geraldo Magela Aoun

Hardware CMC 256 3 Phase / 6 Phase Test Set CMC 256-6 EP 6 Phase Test Set (Extended Precision)

Voltage outputs 0 ... 300 V For testing protective relays with higher voltage requirements (up to 600 V single phase) in industry, measuring transducers and meters.

CMC 256 The CMC 256 is available

in two versions: the six phase CMC 256-6 with 6 x 12.5 A current outputs, and the three phase CMC 256-3 with 3 x 25 A current outputs.

Fourth, independenty controllable voltage output 0 ... 300 V e.g. for convenient testing of synchronizing devices or generation of residual voltage.

Current outputs 6 x 12.5 A or 3 x 25 A Higher power for testing electromechanical relays without an additional amplifier. Six current outputs (CMC 256-6) allows Compared to the CMC 156, testing of two-winding transformer the CMC 256 offers differential protection without an additional the following additional external current amplifier. features:

Specifications1 Generator/amplifier section Voltage generators/amplifiers Setting range 4-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-L) dc (L-N) Power 3-phase ac (L-N) VL4 ac (L-N) 4-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-N) 1-phase ac (L-L) dc (L-N) Accuracy Distortion (THD+N)2 Output voltage range Resolution

(see diagram) 4 x 0 ... 300 V (VL4(t) automatically calculated: VL4=(VL1+VL2+VL3) * C or free programmable) 1 x 0 ... 600 V 4 x 0 ... ±300 V 3 x 85 VA at 85 ... 300 V 1 x 85 VA at 85 ... 300 V 4 x 50 VA at 75 ... 300 V 1 x 150 VA at 75 ... 300 V (typ. 200 VA at 100 ... 300V) 1 x 150 VA at 150 ... 600 V 1 x 360 W at ±300 V error < 0.025% typ. (<0.1% guar.) at 30 ... 300 V <0.015% typ. (<0.05% guar.) 150 V, 300 V 5 mV in 150 V range 10 mV in 300 V range

CMC 256-6 current generators/amplifiers Current amplifiers group A and/or B Range 12.5 A Setting range 3-phase ac (L-N) 6 x 0 ... 12.5 A 1-phase ac (3L-N) 2 x 0 ... 37.5 A dc (3L-N) 2 x 0 ... ±17.5 A Power 3-phase ac (L-N) 6 x 70 VA at 7.5 A 1-phase ac (3L-N) 2 x 210 VA at 22.5 A 1-phase ac (L-L) 2 x 140 VA at 7.5 A dc (3L-N) 2 x 235 W at ±17.5 A Resolution 500 µA Range 1.25 A Setting range 3-phase ac (L-N) 6 x 0 ... 1.25 A Power 3-phase ac (L-N) 6 x 12.5 VA at 1.25 A Resolution 50 µA Group A and B in series Power 1-phase ac (IL1A-IL1B)

External connection (IL2A - IL2B) 280 VA at 7.5 A (40 Vrms)

CMC 256-6

Independent DC supply (0 ... 264 V, 50 W) e.g. for relay power supply.

CMC 256-3 Current generators/amplifiers (or CMC 256-6 group A and B in parallel) (see diagram) Range 25 A Setting range 3-phase ac (L-N) 3 x 0 ... 25 A 1-phase ac (3L-N) 1 x 0 ... 75 A dc (L-N) 1 x 0 ... ±35 A Power 3-phase ac (L-N) 3 x 140 VA at 15 A 1-phase ac (L-L) 1 x 280 VA at 15 A 1-phase ac (L-N) 1 x 420 VA at 45 A dc (3L-N) 1 x 470 W at ±35 A Range 2.5 A Setting range 3-phase ac (L-N) 3 x 0 ... 2.5 A Power 3-phase ac (L-N) 3 x 25 VA Resolution 100 µA / 1 mA in 2.5 A / 25 A range Current generators/amplifiers Accuracy Distortion (THD+N)2 Max. compliance voltage A, B

HARDWARE

general: error < 0.03% typ. (<0.1% guar.) < 0.025% typ. (<0.07% guar.) 10 Vrms , 15 Vpk

Low Level outputs “LL out 1-6” Setting range 6 x 0 ... 10 Vpk (LL out 1-6) Max. output current 1 mA Accuracy error < 0.025% typ. (<0.07% guar.) at 1 ... 10 Vpk Resolution 250 µV 2 Distortion (THD+N) <0.015% typ. (<0.05% guar.) unconventional CT/VT simulation linear, Rogowski Overload indication Yes Isolation SELV Usability Complete independent usable from the internal amplifier outputs Generators, general Frequency range Sine signals Transient signals Frequency accuracy/drift Frequency resolution Phase angle range Phase resolution Phase error Bandwidth (-3dB) Connections Amplifier outputs

Low Level outputs “LL out 1-6”

28

Analog measurement inputs (with EnerLyzer option) Supplements all ten binary inputs with analog measurement functions for voltages of up to 600 V and currents (with current clamps). Amplitude, frequency, phase, power measurement, recording and analysis of transient signals, event trigger etc.

10 ... 1000 Hz dc ... 3.1 kHz ±0.5 ppm / ±1 ppm < 5 µHz -360° ... +360° 0.001° <0.02° typ. (<0.1° guar.) at 50/60Hz 3.1kHz All signals on 4mm banana sockets on front panel; Output VL1..VL3 and N and Output IL1-IL3 and N of Group A on 8 pin amplifier combination socket 16 pin combination socket (rear side)

All voltage and current generators are continuously and independently adjustable in amplitude, phase and frequency. All current and voltage outputs are fully overload and short-circuit proof and protected against external high-voltage transient signals and overtemperature (indication in the software via error message). The generator/ amplifier circuits and mains circuits are galvanically separated. Current, voltage, dc auxiliary and binary/analog input circuits are galvanically separated from each other.

Aux. dc supply Output voltage ranges

0 ... 264 Vdc, 0.2 A 0 ... 132 Vdc, 0.4 A 0 ... 66 Vdc, 0.8 A max. 50 W error < 2% typ. (< 5% guar.) 4mm banana sockets on front panel

Power Accuracy Connection

Short circuit protected, isolated from all other galvanic groups, overload signal indication.

Output power [VA]

1-phase ac (L-L)

1-phase ac (L-N)

3-phase ac (L-N)

600

300

Output voltage [V]

Group A and B in series (CMC 256-6 only)

Sample rate Resolution Max. measuring time Counting function Galvanic isolation Max. input voltage Connection

10 inputs Toggling of potential-free contacts or dcvoltage compared to threshold voltage 0 ... ±600 Vdc threshold, or potential free ±2 mV, ±20 mV, ±200 mV, ±2 V, ±20 V in range 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 600 V (rms) 10 kHz 100 µs Infinite <3 kHz, at pulse width >150 µs 5 groups (2+2+2+2+2) 600Vrms (850Vpk) 4 mm banana sockets on front panel (combined with analog inputs)

2 100 kHz >3 µs 6V 2V ±30 V SELV 16 pin combination socket (rear side)

Break capacity ac Break capacity dc Connection

4 Potential-free relay contacts, controlled via software Vmax: 300 Vac, Imax: 8 A, Pmax: 2000 VA Vmax: 300 Vdc, Imax: 8 A, Pmax: 50 W 4 mm banana sockets on front panel

Transistor Number Type Update rate Imax Connection

4 Open collector transistor outputs 10 kHz 5 mA 16 pin combination socket (rear side)

dc voltage / dc current measuring inputs voltage measuring input range 0 ... ±10 V current measuring input ranges 0 ... ±1 mA, 0 ... ±20 mA Accuracy error < 0.003% typ. (<0.02% guar.) Connection 4 mm banana sockets on front panel

Current amplifiers 450

Input characteristic Resolution of threshold

Binary outputs Relays Number Type

85

75 150

Binary inputs Number Trigger criteria

Counter inputs 100 kHz Number Max. counting frequency Pulse width Threshold voltage Voltage hysteresis Max. input voltage Isolation Connection

Voltage amplifiers 150

Timer/measuring section

1-phase ac (L-N)

Continued on next page

Output power [VA]

300 1-phase ac (L-L)

150 3-phase ac (L-N)

12.5

25

50

75

Output current [A] Guaranteed values valid over one year within 73°F±10°F (23°C±5°C), in the frequency range of 10 ... 100 Hz at nominal value, analog measurement inputs at full-scale value. Specifications for three-phase systems under symmetrical conditions (0°, 120°, 240°). 1 The specifications are both valid for the CMC 256-6 and the CMC 256-3, except where otherwise noted. 2 THD+N: Values at 50/60Hz with 20kHz bandwidth.

HARDWARE

29

Hardware CMC 256 3 Phase / 6 Phase Test Set (continued)

CMC 256-6 EP (Extended Precision)

Analog ac+dc measuring inputs (optional, in connection with EnerLyzer1) Type ac+dc analog voltage inputs Number 10 Nominal input ranges 100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 600 V (rms) Amplitude accuracy error < 0.06% typ. (<0.15% guar.) Bandwidth dc ... 10 kHz Sampling frequency 28.44kHz, 9.48 kHz, 3.16 kHz Input impedance 500 kΩ // 50 pF Transient input buffer 3.5 s for all ten input channels at 28 kHz sampling frequency or 316 s with one channel and 3 kHz sampling frequency Current clamps Inputs usable with current clamps with voltage output or external shunt and standard current clamp Measurement functions Idc, Vdc, Iac, Vac, phase, frequency, power, energy, harmonics; Transient recording capability for all channels Input overload indication Yes Input protection Yes Max. input voltage 600 Vrms (850 Vpk) Galvanic isolation 5 groups (2+2+2+2+2) Connection 4mm banana sockets on front panel (combined with binary inputs)

The CMC 256-6 is also available with the EP (Extended Precision) hardware option. The extreme high accuracy of the voltage and current amplifiers make the CMC 256-6 EP the ideal instrument for test and calibration of the newest energy meters (up to class 0.2S according to IEC687, 0 ... 300 V threephase); for special applications like development, type testing, acceptance testing, device calibration, or product demonstration, the additional features of CMC 256-6 EP provide a complete solution.

The EP option can be ordered together with a new CMC 256-6 unit, or an existing CMC 256-6 can be upgraded to include it.

The specifications differ from a standard CMC 256-6 in the following values4: Current generators/amplifiers

General

Accuracy

Power supply Nominal input voltage Permissible input voltage Nominal frequency Permissible frequency range Power consumption2 Rated current Connection Environmental conditions Operation temperature3 Storage temperature Humidity range Vibration Shock EMC Emission

110 - 240 Vac, 1-phase 99 ... 264 Vac 50/60 Hz 45 - 65 Hz 1.2 kVA at 115 V 1.6 kVA at 230 V 10 A Standard ac socket (IEC 60320)

Certifications Weight Dimensions Miscellaneous PC-Connection CMC 56/156 SW-compatible Signal indication (LED) Ground socket (earth)

Parallel port (IEEE1284-C connector) Windows - SW (Test Universe) >42V for AUX-dc, and voltage outputs 4mm banana socket; rear side

Immunity Safety

Voltage generators/amplifiers Accuracy

Self diagnostics of the hardware upon each start-up. Automatic supervision of the voltage and current outputs while testing.

error <0.02 % typ. (<0.05% guar.)

Generators general Phase error Temperature drift

<0.005° typ. (<0.02° guar.) at 50/60 Hz 0.0025% / °C

Output power Accuracy5

0 ... +50°C (+32 ... +122°F) -25...+70°C (-13 ... +158°F) Rel. humidity 5..95%, non-condensing IEC 68-2-6 (20m/s2 at 10 ... 150Hz) IEC 68-2-27 (15g/ 11ms half-sine) CE conform (89/336/EEC), EN 61326-1 EN 50081-2, EN 61000-3-2/3 FCC subpart B of Part 15 Class A EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/5/6/11 EN 61010-1, EN 60950, IEC 61010-1, UL 3111-1 CAN/CSA-C22.2 No 1010.1 TÜV-GS; UL,CUL 15.7 kg (34.8 lb.) 450 x 145 x 390 mm (17.7” x 5.7” x 15.4”)

error <0.02 % typ. (<0.05% guar.)

temperature drift

error <0.05% typ. (<0.1% guar.) related to set values (relative error) at 0.1 … 12.5 A (current amplifier group A or B, 50/60 Hz) and 50 … 300 V <0.001%/°C typ. (<0.005%/°C guar.)

Guaranteed values valid over one year within 23°C ±5°C (73°F ±10°F) in the frequency range of 10 … 100 Hz. Specifications for three-phase systems under symmetrical conditions (0°, 120°, 240°). 1 Up to three inputs can be used for measuring rms values without the EnerLyzer option. 2 For line input voltages below 150V, a derating of the simultaneously available sum output power of the voltage/current amplifiers and the AuxDC will occur. All other technical specifications (e.g. the maximum output power of a single amplifier) are not affected. 3 For an operational temperature above +30°C a duty cycle of up to 50% may apply. 4 All other specifications are completely equivalent to the data given for the CMC 256-6 standard unit. 5 Permissible load current outputs: Range 1.25 A: 0 … 1 Ω and max. 1 VA, cos ϕ = 0.5 … 1 Range 12.5 A: 0 … 0.5 Ω and max. 6 VA, cos ϕ = 0.5 … 1. Permissible load voltage outputs: max. 10 VA at 50 … 300 V, cos ϕ = 0.5 … 1.

30

HARDWARE

Eng. Geraldo M. Aoun______QuickCMC/State Sequencer/Ramping_________29/09/96______Página 1

CURSO CAIXA DE TESTES OMICRON

RELÉ DE SOBRECORRENTE NÃO DIRECIONAL

1. QuickCMC 1.1 - Dados do Relé Ajustes do Relé Valor de Pickup Curva Característica Dial de Tempo Pickup Instantâneo (I>>) Tolerância para Pickup/Dropout

1.2 - Configuração do Hardware

Fase-Neutro 0,36 x Inom ou 1,8 A Very Inverse (VI) 1 5,5 x Ipickup ± 5% = ± 0,9 A


1.2.1 - Ajuste a tensão para “not used” e a corrente para 3 x 12,5 A, como mostrado na figura acima. Confirme a seleção clicando em OK. 1.2.2 - Clique em “Analog Outputs”

1.2.3 – Defina os nomes para cada sinal de corrente, por exemplo IA, IB, IC, IN e Jumpers. 1.2.4 - O terminal de conexão no relé pode ser especificado na terceira coluna. 1.2.5 – Selecione com “X” nas colunas para IA, IB, IC e IN para especificar quais saídas da CMC são conectadas com o terminal do relé. 1.2.6 – Clique em “Binary / Analog Inputs”

1.2.7 – Defina a entrada binária 1 como “Start” , entrada binária 2 como “Trip”, entrada binária 3 como “Trip 3 phase” e entrada binária 4 como “entrada binária 4”. Em Display Name preencher como “Start”, “Trip L-L”, “Trip L-N” e “Inst”. 1.2.8 – Selecione com X as respectivas entradas binárias (conforme ligação) 1.2.9 – Defina as entradas binárias de 1 a 4 como “Potential free” através da seleção do check box. Se utilizarmos contatos com tensão, o nivel de trigger para cada entrada pode ser especificado separadamente.


1.3 – Teste de Valôres de Pickup L-N

1.3.1 – Entre com as correntes 1, 2 e 3 iguais a zero 1.3.2 – No campo “Step” na opção “Triple” , selecione a opção CMC256-6I A 1.3.3 – No campo “Quantity” escolha a opção I1 1.3.4 – No campo “Size” preencha o valor 0,020 A (Step) 1.3.5 – No campo “Time” entre com o valor de 1,00 s 1.3.6 – Marque a opção Auto Step 1.3.7 – Clique no botão “On/Off” para ligar a saida de corrente da CM 256-6 e clique na set acima. 1.3.8 – A fase A de corrente irá aumentar gradativamente até que a entrada binária do sinal de trip “start” opere. 1.3.9 – Isso irá acontecer para o valor de corrente da figura acima (1.8 A). Para anexar este dado ao relatório de teste, clique em “Add to report” 1.3.10 – No campo “Title” digite Teste PickUp Fase-Neutro, insira os comentários no campo “Comment” , e em seguida classifique o resultado do teste como “Passed” ou “Failed”.


1.4 – Teste de Valôres de DropOut

L-N

1.4.1 – Clique na seta abaixo na tela do QuickCMC 1.4.2 – A fase A de corrente irá diminuir gradativamente até que a entrada binária do sinal de Trip “Start” desopere. 1.4.3 - Isto irá acontecer para o valor de corrente de 1,720 A, para anexar este dado ao relatório de teste, clique en “Add to report”. 1.5 – Teste da curva de corrente x tempo (fase – neutro) 1.5.1 A figura abaixo mostra o teste para 2 x Ipickup. 1.5.2 Desmarque as entradas binárias 1 e 2 deixando a caixa com o trigger somente para o trip fase neutro. 1.5.3 Clique no botão “On/Off” para ligar as correntes de saída da CMC 256 1.5.4 Clique no botão “Hold Values” para congelar a saída da CMC na configuração presente. 1.5.5 Entre agora com o valor de 3,6 A no campo da fase A 1.5.6 Clique novamente no botão “Hold Values” para descongelar a saída da CMC e aplicar a nova configuração. 1.5.7 Observe a resposta da entrada binária 3 para o tempo de trip. 1.5.8 Para capturar os dados do teste para o relatório, clique no botão “Add to Report” . 1.5.9 Reseteie a corrente para 0 A, e repita o teste usando 3 X Ipickup (5,4 A) e 4 X Ipickup (7,2 A).


1.6 - Teste de Pickup instantâneo 1.6.1 Desmarque a entrada binária 3 e marque a entrada binária 4 (Instantâneo) 1.6.2 No campo “Step” na opção “Triple” , selecione a opção CMC256-6I A 1.6.3 No campo “Quantity” escolha a opção I1 1.6.4 No campo “Size” preencha o valor 0,05 A (Step) 1.6.5 No campo “Time” entre com o valor de 1 s. 1.6.6 Selecione a caixa “Auto-Step” 1.6.7 Clique no botão “On/Off” para ligar a saída de corrente da CMC 256. 1.6.8 Clique na seta acima. O teste irá iniciar até o trigger parar o teste. 1.6.9 Observe o resultado do teste : 1.6.9.1 1.6.9.2

O Pickup instantaneo é 9,9 A O tempo de operação instantâneo é de 0,08 s.

1.6.10 Para capturar o dado do teste, clique em “Add to Report”

2. State Sequencer 2.1 Teste de Pickup e Droupout


2.1.1 Ajuste a corrente da fase A para 1,6 A. 2.1.2 Escolha a opção “Trigger” em “Detail View” 2.1.3 Em “Binary Trigger Condition” selecione a logica “1” para a condição de trigger “start” 2.1.4 Clique em “New State Icon” ou selecione “Edit | Insert State” . Sera copiado o estado 1 com todos seus ajustes para o estado 2. 2.1.5 Edite o tempo do estado 2 para “0,2 s” 2.1.6 Incremente os valores de corrente de 0,1 A para IA mantendo IB e IC iguais a zero. 2.1.7 Repita os itens 2.1.3 a 2.1.5 e incremente os valores de corrente da fase A até 1,9 A 2.1.8 Clique em “New State” ou selecione “Edit | Insert State” para criar o estado 5 l 2.1.9 Decresça o valor de corrente de 0,1 A para a fase A 2.1.10 Mude a logica de trigger “Start” no “Trigger Tab” para lógica “0” . 2.1.11 Repita os ítens 2.1.7 e 2.1.8 até a corrente IA for igual à 2,0 A. 2.1.12 Clique em “New State” ou selecione “Edit | Insert State” para criar o estado 8 2.1.13 Ajuste todas correntes em zero e o tempo para 1 s. 2.1.14 Desmarque a caixa “Binary trigger condition” , deixando somente “maximum state time” ativo.

State 1 2 3 4 5 6 7 8

Fase A 1,6 A 1,7 A 1,8 A 1,9 A 1,8 A 1,7 A 1,6 A 0A

Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Trigger Start = 1 Start = 1 Start = 1 Start = 1 Start = 0 Start = 0 Start = 0 Nenhum


2.1.15 Selecione a opção “Measurement View” 2.1.16 Na primeira linha do Measurement Vies 2.1.16.1 Entre com o nome para o teste “L-L PUV” 2.1.16.2 “Ignore Before” ajuste para “state 2” Isto significa que todos os estados antes deste serão ignorados. 2.1.16.3 “Start” Ajuste para “State 2”. Isto indica o primeiro estado onde a corrente muda e o relé da trip. 2.1.16.4 “Stop” Ajusta para “Start 0>1” . Isto indica que a entrada binária “Start” passa da lógica “0” para a lógica “1” . 2.1.16.5 “Tnom” Ajuste para “0,400 s

Levantamento da curva corrente x tempo

Estado Pre falta 2 x L-N 2 x PUV L-N Pre falta 3x L-N 3 x PUV L-N Pre falta 4 x L-N 4 x PUV L-N Dead state

Fase A 0,0 A 3,6 A 0,0 A 5,4 A 0,0 A 7,2 A 0,0 A

Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Trigger Trip L-N =X Trip L-N =1 Trip L-N =X Trip L-N =1 Trip L-N =X Trip L-N =1 Nenhum


Teste de Pickup instantâneo

Estado Inst L-N #1 Inst L-N #2 Inst L-N #3 Inst L-N #4

3

Fase A 9,7 9,8 9,9 10

Fase B 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

Fase C 0,0 A 0,0 A 0,0 A 0,0 A

– Ramping

3.1 – Teste de Pickup, Dropout e intantâneo

Trigger Inst = 1 Inst = 1 Inst = 1 Inst = 1


3.1.1 No modulo Ramping Test View, defina quatro rampas consecutivas clicando no ícone correspondente “Four Ramp States” . 3.1.2 Selecione IA no menu “drop-down” Signal 1 3.1.3 Selecione Amplitude no menu “drop-down” Function 3.1.4 Use a toolbar de navegação para mudar de estado 3.1.5 Entre com os dados para a avaliação conforme mostrado abaixo.

3.1.6 Escolha a opção “General” no Test View e entre com o numero de repetições que voce deseja. Se optar por “0x” o teste será executado uma única vez. 3.1.7 Selecione “State 1 Signal 1” no campo “Ratio Calculation”. O Ratio Calculation automaticamente irá calcular o pickup e o dropout do relé.


3.1.8 Todos os valôres que são estáticos durante a saída da rampa são definidos no “Analog Outputs” no Detail View. Os valôres da rampa são mostrados com fundo cinza; os valôres estáticos são mostrados em fundo branco ou amarelo. Voce pode editar os valôres estáticos manualmente.


3.1.9 Para o state 1 entre com IA =1,6 A, como mostrado acima. 3.1.10 Para o state 2 entre com IA = 2 A 3.1.11 Para o state 3 entre com IA = 0 A 3.1.12 Para o state 4 entre com IA = 9 A 3.1.13 É necessário informar os contatos que irão operar para o pickup e para o dropout do relé. No exemplo acima, o contato de partida é conectado na entrada binária 1 e chamado de “start. 3.1.14 Selecione a opção “Trigger” no detail view 3.1.15 Habilite as condições de trigger selecionando “Binary trigger condition”. As condições de trigger são definidas individualmente para cada estado da rampa. 3.1.16 Durante o estado 1, o contato de partida (start) irá fechar (passando do estado 0 para o estado 1). Consequentemente, A condição de trigger deve ser ajustada para “Start = 1” para o estado 1.

3.1.7 No campo “On Trigger” selecione a opção Stop Ramp State. Desta forma, a rampa será parada após a condição de trigger acontecer, acelerando portanto o teste. 3.1.8 A opção “Step Back” habilita a sub-rampa para ser executada sendo possível uma maior precisão em ensaios de pickup.


3.1.9 Ajuste a condição de trigger “Start =0” para o estado 2 3.1.10 Para o estado 3 não selecione nenhum trigger 3.1.11 Ajuste a condição de trigger “Inst = 0” e “Start = X” para o estado 4. Marque a caixa de verificação “stop ramp State” para os estados 2 e 4, deixando-os sem delay time.

©Eng. Geraldo M. Aoun______________ GE-UR-D60__________________27/05/02_________________Página 1


RELÉ GE UR – D60 1. Ligações do Relé


1. Ajustes e Cálculos 1.1 – FASE-FASE


1.2 – FASE-NEUTRO





2. Construção das curvas características utilizando o software CMC


ZONA 1 – MHO

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1 SHAPE MHO

PHS DIST Z1 REACH 2 OHMS

PHS DIST Z1 RCA 85 GRAUS


ZONA 1 – QUADRILATERAL – (FASE-FASE) PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

SHAPE

REACH

RCA

QUAD

10 OHMS

85 GRAUS

PHS DIST Z1 RGT BLD

PHS DIST Z1 RGT BLD RCA

10

85O

PHS DIST Z1 LFDT BLD 10

PHS DIST Z1 LFT BLD RCA 85O


ZONA 1 – MHO – (FASE-TERRA)

GND DIST Z1

GND DIST Z1 SHAPE MHO

GND DIST Z1 REACH 2 OHMS

GND DIST Z1 RCA 85 GRAUS


ZONA 1 – QUADRILATERAL – (FASE-TERRA)

GND DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

PHS DIST Z1

SHAPE

REACH

RCA

QUAD

2 OHMS

85 GRAUS

PHS DIST Z1 RGT BLD

PHS DIST Z1 RGT BLD RCA

10

85O

PHS DIST Z1 LFDT BLD 10

PHS DIST Z1 LFT BLD RCA 85O

©Eng. Geraldo M. Aoun_______________7SA511______________________10/04/01_________________Página 1

3. TESTES 3.1 - Zone Settings

3.1.1 – As tolerâncias para cada teste (fase-terra AN-BN-CN , fase-fase AB-AC-BC e trifásico A-B-C), devem ser ajustadas nesta tela. 3.1.2 – Valores típicos para o tempo e tolerância da impedancia para relés numéricos são de 5% para a impedancia relativa e 10% para o tempo relativo. A tolerância para a impedancia absoluta deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerância de tempo deve ser ajustada para 2.5 ciclos.

3.2 – Default test settings . São incluídos na metodologia de teste. Os “teste settings” normalmente não precisam ser redefinidos para cada novo teste. Estes ajustes são independentes dos ajustes dos


relés. Se os ajustes dos relés são importados/exportados, estes ajustes não são afetados.

3.3 – System Settings


O sistema de teste precisa conhecer alguns parâmetros gerais do dispositivo de proteção para efetuar o teste com sucesso. Esses parâmetros são válidos para todas as zonas. 3.3.1 – Line angle Angulo da linha 3.3.2 – PT connection

Conexão do TP no lado da linha

Tensão Pós – Falta V = 0 V

Conexão do TP no lado da barra

Tensão Pós – Falta

V = VN

3.3.3 – CT Startpoint

Em geral a corrente que flue em direção ao objeto a ser protegido é definida com direção para a frente. Para o relé de distancia esta corrente flue na direção da linha. TC aterrado no lado da linha

TC aterrado no lado da barra


Para a corrente primária fluindo em direção da linha e aterrando os TC’s no lado da linha, a corrente secundária flue para o relé. Se os TC’s são aterrados no lado da barra, a corrente flue para fora do relé para a mesma corrente primária. Ela esta fluindo na direção oposta ou tem 180 graus de defasagem. Especificando a direção do aterramento dos TC’s, as correntes de falta são injetadas na direção correta.

3.3.5 – CB simulation

Na seqüência de trip CB, a injeção das quantidades para o teste é estendida após a condição de trip ser recebida. Na seqüência de fechamento CB, o inicio da quantidade de teste é atrasada após o comando de fechamento CB ser emitido. Ambos tempos são sempre aplicados. Os parâmetros 52a% e 52b% são usados para a simulação de contatos auxiliares de CB para seqüências de trip e close. As figuras mostradas abaixo, mostram a dependência do tempo dos contatos 52a and 52b.


A simulação dos contatos auxiliares CB é somente aplicada se a simulação de CB é selecionada no “Test View” e as saídas binárias correspondentes são configuradas na configuração do hardware. 3.3.5 - Tolerances Valores típicos para o tempo e tolerância da impedancia para relés numéricos são de 5% para a impedancia relativa e 10% para o tempo relativo. A tolerância para a impedancia absoluta deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerância de tempo deve ser ajustada para 2.5 ciclos. O tempo de trip é uma quantidade importante quando compara valores nominais e atuais. Para realizar isto, o máximo valor derivado da tolerância de tempo absoluta ou relativa é usada. Para a tolerância do tempo de trip, o maior entre cada tolerância de tempo, valor positivo ou negativo, absoluto ou relativo é usado. A tolerância de tempo relativa atual é determinada para cada tempo de trip gravado. Se a tolerância relativa não é requerida, especificar o menor valor (p.ex. 0.1 %). Para a avaliação do tempo de trip, o teste deve ser feito e o tempo de trip nominal é comparado. Se o desvio abaixar dentro da banda de tolerância especificada o teste é classificado como OK. Para a tolerância da impedancia o maior valor entre a tolerância absoluta ou relativa é usada. A faixa de tolerância relativa atual é determinada para cada zona sobre o angulo da linha. A maior tolerância de impedancia é aplicada uniformemente (p.ex. paralelo a cada lado em toda direção ao redor da característica nominal) para produzir a faixa de tolerância mostrada.

3.3.6 – Grounding Factor


O “grounding factor” (ou fator de compensação para falhas à terra) compensa a diferença entre impedancias de falha à terra e impedancia para falhas entre fases medida pelo relé. Isto é aplicado somente para falhas monofásicas entre fase e terra. Vários caminhos para entrar com esse fator são disponíveis para uma entrada simples do parâmetro diretamente do ajuste do relé. RE/RL ou XE/XL KL = ZE/ZL = 1/3 (Z0/Z1 – 1 ) Z0/Z1 Z0 representa a impedancia de seqüência zero enquanto Z1 a impedancia de seqüência positiva da linha protegida. ZE é o alcance para falhas à terra (sem compensação) enquanto ZL é o alcance para falha fase do relé.

3.3.7 – Separate arc resistance Quando calculamos a impedancia a partir da tensão e corrente medidas, alguns relés consideram a resistência de arco separadamente da porção da impedância da linha. O relé assume que qualquer valor de impedancia de falta que desvia do angulo de impedancia da linha é devido a resistência de arco puramente resistiva. Adicionalmente estes relés consideram a resistência de arco como uma resistência de loop (por exemplo a resistência de arco total no loop de falta), e não como uma resistência de seqüência positiva. Usando o diagrama do circuito equivalente para uma falha fase-terra, Temos : Ztest = ZL + kL*ZL + RF. Ztest é a impedancia de loop. Porque o diagrama R/X é um diagrama de seqüência positiva, Ztest poderá ser convertido numa impedancia de seqüência positiva. ZL é a impedancia de seqüência positiva de ZL(1 + kL). A resistência de arco RF precisa ser convertida para uma resistência de seqüência positiva usando a função “Resistência de arco separada” : RF’= RF/(1 + kL). A impedancia de teste de seqüência positiva Ztest’ é igual a ZL + RF’, que pode ser plotada no diagrama R/X. Ztest’é então usada para calcular as quantidades para o teste, a serem injetadas usando a impedancia normal do relé. Portanto o Checkbox Para faltas fase-terra somam o valor RF/(1+kL) ao valor correspondente da impedancia


ZL. ZL é derivado pela projeção da parte reativa de Ztest para o angulo da linha. Finalmente Ztest’é usado em vez de Ztest para calcular as quantidades do teste.

3.3.8 – Impedance in primary values Em adição as entradas comuns em valores secundários, as impedancias podem também ser entradas com valores primários. Isto é feito selecionando a caixa “Impedance in primary values” Selecione esta opção para entrar com as impedancias em valores primários. Estes valores são convertidos para valores secundários aplicando a seguinte equação : Zsec = ( CTratio / PTratio ) * Zprim

3.3.9 – Impedance correction 1 A / I nom

Se a corrente nominal do relé é 5 A , o calculo da impedancia é tratado diferentemente para alguns relés. Se a equação para o calculo da impedancia usa “múltiplos da corrente nominal” para determinar a impedancia, esta opção deverá ser selecionada

Z = Vtest / Itest / Inom

Se a equação da impedancia calcula a impedancia independentemente da corrente nominal, esta opção não deverá ser selecionada.

Z = Vtest / Itest


3.4 - Device Settings

Device Entrada de dados do elemento protegido Substation Nome e endereço da subestação onde o elemento esta localizado. Bay Entre com o endereço e o nome do bay onde o elemento esta localizado Nominal Values Entre com os valores nominais (tensão, corrente, freqüência, corrente primária e tensão primária e numero de fases) Para o teste de relés convencionais, a corrente nominal ( 1 ou 5 A ) tem de ser ajustada aqui. Residual Voltage / Current factors Esses parâmetros somente são relevantes se o relé tem transformadores de potencial / corrente separados para a tensão / corrente residual ( para o aumento da sensibilidade). A relação desses transformadores separados em relação à relação dos transformadores das fases é expressa com um fator que será ajustado aqui.


Os ajuste padrão são : VLN / VN = 1.732 / 1 , como a tensão de fase forma a tensão residual na conexão delta aberto, e IN / Inom = 1 Esses fatores são suportados pelos módulos de Distancia e Distancia Avançado.

Limits Entre com os máximos valores de tensão e corrente, que o dispositivo de teste é capaz de fornecer (máximos valores possíveis são determinados pelo teste de hardware)

Debounce / deglitch filters Entre com os tempos de Debounce e Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses valores são usados onde os sinais do algoritmo de suavização são implementados.

1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal após o filtro


3.5 – Parametrização dos testes 3.5.1 – Selecionar a opção Search

O objetivo deste teste é determinar o exato alcance das zonas individuais aplicando “shots”ao longo da linha de busca. O numero de “shots” é calculado automaticamente usando o valor parametrizado em “search resolution”. Os valores de impedancia encontrados das zonas são mostrados. Uma comparação automática dos valores nominais e atuais podem ser feitas se o módulo de teste é informado dos parâmetros do relé.

3.5.1.2 - Clicar no botão “Sequence” 3.5.1.3 – Definir os valores de Start angle, End angle e Angle step 3.5.1.4 - Definir ou o numero de steps ou Step angle 3.5.1.5 - Definir o valor de Lenght como relativo e preencher o valor de %Zone como 140% de ZA 3.5.1.6 - No campo Fault types escolher a opção All 3.5.1.7 - Pressionar o botão OK 3.5.1.8 – Os pontos a serem testados para todos os tipos de faltas com as respectivas tolerâncias estão definidos na figura abaixo.



3.5.2 – Selecionar a opção trigger

Irão aparecer nesta opção todos os contatos que foram definidos na configuração do hardware do equipamento de teste (Binary/Analog input). A opção AND faz com que para haver sinal de entrada para a caixa seja necessário que todas as entradas sejam satisfeitas conforme configurado. A opção OR faz com que para haver sinal de entrada para a caixa seja necessário que apenas uma entrada seja satisfeitas conforme configurado. Cada contato pode ser configurado da seguinte forma : 1 0 X

Contato tipo a Contato tipo b desabilitado

3.5.3 – Selecionar a opção Settings


3.5.3.1 – Ajustar o tipo de teste – “Corrente Constante” 3.5.3.2 – Ajustar a corrente de teste – 2A 3.5.3.3 – ajustar o tempo de pré falta e pós falta Pré falta = 0.5 s Máximo tempo de falta = 4 s (garantir que o máximo tempo de falta seja ajustado por um tempo maior que o retardo do elemento de trip do relé. Pós falta = 0.1 s (este ajuste deve ser aumentado para relés eletromecanicos para permitir que o relé reseteie corretamente) 3.5.3.4 – Ajuste de fault inception mode : O angulo de fase da tensão e consequentemente o angulo da corrente de falha através da opção “fault inception” pode ser especificado. Além da simulação da falta permanente, é possível simular o comportamento do transitório de offset DC que resulta da simulação do modelo especifico RL. Para isso é necessário selecionar o checkbox DC-Offset. O angulo especificado em fault inception é definido em referencia à tensão de curto circuito. Isto depende do tipo da falha selecionada (monofásica, bifásica, trifásica). As seguintes opções são disponíveis : Random O angulo do inicio da falta é calculado para cada teste aleatoriamente Fixed angle O angulo de inicio da falta pode ser livremente ajustado. Se a caixa DC-offset esta ativada, a simulação do DC-offset é feita. Maximum offset O angulo de inicio da falta é escolhido tal que o máximo positivo e o máximo negativo DC – offsets são simulados para prevenir a saturação dos TC’s de entrada do relé. O máximo offset positivo presente no angulo do inicio da falta, é igual ao angulo de impedancia menos 90 graus. O máximo offset negativo presente no angulo de inicio da falta é igual a angulo de impedancia mais 90 graus. Zero offset Neste modo o angulo de inicio da falta é igual ao angulo de impedancia. Nenhuma componente DC esta presente, fora para faltas trifásicas, onde nenhuma offset DC esta presente na fase A.

3.5.3.5 – Allow reduction of Itest Se o modelo de teste com corrente constante é selecionado e a tensão de teste calculada exceda a tensão nominal do relé, uma mensagem “Out of Range” é sinalizada.


Igualmente se o teste com tensão constante é selecionado e a corrente calculada exceda o máximo valor de corrente especificada para o relé a mesma mensagem é sinalizada. Se esta alternativa é selecionada, a tensão ou corrente de teste é automaticamente adaptada de forma a fazer o teste para qualquer Zteste possível. A corrente ou tensão de teste usada é mostrada no relatório.

3.5.3.6 - Time reference Os seguintes ajustes são possíveis Fault inception Starting O tempo de trip de um relé de proteção é o tempo medido desde o inicio da falta até o comando de trip do relé ser enviado. Este tempo é registrado como Time reference = Fault inception. Outro modo de medir o tempo do Delay dos elementos, é medir o tempo desde a partida do contato de pick-up até o comando de trip ser enviado. Este é o tempo de delay atual do temporizador interno, excluindo-se o tempo de pick-up do relé, este tempo é registrado como Time reference = Starting. Selecionando a referência de tempo partida requer que um contato de partida do relé seja conectado e configurado no sistema de teste. Os sinais seguintes na configuração de hardware são automaticamente identificados : START, START A, START B, START C. Para relés de seleção de fase, a partida de fase correspondente é usada para faltas monofásicas e o contato de partida mais rápido é usado para faltas polifásicas.


3.5.3.7 – Ignore nominal characteristics e search resolution No modo “Search”, a precisão e o numero de “shots” durante o teste depende do ajuste colocado em “search resolution” A busca para o alcance de impedancia atual é parado, se a diferença da impedancia entre dois consecutivos “shots”, ambos identificados em diferentes zonas, for menor que o ajuste de “search resolution”. O maior de cada um dos valores de “search resolution”, (absoluto ou relativo) é aplicado.

Z1 ACT

Trip em t1

Trip em t2 Max (Abs,rel) Tolerance band Z1 nominal

Quando estiver efetuando um teste de busca em uma característica nominal conhecida, o “shot” inicial para busca dos alcances de zona são colocados no limite de tolerância do alcance da zona. Se a característica não for conhecida, que seria o caso de nenhuma zona ser definida para o relé, então os “shots” iniciais são colocados em distancias fixas, de acordo com o valor definido no ajuste de “search interval” na linha de busca. Se o alcance da zona é esperada entre dois “shots”, então o teste é feito acima do valor especificado de “search resolution”. Ainda que as zonas tenham sido definas para o relé, a opção de ignorar a característica nominal pode ser usada para realizar o mesmo procedimento da característica desconhecida. . 3.5.3.8 – Extended zones active Inicialmente vamos definir o que são as zonas de proteção : Zona de Trip - É o tipo mais comum, tem um tempo de trip correspondente a ele associado.


Zona de Partida - É normalmente exterior a todas as zonas de trip, tem um tempo de pickup associado. Se a zona de partida for dividida em elementos não direcionais e direcionais (forward), é necessário entrar com duas zonas separadas. Zona estendida – Similares às zonas de trip, entretanto somente estão ativas se a opção “extended zones active” estiver selecionada. Zona de não trip – Pode ser usada como zona de informação (power-swing p.ex.), ou para definir seções de zonas de trip onde o trip não é permitido ( área de load encroachment).

Para testar as zonas de sobrealcance ou estendidas, as zonas relevantes devem primeiro ser definidas como zonas estendidas na caixa de dialogo da “zone management”. Selecionando “Extended zones active”, as zonas estendidas são mostradas na figura. Os resultados do teste são também comparados com as zonas definidas como zonas estendidas. Note que no relé, as zonas estendidas são normalmente ativas somente por um período limitado de tempo (por exemplo durante o religamento automático) ou trabalham em conjunto com um contato de entrada do relé (por exemplo esquemas de teleproteção ou comando de fechamento manual para o CB). Se uma saída binaria for configurada como “Ext. zones active” na configuração de hardware, esta saída pode ser usada para simular aquele contato do relé. A temporização da saída binária pode ser ajustada na pagina de configuração do trigger. A simulação do contato e ajuste do tempo podem somente ser acessados se as a seleção das “Extended Zones” estiver ativada.

3.5.4 – Selecionar a opção Shot O objetivo deste teste é checar os alcances das zonas individuais e seus tempos de trips usando quaisquer pontos de teste. A medição do tempo de trip é mostrada como resultado. Uma comparação automática dos valores nominais e atuais podem ser realizados se o módulo conhece os parâmetros do relé. O procedimento completo para teste é baseado nos seguintes itens : 3.5.4.1 – Definição dos pontos de teste Primeiro, defina o tipo de falta


Entrada de dados numérica

É também possível definir os pontos de teste como valores absolutos de impedancia pela marcação no checkbox “Absolute” ou relativo, pela desmarcação do checkbox. Pontos de teste relativos estão situados na linha especificada pelo angulo Phi e referese a intersecção com a borda da zona nominal selecionada no “Zone drop down menu”.

Para adicionar pontos de teste na lista de pontos de teste para o tipo de falha selecionada, clique em “Add”. Clicando em “Add to...” adicione pontos de teste para diversos tipos de falta. Para remover pontos de teste da lista, clique em “Remove” (para o tipo de falha selecionado) ou “Remove All” (para todos os tipos de falha). Selecionando os pontos de teste no plano de impedância Clique no botão esquerdo do mouse no plano de impedancia e selecione a impedancia do ponto de teste. Pressione “Add” para adicionar o ponto de teste à lista de pontos de teste. Clique na tecla Ctrl + botão esquerdo do mouse no plano de impedancia para adicionar o ponto selecionado diretamente à lista de pontos de teste. Clicando no botão direito do mouse no plano de impedâncias o menu contextual para o gráfico é aberto.


Zoom ativa a função de ampliação do gráfico

3.5.4.2 – Início do teste de “Shot” A premissa básica para o sucesso do teste é a correta configuração do hardware do dispositivo a ser testado e a definição das corretas condições de Trigger (item 3.5.2). Teste com um “Shot” individual As correntes e tensões correspondentes ao tipo de falta selecionada são aplicadas ao relé. Para iniciar o teste click em ou selecione “Test / Single Test” É também possível iniciar o teste diretamente do plano de impedancias ou diagrama Z/t , pelo posicionamento do mouse no plano de impedancias e pressionando “Shift + botão esquerdo do mouse”. Teste com uma lista de “Shots” Para todos os tipos de faltas, as correntes e tensões correspondentes para cada shot definido no ponto de teste é aplicado ao relé. Para iniciar o teste clique em ou selecione “Test / Start/Continue”. A execução do teste pode ser pausada clicando on Pause”. Clicando em

ou selecionando “Test /

ou selecionando “Teste / Stop” o teste é interrompido. Para

limpar o resultado do teste e permitir um novo teste clique em

ou selecione

“Test / Clear”. Lembre : Antes de um novo teste ser iniciado, os resultados dos testes antigos devem ser limpos

3.5.4.3 – Avaliação do teste de “Shot” Análise do teste na tela


A janela de resultados para o teste de shot, contém informações sobre o tempo de trip medido para a corrente do ponto de teste na lista de pontos de teste e sobre o resultado da avaliação automática.

Passed 1.

failed

2.

not tested

3.

out of range (Zmin > |Z| > Zmax)

Se o modelo de teste com corrente constante é selecionado e a tensão calculada excede a tensão nominal do relé, a mensagem mostrada para este teste é “Out of Range”. Igualmente se a tensão de teste constante é selecionada e a corrente calculada excede a máxima corrente especificada para o relé, a mensagem mostrada para este teste é “Out of Range”. Se o checkbox é selecionado, a corrente de teste (ou tensão) é automaticamente adaptada de forma a fazer o teste para qualquer Zteste possível. A corrente de teste (ou tensão) usada é mostrada no relatório. Quando o teste para grandes alcances for executado, a corrente de teste injetada deverá sempre ser maior que a mínima corrente de pick-up para o relé. Se o relé utiliza a tensão dependente da corrente de partida, assegure que a tensão de teste seja sempre menor que a tensão ajustada de pick-up.

Análise na lista de pontos de teste . Em adição aos parâmetros de teste (R, X, Z, phi, I, V ...) os tempos atuais e nominais de trip são mostrados. De maneira a obter uma vista específica do usuário diferente da vista standart, clique o botão direito do mouse na lista de pontos de teste para abrir um menu contextual podendo as colunas serem mostradas ou escondidas. A largura das colunas podem também ser ajustadas.

Na primeira coluna o resultado é mostrado imediatamente após a teste usando diferentes símbolos. Esses símbolos são mostrados abaixo :


3.4.4 – Selecionar a opção Check Análise Gráfica No plano de impedancias, os pontos de teste são mostrados usando os mesmos símbolos como nas colunas da lista dos pontos de teste. O progresso do teste pode ser facilmente monitorado. Clicando o botão direito do mouse no plano de impedâncias o menu contextual é aberto para o gráfico que da acesso aos ajustes do gráfico do plano de impedancias.

Análise no relatório do teste O relatório do teste é mostrado clicando no botão Report.

ou selecionando a opção View /

O exemplo acima mostra como o relatório de teste mostra os dados de cada ponto de teste, os valores nominais e atuais dos tempos de trip e a avaliação automática. O teste foi feito para falhas do tipo L1-E (fase L1 à terra) e L2-E (fase L2 à terra). Devido ao usuário poder modificar o conteúdo do relatório para que contenha seu requisitos especiais, informações adicionais podem também ser mostradas após o teste ser completado.


3.5.5 – Selecionar a opção Check

O plano de impedancias é usado com vista para o teste. As tensões e correntes são calculadas automaticamente. O objetivo do teste é checar os alcances e tempos de trip das zonas individuais acima e abaixo do alcance. Isto é feito usando dois “shots” para cada zona. Esta é a principal modificação no procedimento do teste de “shot” onde os pontos de teste são automaticamente ajustados na linha de check. O resultado mostra o tempo nominal e atual de trip bem como a sua avaliação. O teste somente é possível se a característica nominal é especificada. O procedimento completo é baseado nos seguintes itens :

3.5.5.1 – Definição das linhas de check

Primeiramente selecione o tipo de falta para o qual o teste será executado. Entradas numéricas : A linha de check é definida pela origem ( que pode ser definida em coordenadas polares ou retangulares) e angulo.

O comprimento da linha de check pode ser definido até a impedancia relativa ou absoluta (relacionada para uma das zonas).

Se o teste será executado ao longo de várias linhas de check, múltiplas linhas de check podem ser adicionadas à lista de linhas de check pela seleção da opção Add (para o tipo de falha selecionada). Se a linha de check for usada para vários tipos de falhas, selecione Add to... Para remover linhas de check da lista, clique em Remove (para o tipo de falha selecionada) ou Remove All ( para vários tipos de falhas). A opção Sequence permite a entrada de várias linhas de check com steps de ângulos uniformes usando o mesmo ponto de origem. Selecionando no plano de impedancias :


Botão esquerdo + arrastar ( enquanto o botão estiver pressionado) para definir a linha de check. (use Add para adicionar o item à lista) Ctrl + botão esquerdo + arrastar para adicionar a linha de check diretamente à lista de linhas de check. Clicando o botão direito do mouse no plano de impedâncias o menu contextual é aberto para o gráfico que da acesso aos ajustes do gráfico do plano de impedancias.

3.5.5.2 – Inicio do teste de check A premissa básica para o sucesso do teste é a correta configuração do hardware do dispositivo a ser testado e a definição das corretas condições de Trigger (item 3.5.2). Teste ao longo da linha de corrente O teste é executado para o tipo de falha selecionada e somente ao longo da linha de check selecionada. Para iniciar este teste clique em ou seleciona Test / Single Teste no menu. É também possível para iniciar o teste diretamente do plano de impedâncias pelo posicionamento do mouse no plano de impedancia e pressionando-se Shift + botão esquerdo do mouse. Teste ao longo de várias linhas Para todas as linhas especificadas, os tempos de trip para cada ponto de teste são medidos um após o outro e comparados com os valores nominais e atuais. Para partir este teste clique em

ou selecione Test / Start/Continue e menu.

O andamento do teste pode ser paralisado pressionando-se o botão selecionando Test / Pause no menu. Clicando em

ou

ou selecionando Test / Stops o

teste é encerrado. Para limpar o resultado do teste e executar um novo teste clique em ou selecione Test / Clear no menu. Lembre-se : Antes de iniciar um novo teste os resultados do teste anterior deverão ser limpos. 3.5.5.3 – Avaliação do teste de “check” Após a execução do teste as seguintes análises possíveis são disponíveis :

Análise da lista de linhas de check


Devido á cada linha incluir vários testes de shots em diferentes zonas, não é possível mostrar resultados detalhados aqui. Em vez disso, a origem e o angulo de busca são usados para identificar o teste. A largura das colunas podem ser ajustadas. Colunas podem também ser escondidas pela seleção da mesma e pelo botão direito do mouse. Um menu contextual é aberto que mostra as várias opções. As colunas de estado mostram os resultados da avaliação de um específico teste de check com diferentes símbolos, mostrados abaixo :

Análise gráfica No plano de impedancias os pontos de teste são mostrados usando os mesmos símbolos como no teste de shot. O progresso do teste pode ser monitorado pela visualização do teste corrente em destaque. Para a analise detalhada diferentes opções são disponíveis. Clicando no botão direito do mouse no plano de impedancias um menu contextual é aberto para o gráfico, permitindo por exemplo a mudança da vista.

Análise no relatório do teste O relatório do teste é mostrado clicando no botão Report.

ou selecionando a opção View /


Na opção report, a tabela mostra os resultados detalhados do teste. Como o usuário pode especificar a informação que o relatório irá conter, é também possível mostrar informações adicionais após o teste ser completado.

3.6 – Metodologia de teste 3.6.1 – Modelo de simulação utilizado O circuito equivalente RL, abaixo, é usado para cada fase


A impedância da fonte Zs precisa ser calculada para se obter a relação entre a tensão nominal VN e a tensão do relé VR.

Dois modelos de teste estão disponíveis para a execução do teste :

Corrente de teste constante O software guarda a corrente de teste especificada Itest constante e calcula a tensão do relé usando a impedancia de falta definida Ztest. Os testes somente são possíveis se a tensão de teste é menor que a tensão nominal do relé. O máximo alcance para cada tipo de falta, onde a tensão de teste é igual a tensão nominal, é mostrada na tela. Para o teste acima destes limites, a corrente de teste tem que ser reduzida manualmente ou pela aplicação da adaptação automática das quantidades de teste.

As equações mostradas abaixo somente se aplicam para relés que usem o fator de terra KL. Também para relés que considerem a resistência de arco separadamente estas formulas não são válidas. Nestes caos a menor impedancia de falta possível depende também da linha e angulo de falta. O diagrama acima ilustra essa dependência.


Tensão de teste constante O software guarda a tensão de teste especificada Vtest constante e calcula a corrente de falta usando a impedancia de falta definida Ztest. Os testes somente são possíveis se a máxima corrente especificada no “General Parameters” não for excedida. O mínimo alcance para cada tipo de falta, onde a corrente de teste calculada é igual a máxima corrente especificada é mostrada na tela. Para testes abaixo destes limites, a tensão de teste tem de ser reduzida manualmente ou pela aplicação da adaptação automática das quantidades de teste.

As equações mostradas abaixo somente se aplicam para relés que usem o fator de terra KL. Também para relés que considerem a resistência de arco separadamente estas


formulas não são válidas. Nestes caos a menor impedancia de falta possível depende também da linha e angulo de falta. O diagrama acima ilustra essa dependência.

3.6.2 – Temporizações

Cada shot consiste principalmente de 3 estágios : Pré-falta, Maxima-falta e Pós-falta. O máximo tempo de falta somente é efetivo se as condições de trigger não são encontradas durante este tempo. Se o tempo de trip CB é especificado.

A presença de tensão no estado de Pós-falta depende da localização do transformador de potencial.


3.6.3 – Tipos de Faltas

Para a

simulação admitimos fase sem

que falta

nas V = Vn e I = 0 A. O angulo ϕf é o angulo da impedancia de falha, por exemplo o angulo entre a corrente de falha atrasada da tensão de curto circuito (se a impedancia de falha é indutiva)

3.7 – Configuração do Hardware Escolha o ícone

3.7.1 – General

(Hardware Configuration) no menu.


Clicando no botão “Details” é aberta uma caixa de dialogo onde a configuração desejada para o teste pode ser ajustada.

Abaixo, mostramos todas as opções possíveis para a configuração do equipamento de teste.

SAÍDA DE TENSÃO 4X300V;85VA@85V;1Arms

SAÍDA DE CORRENTE 6X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms







SAÍDA DE TENSÃO 3X300V;50VA@75V;660mArms



SAÍDA DE CORRENTE 3X25A;140VA@15A;10Vrms

SAÍDA DE CORRENTE 1X75A;420VA@45A;10Vrms




Este checkbox permite o chaveamento para “on” ou “off” da mensagem de advertência da fiação. Se estiver ativa lembrará você de checar fisicamente a fiação de seu hardware toda vez que você mudar os ajustes da fiação no software.

Search. Clicando neste botão busque por dispositivos conectados. Normalmente isto não é necessário para executar a busca manual, porque o software automaticamente procura dispositivos de teste conectados. (Automaticamente procura por dispositivos conectados acontecendo quando da partida do Control Center, quando inserir nova configuração de hardware no Control Center, e quando solicitar nos módulos de teste). Se diferentes dispositivos são encontrados dentro da busca, informações incompatíveis de configuração serão perdidas.


Calibration Clicando neste botão é aberta uma caixa de diálogo onde a ultima calibração em fábrica do dispositivo de teste OMICRON é mostrada. Os valores de garantia no manual do hardware são validos por 1 ano da data da ultima calibração em fábrica.

Import/Export Usando a função import/export é permitido ler / escrever arquivos OHC. Arquivos OHC contem todas as informações que podem ser ajustadas na configuração de hardware. Desta forma a configuração de hardware pode ser facilmente transferida entre diferentes documento Control Center.

3.7.2 – Binary / Analog Inputs

As entradas binary/Analog, são fixas para o numero de entradas 1 a 10, como no painel frontal do dispositivo de teste. Essas entradas podem ser configuradas de acordo com a aplicação :


Contatos secos Na linha Function selecione Binary para as entradas que você quer configurar. Na linha Potential Free habilite os checkboxes usados para as entradas que você quer configurar. Para as unidades CMC 256, podemos ajustar cada uma das entradas para dry ou potential-sensing, para as unidades CMC 156 ou CMC 56 somente grupos podem ser ajustados (1-4 e 5-10).

Potential sensing Na linha Function selecione Binary para as entradas que você quer configurar. Na linha Potential-free, desabilite os checkboxes usados para as entradas que você quer configurar. Na linha Nominal Range, ajuste a tensão nominal do seu sinal. Se você deseja ajustar a mesma tensão nominal para todas as entradas use o menu contextual (botão direito do mouse)

Se o valor nominal é modificado, o limiar de operação é ajustado em 0.7 vezes o novo valor nominal por default. Na linha Threshold ajuste o valor do limiar de operação para ir de 0 até 1. Se você deseja ajustar o mesmo valor de limiar para todas entradas do grupo, use o menu contextual (botão direito do mouse)

Dry Pulse Contacts Na linha Function selecione Counter para as entradas que você quer configurar. A contagem de freqüência é limitada a 3 kHz. Para freqüências acima de 100 kHz use a entrada do contador de freqüência no painel frontal do equipamento de teste. Na linha Potential Free, habilite os checkboxes usados para as entradas que você quer configurar.

Potential-Sensing Pulse Contacts

Na linha Function selecione Counter para as entradas que você quer configurar. Na linha Potential Free, desabilite os checkboxes usados para as entradas que você quer configurar. Na linha Nominal Range, ajuste a tensão nominal do seu sinal. Na linha Threshold ajuste o valor do limiar de operação para ir de 0 até 1.

Monitoring/recording voltage signals

Na linha Function selecione Voltage para as entradas que você quer configurar.


Na linha Nominal Range, ajuste faixa de entrada adequada ao seu sinal

Monitoring/recording current signals

Na linha Function selecione Current para as entradas que você quer configurar. Na linha Clamp ratio entre com a “clamp ratio” (livremente entre 1µV/A a 1V/A) ou selecione um valor típico através do menu contextual. (botão direito do mouse)select a typical value from the context-menu (right-click to open it). Na linha Nominal Range, ajuste faixa de entrada adequada ao seu sinal .

3.7.3 –Analog outputs


3.8 – Relatórios do teste

Selecionando a opção Report no menu principal, a caixa de diálogos “Report Settings” é aberta. Ela permite escolher as seguintes opções para o relatório de teste :

1. Short Form (OCC Short) 2. Long Form (OCC Long)

Essa duas opções são “templates” já definidos para o relatório. Clicando na opção Define, é possível adicionar ou deletar informações a serem inseridas no relatório, podendo ser criados e salvos novos templates de acordo com as necessidades do usuário.


Local e Global Templates Mudanças feitas no relatório através do botão “Define”, são gravadas em um template local, que é salvo como parte do teste onde os ajustes foram feitos. Existe também o Global Template onde cada novo teste copia as definições de ajuste do relatório para usar em seu próprio Template local. A localização do Global Template é mostrada na caixa de dialogo “Define Report Settings”. Você pode resetear os ajustes das definições do relatório de qualquer teste, para utilizar estas do Global Templates, clicando no botão “Read” na caixa do Global Template. Clique no botão Read para aceitar todos ajustes do arquivo. Mudanças feitas manualmente através do botão Define na caixa de dialogo são perdidas quando as definições são lidas do arquivo de template.

Quando o modulo de teste for fechado, será perguntado se quer salvar as mudanças no template no Global Template. Selecione Sim para atualizar o Global Template usando os mesmos ajustes do corrente Local Template, ou Não para deixar os ajustes do Global Template inalterados. Ajuste Short Form e Long Form Selecionando o ajuste Set Short Form o relatório resumido será definido como ajuste corrente. Similarmente, selecionando Long Forma o ajuste de relatório longo será definido como ajuste corrente. O nome do Form ajustado para Short Form é seguido pelo comentário “OCC Short” , enquanto o nome do Form ajustado para Long Form é seguido pelo comentário “OCC Long” . O ajuste do relatório não pode ser o mesmo (longo e curto) ao mesmo tempo. Quando estiver usando o Modulo de teste dentro do Control Center, é possível dar um simples comando para dizer para todos módulos de teste usar o Long Form ou o Short Form, especificando o ajuste para cada modulo de teste individualmente. Neste caso, as definições de “OCC Long” ou “OCC Short” Form são definidas aqui para serem usadas.

Export Report Esta caixa de diálogo é aberta clicando em File | Export Report....para permitir que o relatório seja exportado em uma variedade de formatos. Arquivos exportados no formato TXT são simplesmente textos. Formatações e gráficos serão perdidos. Os módulos de testes são mostrados somente como textos.


Arquivos exportados no formato RTF contem gráficos e formatação.

Exemplo report teste relé SD-2H - WECO Name: Test start:

OMICRON Advanced Dis 16-nov-2000 13:47:29 Test end:

Version: 1.31 16-nov-2000 13:52:56

Test Object - Device Settings Substation/Bay: Substation: Bay:

STCH.O

Device: Name/description: 21-2P Device type: SD-2H Serial/model number: Nominal Values: f nom: 60,000 Hz V nom (secondary): 138000,00 V I nom (secondary): A Limits: V max:

200,00 V

Debounce/Deglitch Filters:

Substation address: Bay address:

LTCHPC

Manufacturer: Device address:

CURSO

3 phases 115,00 V

V primary:

5,000 A

I primary:

I max:

12,50 A

1000,00


Debounce time:

0,000 s

Deglitch time:

0,000 s

System Parameters: Line angle: 85,00 ° PT connection: at line Impedance correction 1A/I nom: Impedances in primary values:

CT starpoint: no no

dir. line

Tolerances: Tol. T rel.: Tol. T abs. +: Tol. Z rel.:

Tol T abs. -: Tol Z abs.:

0,000 s 50,00 mΩ

kL angle: no

0,000000°

Test Object - Distance Settings

5,000 % 0,000 s 5,000 %

Grounding Factor: kL magnitude: 0,000000 Separate arc resistance:

Zone Settings: Label Type Fault loop Trip time Tol.T rel Tol.T abs+ Tol.T absTol.Z rel Tol.Z abs _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L1-L2 Tripping L1-L2 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 % 50,00 mΩ Z2 L2-L3 Tripping L2-L3 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 % 50,00 mΩ Z2 L3-L1 Tripping L3-L1 500,0 ms5,000 % 0,000 s 0,000 s 5,000 % 50,00 mΩ X/Ω 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8

-7

-6

-5

-4

-3

-2

-1

0

1

2

3

4

5

6

7

8

R/Ω


Test Settings Test Model: Test model: constant test voltage Allow reduction of ITest/VTest: no

VTest:

70,00 V

Fault Inception: Mode: DC-offset:

random no

Times: Pre-fault: Post-fault:

500,0 ms 500,0 ms

Max-fault: 3,000 s Time reference: fault inception

Other: CB simulation:

off

Extended zones:not active

Search Settings: Search res. rel.: 1,000 % Ignore nominal characteristics: Search interval: 200,0 mΩ

n/a

Search res. abs.: no

50,00 mΩ

Test Results Search Test: Fault Type L1-L2 |Z|: 0,000 Ω Length: 5,301 Ω

Phi: 0,00 ° Angle: 20,00 ° Result: passed %Zone: 130,00 % Zone: Z2 L1-L2

|Z|: 0,000 Ω Length: 10,73 Ω


from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L1-L2 8,255 Ω 7,985 Ω 7,021 Ω 9,285 Ω -269,9 mΩpassed |Z|: 0,000 Ω Length: 14,87 Ω











from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L1-L2 6,261 Ω 6,599 Ω 4,197 Ω 7,532 Ω 337,4 mΩ passed |Z|: 0,000 Ω Length: 2,301 Ω



X/Ω 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8

-6

-4

-2

0

2

4

6

8

R/Ω

Search Test: Fault Type L2-L3 |Z|: 0,000 Ω Length: 5,301 Ω


|Z|: 0,000 Ω Length: 10,73 Ω






from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L2-L3 13,24 Ω 13,20 Ω 12,55 Ω 13,93 Ω -43,15 mΩpassed


|Z|: 0,000 Ω Length: 16,29 Ω









X/Ω 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8

-6

-4

-2

0

2

4

6

8

R/Ω



|Z|: 0,000 Ω Length: 10,73 Ω






from Zone to Zone Z nom Z act Z min Z max Dev. Result _______________________________________________________________________ ___________ Z2 L3-L1 13,24 Ω 13,02 Ω 12,55 Ω 13,93 Ω -215,7 mΩpassed


|Z|: 0,000 Ω Length: 16,29 Ω









X/Ω 16 15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 -1 -8

-6

-4

-2

0

2

4

6

8

R/Ω



_______________________________________________________________________ ___________ Comment: teste do rele SD-2H para treinamento Ajustes: S=2 T=8 M=+0,18 Tempo de coincidência=4,51mseg AMT= 85 graus _______________________________________________________________________ ___________ Summary: Test passed

©Eng. Geraldo M. Aoun________________7SJ600___________________10/04/01__________________Página 1


RELÉ 7SJ600 – SIEMENS

1. Ajustes e Cálculos 7100 7101 7200 7208 7211 7214 7215 7216

INTEGRATED OPERATION Language PC AND SYSTEM INTERFACES Function type in accordance with VDEW/ZVEI Data format for PC-interface Transmission gaps for PC-interface Transmission baud rate for PC-interface Parity and stop-bits for PC-interface

7400 FAULT RECORDINGS 7402 Initiation of data storage Maximum time period of a fault recording 7411 Pre-trigger time for fault recording 7412 Post-fault time for fault recording 7800 SCOPE OF FUNCTIONS 7801 Characteristic of O/C protection 7802 Temporary pick-up value change over (O/C-st.) 7803 Unbalanced load protection 7804 Thermal overload protection 7805 Supervision of starting time 7839 Trip circuit supervision No resist., 2 BI 9500 OPERATING SYSTEM SETTINGS 9520 Activating internal test 9521 Number of tested module Marshalling 6101 MARSHALLING OF BINARY INPUT 1 6102 BINARY INPUT 1 1st FUNCTION 001 6852 >Trip circuit supervision: Trip relay 6103 BINARY INPUT 1 2nd FUNCTION 6104 BINARY INPUT 1 3rd FUNCTION 6105 BINARY INPUT 1 4th FUNCTION 6106 BINARY INPUT 1 5th FUNCTION 6107 BINARY INPUT 1 6th FUNCTION 6108 BINARY INPUT 1 7th FUNCTION 6109 BINARY INPUT 1 8th FUNCTION

English 160 DIGSI V3 1.0 s 9600 Baud DIGSI V3

Storage by trip7410 1.00 s 0.10 s 0.10 s

Definite time Non-existent Non-existent With memory Non-existent

none 0

active with voltage


6110 BINARY INPUT 1 9th FUNCTION 6111 BINARY INPUT 1 10th FUNCTION 6122 MARSHALLING OF BINARY INPUT 2 6123 BINARY INPUT 2 1st FUNCTION 001 6853 >Trip circuit supervision: CB aux. 6124 BINARY INPUT 2 2nd FUNCTION 6125 BINARY INPUT 2 3rd FUNCTION 6126 BINARY INPUT 2 4th FUNCTION 6127 BINARY INPUT 2 5th FUNCTION 6128 BINARY INPUT 2 6th FUNCTION 6129 BINARY INPUT 2 7th FUNCTION 6130 BINARY INPUT 2 8th FUNCTION 6131 BINARY INPUT 2 9th FUNCTION 6132 BINARY INPUT 2 10th FUNCTION 6133 6134 6135 6136 6137 6138 6139 6140 6141 6142 6143

MARSHALLING OF BINARY INPUT 3 BINARY INPUT 3 1st FUNCTION BINARY INPUT 3 2nd FUNCTION BINARY INPUT 3 3rd FUNCTION BINARY INPUT 3 4th FUNCTION BINARY INPUT 3 5th FUNCTION BINARY INPUT 3 6th FUNCTION BINARY INPUT 3 7th FUNCTION BINARY INPUT 3 8th FUNCTION BINARY INPUT 3 9th FUNCTION BINARY INPUT 3 10th FUNCTION

6201 MARSHALLING OF SIGNAL RELAY 1 6202 Signal RELAY 1 1st CONDITION 001 0052 Any protection operative 6203 Signal RELAY 1 2nd CONDITION 6204 Signal RELAY 1 3rd CONDITION 6205 Signal RELAY 1 4th CONDITION 6206 Signal RELAY 1 5th CONDITION 6207 Signal RELAY 1 6th CONDITION 6208 Signal RELAY 1 7th CONDITION 6209 Signal RELAY 1 8th CONDITION 6210 Signal RELAY 1 9th CONDITION 6211 Signal RELAY 1 10th CONDITION 6212 Signal RELAY 1 11th CONDITION 6213 Signal RELAY 1 12th CONDITION 6214 Signal RELAY 1 13th CONDITION 6215 Signal RELAY 1 14th CONDITION 6216 Signal RELAY 1 15th CONDITION 6217 Signal RELAY 1 16th CONDITION 6218 Signal RELAY 1 17th CONDITION 6219 Signal RELAY 1 18th CONDITION 6220 Signal RELAY 1 19th CONDITION 6221 Signal RELAY 1 20th CONDITION

active with voltage


6222 MARSHALLING OF SIGNAL RELAY 2 6223 Signal RELAY 2 1st CONDITION 001 0501 General fault detection of device 6224 Signal RELAY 2 2nd CONDITION 6225 Signal RELAY 2 3rd CONDITION 6226 Signal RELAY 2 4th CONDITION 6227 Signal RELAY 2 5th CONDITION 6228 Signal RELAY 2 6th CONDITION 6229 Signal RELAY 2 7th CONDITION 6230 Signal RELAY 2 8th CONDITION 6231 Signal RELAY 2 9th CONDITION 6232 Signal RELAY 2 10th CONDITION 6233 Signal RELAY 2 11th CONDITION 6234 Signal RELAY 2 12th CONDITION 6235 Signal RELAY 2 13th CONDITION 6236 Signal RELAY 2 14th CONDITION 6237 Signal RELAY 2 15th CONDITION 6238 Signal RELAY 2 16th CONDITION 6239 Signal RELAY 2 17th CONDITION 6240 Signal RELAY 2 18th CONDITION 6241 Signal RELAY 2 19th CONDITION 6242 Signal RELAY 2 20th CONDITION 6301 MARSHALLING OF LED INDICATOR 1 6302 LED 1 1st CONDITION 001 1815 O/C protection I> phase trip 6303 LED 1 2nd CONDITION 001 1805 O/C protection I>> phase trip 6304 LED 1 3rd CONDITION 001 6757 O/C protection I>>> phase trip 6305 LED 1 4th CONDITION 6306 LED 1 5th CONDITION 6307 LED 1 6th CONDITION 6308 LED 1 7th CONDITION 6309 LED 1 8th CONDITION 6310 LED 1 9th CONDITION 6311 LED 1 10th CONDITION 6312 LED 1 11th CONDITION 6313 LED 1 12th CONDITION 6314 LED 1 13th CONDITION 6315 LED 1 14th CONDITION 6316 LED 1 15th CONDITION 6317 LED 1 16th CONDITION 6318 LED 1 17th CONDITION 6319 LED 1 18th CONDITION 6320 LED 1 19th CONDITION 6321 LED 1 20th CONDITION 6322 MARSHALLING OF LED INDICATOR 2

memorized memorized memorized


6323 LED 2 1st CONDITION 001 1521 Thermal overload protection trip 6324 LED 2 2nd CONDITION 6325 LED 2 3rd CONDITION 6326 LED 2 4th CONDITION 6327 LED 2 5th CONDITION 6328 LED 2 6th CONDITION 6329 LED 2 7th CONDITION 6330 LED 2 8th CONDITION 6331 LED 2 9th CONDITION 6332 LED 2 10th CONDITION 6333 LED 2 11th CONDITION 6334 LED 2 12th CONDITION 6335 LED 2 13th CONDITION 6336 LED 2 14th CONDITION 6337 LED 2 15th CONDITION 6338 LED 2 16th CONDITION 6339 LED 2 17th CONDITION 6340 LED 2 18th CONDITION 6341 LED 2 19th CONDITION 6342 LED 2 20th CONDITION 6343 MARSHALLING OF LED INDICATOR 3 6344 LED 3 1st CONDITION 001 1833 O/C protection IE>> earth trip 6345 LED 3 2nd CONDITION 001 1836 O/C protection IE> earth trip 6346 LED 3 3rd CONDITION 6347 LED 3 4th CONDITION 6348 LED 3 5th CONDITION 6349 LED 3 6th CONDITION 6350 LED 3 7th CONDITION 6351 LED 3 8th CONDITION 6352 LED 3 9th CONDITION 6353 LED 3 10th CONDITION 6354 LED 3 11th CONDITION 6355 LED 3 12th CONDITION 6356 LED 3 13th CONDITION 6357 LED 3 14th CONDITION 6358 LED 3 15th CONDITION 6359 LED 3 16th CONDITION 6360 LED 3 17th CONDITION 6361 LED 3 18th CONDITION 6362 LED 3 19th CONDITION 6363 LED 3 20th CONDITION 6364 MARSHALLING OF LED INDICATOR 4 6365 LED 4 1st CONDITION 001 6865 Trip circuit interrupted 6366 LED 4 2nd CONDITION

memorized

memorized not memorized

memorized


6367 6368 6369 6370 6371 6372 6373 6374 6375 6376 6377 6378 6379 6380 6381 6382 6383 6384

LED 4 3rd CONDITION LED 4 4th CONDITION LED 4 5th CONDITION LED 4 6th CONDITION LED 4 7th CONDITION LED 4 8th CONDITION LED 4 9th CONDITION LED 4 10th CONDITION LED 4 11th CONDITION LED 4 12th CONDITION LED 4 13th CONDITION LED 4 14th CONDITION LED 4 15th CONDITION LED 4 16th CONDITION LED 4 17th CONDITION LED 4 18th CONDITION LED 4 19th CONDITION LED 4 20th CONDITION

6401 MARSHALLING OF COMMAND RELAY 1 6402 COMMAND RELAY 1 1st CONDITION 001 0511 General trip of device 6403 COMMAND RELAY 1 2nd CONDITION 6404 COMMAND RELAY 1 3rd CONDITION 6405 COMMAND RELAY 1 4th CONDITION 6406 COMMAND RELAY 1 5th CONDITION 6407 COMMAND RELAY 1 6th CONDITION 6408 COMMAND RELAY 1 7th CONDITION 6409 COMMAND RELAY 1 8th CONDITION 6410 COMMAND RELAY 1 9th CONDITION 6411 COMMAND RELAY 1 10th CONDITION 6412 COMMAND RELAY 1 11th CONDITION 6413 COMMAND RELAY 1 12th CONDITION 6414 COMMAND RELAY 1 13th CONDITION 6415 COMMAND RELAY 1 14th CONDITION 6416 COMMAND RELAY 1 15th CONDITION 6417 COMMAND RELAY 1 16th CONDITION 6418 COMMAND RELAY 1 17th CONDITION 6419 COMMAND RELAY 1 18th CONDITION 6420 COMMAND RELAY 1 19th CONDITION 6421 COMMAND RELAY 1 20th CONDITION 6422 MARSHALLING OF COMMAND RELAY 2 6423 COMMAND RELAY 2 1st CONDITION 001 6865 Trip circuit interrupted 6424 COMMAND RELAY 2 2nd CONDITION 6425 COMMAND RELAY 2 3rd CONDITION 6426 COMMAND RELAY 2 4th CONDITION 6427 COMMAND RELAY 2 5th CONDITION 6428 COMMAND RELAY 2 6th CONDITION 6429 COMMAND RELAY 2 7th CONDITION


6430 6431 6432 6433 6434 6435 6436 6437 6438 6439 6440 6441 6442

COMMAND RELAY 2 8th CONDITION COMMAND RELAY 2 9th CONDITION COMMAND RELAY 2 10th CONDITION COMMAND RELAY 2 11th CONDITION COMMAND RELAY 2 12th CONDITION COMMAND RELAY 2 13th CONDITION COMMAND RELAY 2 14th CONDITION COMMAND RELAY 2 15th CONDITION COMMAND RELAY 2 16th CONDITION COMMAND RELAY 2 17th CONDITION COMMAND RELAY 2 18th CONDITION COMMAND RELAY 2 19th CONDITION COMMAND RELAY 2 20th CONDITION

Settings Parameter set A 1100 POWER SYSTEM DATA 1101 Rated system frequency 1102 Connection of CT2 1105 Primary rated current 1106 Secondary rated current 1134 Minimum trip command duration 1135 Maximum close command duration 1300 1301 1303 1305 1307 1308 1310 1311 1319

O/C PROTECTION PHASE FAULTS O/C protection for phase faults Pick-up value of the high-set inst. Stage Pick-up value of the high-set stage I>> Trip time delay of the high-set stage I>> Pick-up value of the overcurrent stage I> Trip time delay of the overcurrent stage I> Measurement repetition Manual close

1400 1401 1402 1404 1405 1407 1408 1416

O/C PROTECTION EARTH FAULTS O/C protection for earth faults Pick-up value of the high-set stage IE>> Trip time delay of the high-set stage IE>> Pick-up value of the overcurrent stage IE> Trip time delay of the overcurrent stage IE> Measurement repetition Manual close

2700 2701 2702 2703 2704 2705 3900

THERMAL OVERLOAD PROTECTION State of thermal overload protection K-factor for thermal overload protection Time constant for thermal overload protection Multiplier of time constant at standstill Thermal warning stage TRIP CIRCUIT SUPERVISION on

fN 60 Hz IL2 200 A 5A 0.50 s 1.00 s

on I>>> 12.5 I/In 5.5 I/In 0.30 s 1.8 I/In 1.20 s no I>> undelayed

I

on 0.2 I/In 0.05 s 0.2 I/In 0.10 s no E>> undelayed

on 0.70 20.0 min 1.00 75 %


2. Construção das curvas características utilizando o software CMC



©Eng. Geraldo M. Aoun______________7SJ600_______________10/04/01______________Página 1

1. Teste 1.1 – Device Settings

Device Entrada de dados do elemento protegido Substation Nome e endereço da subestação onde o elemento esta localizado. Bay Entre com o endereço e o nome do bay onde o elemento esta localizado Nominal Values Entre com os valores nominais (tensão, corrente, freqüência, corrente primária e tensão primária e numero de fases) Para o teste de relés convencionais, a corrente nominal ( 1 ou 5 A ) tem de ser ajustada aqui. Residual Voltage / Current factors


Esses parâmetros somente são relevantes se o relé tem transformadores de potencial / corrente separados para a tensão / corrente residual ( para o aumento da sensibilidade). A relação desses transformadores separados em relação à relação dos transformadores das fases é expressa com um fator que será ajustado aqui. Os ajuste padrão são : VLN / VN = 1.732 / 1 , como a tensão de fase forma a tensão residual na conexão delta aberto, e IN / Inom = 1 Esses fatores são suportados pelos módulos de Distancia e Distancia Avançado.

Limits Entre com os máximos valores de tensão e corrente, que o dispositivo de teste é capaz de fornecer (máximos valores possíveis são determinados pelo teste de hardware)

Debounce / deglitch filters Entre com os tempos de Debounce e Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses valores são usados onde os sinais do algoritmo de suavização são implementados.

1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal após o filtro


1.2 – Protection Device

1.2.1 - Currente Tolerance A tolerância da corrente é definida como tolerancia absoluta e relativa. A telerancia de corrente relativa é definida em % da corrente de pickup nominal, e a tolerancia de corrente absoluta é definida em I/In. Para cada ponto de teste, o modulo de teste selecionará o maior de dois intervalos para ser a tolerancia valida. A tolerancia de corrente tem influencia na avaliação do teste no caso de pontos de testes que estão dentro das bordas da região de trip (+/- Itol).

Avaliação do teste de sobrecorrente Para avaliação do teste, o software compara cada ponto do tempo de operação atual com o tempo de operação nominal. Se o tempo de operação atual esta dentro do tempo especificado de tolerancia, o ponto é avaliado como Aprovado , caso contrário como Reprovado . Para pontos que estão dentro das regiões das bordas de trip (dentro de +/- Itol), a faixa de tempo de operação permitida é menor ou maior que o tempo permitido para ambos intervalos, como mostrado abaixo.


A mesma influência da tolerancia de corrente no intervalo de tempo resultante, aplicado ao ponto onde a caracteristica tende ao infinito.

Pontos fora da faixa “out of range”, ou pontos que estão fora da faixa de tempo, são considerados Aprovados, para permitir a avaliação automática do teste. Se alguns pontos não podem ser testados por alguma razão, o software adiciona a mensagem correspondente no relatório. O software considera o conjunto de testes como aprovado se todos pontos foram avaliados com aprovados.


1.2.2 – Time Tolerance

As tolerancias de tempo são definidas como tolerancias absolutas e relativas. A tolerancia de tempo relativa é definida em % do tempo de trip nominal. O intervalo de tempo resultante é o tempo de trip nominal menos uma percentagem do tempo de trip nominal mais a percentagem definida. A tolerancia de tempo absoluta é definida em segundos. Para a avaliação do teste, o software selecionará o maior de dois intervalos de tempo. Na borda da região de trip, o intervalo de tempo combinado é valido. Quando os pontos de teste são ajustados, As faixas de tempo permitidas são desenhadas como linhas verticais no diagrama I / t para cada ponto.

1.2.3 - Fault Group Selection

Dependendo qual grupo de falta é selecionado, os parametros correspondentes do grupo de falta são mostrados e podem ser editados na caixa “Fault Group Parameters”. Existem quatro grupos de faltas disponíveis no software :


Line – Neutral Define os parametros para falhas monofásicas (A-N, B-N, C-N) Line – Line Define os parametros para falhas bifásicas (A-B, B-C, C-A) e falhas trifásicas. Negative Sequence Define os parametros para faltas de sequencia negativa (I2) Zero Sequence Define os parametros para faltas de sequencia zero (I0) Para cada grupo de faltas, os parametros dos grupos precisam ser preenchidos separadamente.

1.2.3.1 – Modelos de falta

Monofásica Para faltas monofásicas (no exemplo falta A-N), a corrente de teste Itest é apagada da fase faltosa (no exemplo IA). As outras duas correntes são ajustadas para a corrente de carga com 120 graus de defasagem. A tensão para a fase faltosa é igual à tensão de falta selecionada. As outras duas fases são ajustadas para valores nominais, com 120 graus de defasagem. Os valores mostrados serão considerados pelo dispositivo de teste.

VA = Tensão de falta Ð 0° VB = Tensão Nominal Ð -120° VC = Tensão Nominal Ð 120° IA = Iteste Ð j IB = Corrente de carga Ð -120° + j IC = Corrente de carga Ð 120° + j


Bifásica Para falhas bifásicas ( no exemplo falta B-C), a corrente de teste Itest é apagada das duas correntes das fases afetadas ( no exemplo IB e IC ) com 180 graus de defasagem. As tensões formam um sistema balanceado e são ajustadas para valores nominais. O arranjo dos vetores são mostrados no exemplo. Os valores mostrados serão considerados pelo dispositivo de teste :

VA = Tensão nominal Ð 0° VB = Tensão nominal Ð -120° VC = Tensão nominal Ð 120° IA = 0 IB = Itest Ð -90° + j IC = Itest Ð 90° + j

Trifásica

Para faltas trifásicas, a corrente de teste Itest é apagada para todas fases, com 120 graus de defasagem entre elas. As tensões são iguais a tensão de falta selecionada. Os valores mostrados serão considerados pelos dispositivo de teste.

VA = Tensão de Falta Ð 0° VB = Tensão de Falta Ð -120° VB = Tensão de Falta Ð 120° IA = Itest Ð j IB = Itest Ð -120° + j IC = Itest Ð 120° + j


Sequencia negativa

Para falta de sequencia negativa, a corrente de teste Itest é apagada das outras fases com 120 graus de defasagem entre elas. IB e IC são trocadas, de forma que apareça a corrente de sequencia negativa. Todas Tensões são iguais a tensão de falta com 120 graus de defasagem entre elas. VB e VC são trocadas, de forma que apareca a sequencia negativa. Os valores mostrados serão considerados pelo dispositivo de teste. VA = Tensão de Falta Ð 0° VB = Tensão de Falta Ð 120° VC = Tensão de Falta Ð -120° IA = Itest Ð j IB = Itest Ð 120° + j IC = Itest Ð -120° + j

Sequencia Zero

Para a falta de sequencia zero, a corrente de teste Itest é apagada para todas fases, com 0 graus de defasagem, As correntes estão em fase com as outras. Desta forma, a corrente de sequencia zero aparece igual ao Itest selecionado. As tensões são iguais as tensões de falta , com 0 graus de defasagem, as tensões estão em fase com as outras. Desta forma, a tensão de sequencia zero aparece, igual a tensão da falta selecionada. Os valores mostrados serão considerados pelo dispositivo de teste :

VA = Tensão de Falta Ð 0° VB = Tensão de Falta Ð 0° VC = Tensão de Falta Ð 0° IA = Itest/3 Ð j IB = Itest/3 Ð j IC = Itest/3 Ð j


1.2.4 – Directional Behavior (Comportamento direcional) Este ajuste influencia quer apareça ou não tensão de saída. Se este parametro é ajustado para : Direcional, Tensões serão consideradas segundo o tipo de falta selecionada e o estado da corrente na sequencia de shot. Não-Direcional, Nenhuma tensão de saida aparecerá

A sequencia de shot consiste em pré-falta, falta e pós-falta. O detalhamento de cada estado de teste, ou a transição de um estado par o próximo é mostrado abaixo.

Durante o estado de pré-falta, todas tensões são ajustadas para o sistema balanceado, com magnitude igual á tensão nominal, e Ajuste de VA igual a 0 graus. A duração do estado de pré-falta pode ser ajustado no “Pre-fault Time”; se for ajustado para zero, nenhum estado de pré-falta é considerado. Durante o estado de falta, as correntes e tensões são consideradas de acordo com o ajuste do tipo de falta ou a aplicação do modelo de falta (ítem 1.2.3.1) (L-N, L-L,L-L-L, I2, I0). O último estado da falta até a condição de trigger ser encontrada ou o máximo tempo de falta ter transcorrido. O estado de pós-falta é projetado para permitir o reset do objeto testado. Durante o estado de pós-falta, existem duas possibilidades : cada uma das tensões nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tensões e correntes serão ajustadas para 0. Isto pode ser ajustado com o parametro “PT connection” na tela de parametrização.A duração do estado de pós-falta pode ser ajustada atuando do “Delay Time”


1.2.5 – CT startpoint connection

A conexão dos TC’s somente é relevante para relés de sobrecorrente direcionais. Isto influencia a defasagem entre as correntes e tensões. Se este parametro é ajustado para : Towards LINE, A corrente tem uma defasagem da tensão ajustado pelo parametro angulo (I) na caixa “direction” na pagina de parametrização da Falta. Towards BUSBAR, A corrente tem uma defasagem da tensão de um angulo (I) + 180 graus. Exemplo de Conexão :

CT startpoint conection Towards BUSBAR

1.2.6 - I/t parameters of the selected Fault Group


Nesta caixa, os parametros do grupo de falta do grupo de falta selecionado pode ser ajustado. Para mostrar ou editar os paramentros de diferentes grupos de falta, o grupo de falta necessita ser selecionado na caixa de seleção do grupo de falta. Cada região de trip (I>, I>>, I>>>) pode ser ativada ou desativada pela marcação ou não do “checkbox “ . Como padrão, as regiões I> e I>> são ativadas e a região I>>> é desativada.

O tempo de trip para certas regiões de trip (I>, I>>, I>>>) podem ser ajustados. Para a região de trip I> o ajuste de tempo tambem é representado. O tempo de trip em segundos para a caracterisitca de tempo definido ou, O index da curva de tempo (dial de tempo) usados para o teste da caracteristica de tempo inverso.

1.3 - Characteristic Definition


Os elementos desta caixa dependem do ajuste do grupo de falta e do tipo da caracteristica. Como padrão é associada a caracteristica de tempo inversa. O nome do grupo de falta é mostrado na parte superior esquerda desta caixa. Se desejar mudar o grupo de falta, é necessário mudar para a pagina de parametros de sobrecorrente. Estes sãos os fatores das equações para a definição de cada uma das caracteristicas inversas (fatores A, B, P, Q, K1 e K2) ou da caracteristica I²T (fatores A, Q, P). Estes fatores são necessários para ajustar a caracteristica de acordo com a especificação do fabricante. Para os fatores dos relés de uma planta, favor consultar o manual do relé ou pergunte ao fabricante do mesmo. Time Index O indice de tempo é mostrado. Para muda-lo, vá para a pagina de parametros de sobrecorrente e mude o valor na coluna de tempo da região de trip i>.

Copy - Pressione este botão para abrir um dialogo, onde a caracteristica de diferentes grupos de falta podem ser copiados para o grupo de falta selecionado. News - Pressione este botão para abrir uma nova caixa de dialogo, onde a nova caracteristica pode ser criada para o grupo de falta corrente selecionado. Predefined - Pressione este botão para abrir uma caixa de dialogo, onde uma caracteristica predefinida pode ser escolhida para o grupo de falta corrente selecionado. O módulo de teste de sobrecorrente tem quatro caracteristicas pré-definidas : Definite Time IEC Normal Inverse IEC Very Inverse IEC Extremely Inverse Essas caracteristica não podem ser modificadas. Tambem, a caracteristica definida pelo usuário, não tem a mesmo de uma destas caracteristicas. As caracteristicas predefinidas IEC seguem as equação IEEE standart.


As tabelas a seguir mostram os parametros usados. Caracteristica

A

B

IEC Normal Inverse IEC Very Inverse IEC Extremely Inverse

0.14 0.0 13.5 0.0 80.0 0.0

P

Q

0.02 1 1.0 1 2.0 1

K1

K2

0 0 0

0 0 0

Import - Pressione este botão para abrir uma caixa de dialogo, onde a caracteristica pode ser importa de um arquivo DCC.

2. Parametrizaçào do teste

2.1 – Teste

2.1.1 - Fault Type Clicando em uma destas opções selecione o tipo de falta. O ajusta para o tipo de falta é um ajuste de teste geral e portanto valido para todos os pontos definidos na tabela abaixo. De acordo com o ajuste do tipo de falta, o modelo de falta apropriado é usado para o calculo dos valores de teste. Modelos de falta para falhas monofásicas, bifásicas, trifásicas, falhas com sequencia negativa e sequencia zero estão disponiveis.

2.1.2 - Itest The test current Itest of a single test point can be specified here by inputting the desired value. The cursor position of the mouse in the overcurrent characteristic diagram is also transferred to this field. The test point can then be added by pressing the Add button. The value can be specified in MTS or in absolute currents (see View|Absolute currents). Tip: a quick way to add a test point is to left-click into the overcurrent diagram while pressing the Ctrl key. A corrente de teste Itest para um ponto de teste simples pode ser especificada aqui pela entrada do valor desejado. Clicando o botão esquerdo do mouse no diagrama da caracteristica de sobrecorrente o valor correspondente é transferido para este campo. O ponto de teste pode ser adicionado pressionando o botão Add. O valor pode ser especificado em MTS ou em Corrente absoluta (Veja View/Absolute currents). Para adicionar um ponto de teste clique o botão esquerdo do mouse no diagrama de sobrecorrente pressionando a tecla Ctrl.


2.2 - Fault 2.2.1 - Fault settings

Absolute max time e Relative max time A máxima duração da falta pode ser ajustado com sendo um valor absoluto em “Absolute max time”, ou como um valor relativo em percentual do máximo tempo de trip em “Relative max. Time“. O maximo tempo de trip é ajustado na caixa “Time Tolerance” na tela de parametrização de sobrecorrente, protection device. O ajuste percentual deverá ser adicionado ao máximo tempo de trip (P.ex. O valor de 10% resultará em um máximo tempo de falta de 110% tmax). O sistema sempre utiliza a menor dos dois valores de tempo. O sistema permite o teste através de uma larga faixa de corrente e tempo de operação sem danificar o relé. Load current Esta corrente será considerada para todas fases durante o estado de pré-falta na sequencia de shot. Durante o estado de falta esta corrente somente será considerada para as fases sem falta para faltas monofásicas.

2.2.2 – Additional Settings Pre-fault Time Durante o estado de pre-falta, todas tensões são ajustadas para o sistema balanceado, com magnitude igual a tensão nominal, e ajuste de VA em 0 graus. A duração do estado de pre-falta pode ser ajustada em “Pre-Fault Time”; se este ajuste for 0, o estado de préfalta não é considerado. Delay Time O estado de pós-falta é projetado para permitir o reset do objeto testado. Durante o estado de pós-falta, existem duas possibilidades : cada uma das tensões nominais no sistema balanceado com corrente zero, ou ambas tensões e correntes serão ajustadas para 0. Isto pode ser ajustado com o parametro “PT connection” na tela de parametrização.A duração do estado de pós-falta pode ser ajustada atuando do “Delay Time”


2.2.3 – Direction Fault Voltage , Angle (I) e Nominal Voltage

Como a tensão de falta será usada para formar a tensão de fase de falta, depende do modelo de falta correspondente. O angulo (I) é o angulo entre as tensões e correntes no estado de falta. Com a tensão nominal é tambem usada para o calculo da falta, ela é mostrada aqui (test object parameter)

2.3 - General 2.3.1 - Pick up Test

Na tela de parametros gerais, o teste de pickup pode ser ativado. Se o teste de pickup é habilitado, ele será executado antes do primeiro ponto da tabela de teste. O teste de pickup é projetado para determinar os limites de operação do objeto sob teste. Em steps, a corrente é aumentada/diminuida. Em cada step, o valor considerado corresponde ao tipo de falta selecionado. A tensão, se habilitada, será tambem considerada de acordo com o ajuste da tensão de falta. Se a pre-falta é selecionada, o programa irá aplicar os valores de pré-falta durante o tempo de pre-falta, para que o relé seja preparado para o teste. Para a avaliação automática, o teste será sempre considerado como aprovado. Entretanto, se o teste de Pickup/Dropout é o unico teste selecionado no modulo, então o teste somente será aprovado se os valores de pickup e dropout forem encontrados com exito. Existem dois tipos de teste : Determinação do pickup/dropout em relés com contato de partida Informações gerais sobre o teste de pickup Para este teste, é necessário que o contato geral de partida seja designado. Caso contrário, o modulo de teste ira reportar hardware insuficiente e o teste não será executado.


O estado de pre-falta não é relevante para este teste e portanto não será considerado. Determinação do valor de Drop-out Para determinar o valor de drop-out, o modulo partirá a corrente de falta para 1.15 Ipickups. Isto causará a operação do contato de partida. Se o contato de partida não estiver operado após o tempo assinalado em “Resolution”, o teste será cancelado. A corrente de teste será reduzida em degraus com tamanho de 0.01Ipickup, até o contato de partida abrir ou até o valor de 0.8 Ipickup ser alcançado. Se o contato não é aberto, os valores de pickup/dropout não podem ser determinados e o teste é cancelado. Se o contato abre, o valor da corrente é gravado como o valor de dropout do relé.

Determinação do valor de Pickup Usando o mesmo tamanho de step e tempo, até que o contato de partida opere ou o valor de 1.15 Ipickup seja alcançado. Se o contato de partida não esta ativo, o teste será cancelado, e somente o valor de dropout será gravado. Entretanto, o valor para que o contato de partida opere é gravado como o valor de pickup do relé.

Valor de Drop-Out

Valor de Pick-Up


Na figura abaixo se aplicarmos 1.15 x Ipickup e o relé não operar , o tempo ajustado em “resolution” é aguardado, sendo após este tempo cancelado o teste. Caso o relé opere, o valor é gradualmente reduzido até 0.8 x Ipickup, caso não haja a desoperação do contato o teste é cancelado.

Valor de Drop-out não encontrado

Valor de Pick-up não encontrado


Uso do contato de partida O modulo de teste segue os seguintes critérios : Se o contato de partida é parte da condição de trigger, o modulo de teste irá considerar o contato ativo e fechado ou ativo aberto de acordo como foi definido na condição de trigger (1 ou 0 respectivamente). Se o contato é definido como “Don’t care” (X), o modulo irá considerar como contato fechado.

Determinação dos valores de Pickup/Dropout para relés sem contato de partida Informações gerais sobre o teste de Pickup O algoritimo utilizado leva vantagem para a inércia de dispositivos eletromecanicos determinar os valores de pickup e dropout. Para detectar o trip, o modulo de teste usa a condição de trigger “full”. Ela considera o trip no relé quando a entrada binaria realizar a condição de trigger, ou não trip quando não fizer isto. O procedimento é como mostrado : Determinação do valor de pickup O modulo de teste ocasiona o trip no relé pelo método da falta à valores de Ipickup (valores de trip). Esta falta será processada com sendo um ponto de teste normal. Entretanto, ela terá um tempo de trip nominal, e o maximo tempo de falta derivado . Os valores de falta (após a pre-falta, se escolhida), são aplicadas ao relé até sair trip ou até o maximo tempo de falta esgotar. Para este caso particular, nenhum teste para o tempo fora da faixa é feito. Se o relé não dá trip dentro do maximo tempo de falta, o teste de pickup é cancelado. Depois que o trip é detectado, os geradores serão desligados para a “Resolution” ou até a condição de trip não estar mais presente. Então, isto será reaplicado com valores de 1.15 Ipickup até que o relé tripeie novamente ou a 3 segundos o temporizador expira. Então a sequencia é repetida para valores de 1.14, 1.13, etc. até que para um deles o relé não tripeie. O ultimo valor para que o relé tripeia é gravado como o valor de pickup. Se a sequencia alcança 0.8 Ipickup detectando trip para todos pontos, o valor de pickup não pode ser determinado e o teste é cancelado. Determinação do valor de Drop-out Após a determinação do valor de pickup, 1.15 Ipickup é aplicado até o relé tripear ou a 10 segundos o temporizador expira. Se o temporizador expira, o valor de dropout não pode ser determinado e o teste é cancelado. Se o relé tripeia, o modulo de teste reduz o valor da falta em steps de 0.01 Ipickup, com o step de tempo igual à “Resolution”, até que a condição de trip desapareça ou o alcance sweep 0.8 Ipickup. No último caso, o valor de


dropout não pode ser determinado, e o teste é cancelado. Entretanto, o step em que a condição de trip desapareceu será gravado como valor de dropout.

Vaor de Pick-Up Valor de Drop-Out


Tempo máximo de falta

Tempo de Resolução


2.3.2 – Trigger conditions

Este valor é valido para todos os testes, e inteiramente manual, não tendo seleção automática. Os contatos de trip e start são predefinidos, como estes contatos são necessários para a realização do teste. Para mudar a designação dos contatos binarios de entrada, va para a configuração do hardware (pressione Ctrl + H).

©Eng. Geraldo M. Aoun_____________________7UT512____________________10/04/01___________________Página 1


RELÉ 7UT512 – SIEMENS

1. Ajustes e Cálculos Configuration 7100 INTEGRATED OPERATION 7101 Language 7102 Date format 7105 Operational message for 1st display line 7106 Operational message for 2nd display line 7107 Fault message for 1st display line 7108 Fault message for 2nd display line 7110 Fault indication: LED and LCD

English dd.mm.yyyy 0741 Operat. meas. current L1 side 1 [A] is 0744 Operat. meas. current L1 side 2 [A] is 0543 Prot.funct.which has picked up 0544 Prot. funct. which has tripped With trip command

7200 7209 7211 7215 7216 7221 7222 7225 7226 7235

PC AND SYSTEM INTERFACES Device type Data format for PC-interface Transmission baud rate for PC-interface Parity and stop-bits for PC-interface Data format for system-interface Measurement format for system-interface Transmission baud rate for system-interface Parity and stop-bits for system-interface Parameterizing via system-interface

35 DIGSI V3 9600 Baud DIGSI V3 VDEW extended VDEW extended 9600 Baud VDEW/DIGSI V3/LSA no

7400 7402 7410 7411 7412 7431 7432 7490

FAULT RECORDINGS Initiation of data storage Maximum time period of a fault recording Pre-trigger time for fault recording Post-fault time for fault recording Storage time by initiation via binary input Storage time by initiation via keyboard Length of fault record (former LSA)

Storage by fault det 3.00 s 0.50 s 0.10 s 1.00 s 1.00 s <=3000 val. var

7800 7801 7816 7821 7824 7825 7830 7831 7885

SCOPE OF FUNCTIONS Selection of the protected object Differential protection Back-up overcurrent protection Thermal overload protection 1 Thermal overload protection 2 External trip function 1 External trip function 2 Parameter change-over

2winding-transformer Existent Reference side 1 Reference side 1 Reference side 2 Non-existent Non-existent Non-existent


7899 Rated system frequency

fN 60 Hz

Device control 8300 VDEW-MODE OF THE ANNUNCIATIONS AND MEAS. VAL. 8301 Testing via system-interface off Marshalling 6100 MARSHALLING BINARY INPUTS 6101 Binary input 1 001 0011 >User defined annunciation 1 active with voltage 6102 Binary input 2 001 0391 >Warning stage from Buchholz protection active with voltage 6200 MARSHALLING SIGNAL RELAYS 6201 Signal relay 1 001 0051 Device operative / healthy 6202 Signal relay 2 001 2412 Back-up overcurrent: Fault detection L1 002 2413 Back-up overcurrent: Fault detection L2 003 2414 Back-up overcurrent: Fault detection L3 004 5621 Diff. prot.: IDIFF> time delay started 005 5622 Diff. prot.: IDIFF>> time delay started 006 5681 Diff. prot.: IDIFF> L1 (without Tdelay) 007 5682 Diff. prot.: IDIFF> L2 (without Tdelay) 008 5683 Diff. prot.: IDIFF> L3 (without Tdelay) 009 5684 Diff. prot: IDIFF>> L1 (without Tdelay) 010 5685 Diff. prot: IDIFF>> L2 (without Tdelay) 011 5686 Diff. prot: IDIFF>> L3 (without Tdelay) 6203 Signal relay 3 001 0511 General trip of device 6204 Signal relay 4 001 0511 General trip of device 002 1616 Thermal overload prot.2: Warning stage 003 1566 Thermal overload prot.1: Warning stage 6300 MARSHALLING LED INDICATORS 6301 LED 1 001 5691 Differential prot.: Trip by IDIFF> memorized 6302 LED 2 001 5692 Differential prot.: Trip by IDIFF>> memorized 6303 LED 3 001 1571 Trip by thermal overload protection 1 memorized 002 1565 Thermal overload prot.1: Current warn. not memorized 003 1566 Thermal overload prot.1: Warning stage memorized 6304 LED 4 001 1621 Trip by thermal overload protection 2 memorized 002 1615 Thermal overload prot.2: Current warn. not memorized 003 1616 Thermal overload prot.2: Warning stage memorized 6305 LED 5 001 2451 Back-up overcurrent: General trip memorized


6306 LED 6 001 0141 Failure of internal 24 VDC power supply 002 0143 Failure of internal 15 VDC power supply 003 0144 Failure of internal 5 VDC power supply 004 0145 Failure of internal 0 VDC power supply

not memorized not memorized not memorized not memorized

6400 MARSHALLING TRIP RELAYS 6401 Trip relay 1 001 0511 General trip of device 6402 Trip relay 2 001 0511 General trip of device Settings Parameter set A 1100 TRANSFORMER DATA 1102 Rated voltage of winding 1 of transformer 1103 Rated apparent power of winding 1 1104 Primary rated current of CT winding 1 1105 Starpoint formation of CT winding 1 1106 Processing of zero sequence current of wind. 1 1121 Vector group numeral of winding 2 1122 Rated voltage of winding 2 of transformer 1123 Rated apparent power of winding 2 1124 Primary rated current of CT winding 2 1125 Starpoint formation of CT winding 2 1126 Processing of zero sequence current of wind. 2

88.0 kV 20.0 MVA 120 A Towards transformer Io-elimination 1 14.0 kV 20.0 MVA 800 A Towards line/busbar Io-elimination

1600 1601 1603 1604 1606 1607 1608 1610 1611 1612 1613 1614 1615 1616 1617 1618 1625 1626 1627

TRANSFORMER DIFFERENTIAL PROTECTION DATA State of differential protection on Pick-up value of differential current 0.20 I/InTr Pick-up value of high set trip 8.0 I/InTr Slope 1 of tripping characteristic 0.25 Base point 2 for slope 2 of tripping charact. 2.5 I/InTr Slope 2 of tripping characteristic 0.50 State of 2nd harmonic restraint on 2nd harmonic contend in the different. current 25 % Time for cross-blocking with 2nd harmonic 10 *1P Choice a further (n-th) harmonic restraint 5th harmonic n-th harmonic contend in the differen. current 40 % Active time for cross-blocking with n-th harm. 0 *1P Limit IDIFFmax of n-th harmonic restraint 1.5 I/InTr Max. blocking time at CT saturation +* *1P Min. restr. current for blocking at CT satur. 5.00 I/InTr Trip time delay of diff. current stage IDIFF> 0.00 s Trip time delay of diff. current stage IDIFF>> 0.00 s Reset delay after trip has been initiated 0.10 s

2100 2101 2103 2104

BACK-UP OVERCURRENT PROTECTION State of back-up overcurrent protection Pick-up value for high current stage I>> Delay time for I>>

off 6.03 I/In TI>> 0.05 s


2111 2112 2113 2114 2115 2116 2118 2121

Overcurrent time stage characteristic Pick-up value of overcurrent time stage I> Delay time for I> Pick-up value of overcurrent time stage Ip Time multiplier for Ip (inverse time IDMT) Method of RMS calculation for IDMT Reset delay after trip has been initiated Effective stage after manual closing of CB

Definite time 4.00 I/In TI> 1.05 s 6.03 I/In Tp +* s With harmonics 0.10 s Ineffective

2400 2401 2402 2403 2404 2405 2406

THERMAL OVERLOAD PROTECTION 1 State of thermal overload protection 1 K-factor for thermal overload protection 1 Time constant for thermal overload protection1 Thermal warning stage Current warning stage Calculation method for thermal stages

on 1.10 17.0 min 90 % 1.05 I/In Theta max

2500 2501 2502 2503 2504 2505 2506

THERMAL OVERLOAD PROTECTION 2 State of thermal overload protection 2 K-factor for thermal overload protection 2 Time constant for thermal overload protection Thermal warning stage Current warning stage Calculation method for thermal stages

on 1.10 2 17.0 min 90 % 1.05 I/In Theta max

2900 MEASURED VALUE SUPERVISION 2903 Symmetry threshold for current monitoring 2904 Symmetry factor for current monitoring

.50 I/In 0.50


2. Montagem da caracteristica diferencial


2.1 – Primeiro ramo

0,25 = AB / OB Idiff1 Ibias1 = 0,2 / 0,25 = 0,8

Ibias1

Start Point1 Ibias = 0 Idiff = 0,2 (1603)

End Point1 Ibias = 0,8 Idiff = 0,2


2.2 – Segundo Ramo

0,5 = 8 / (Ibias3 – 2,5) Ibias3 = 18,5

0,25 = Idiff2 / Ibias2 0,5 = (8 – Idiff2) / (18,5 – Ibias2)

(1) (2)


8 – Idiff2 = 9,25 – 0,5 Ibias2 de (1), Temos : Idiff2 = 0,25 Ibias2 Substituindo, Temos : 8 – 0,25 Ibias2 = 9,25 – 0,5 Ibias2 Ibias2 = 5 Idiff2 = 1,25 Logo : Start Point2 Ibias = 0,8 Idiff = 0,2 (1603) End Point2 Ibias = 5 Idiff = 1,25


2.3 – Terceiro Ramo Start Point3 Ibias = 5 Idiff = 1,25

End Point3 Ibias = 18,5 Idiff = 8 (1604)


3 – Curva de Restrição Harmonica 1610 1611 1612 1613 1614

State of 2nd harmonic restraint 2nd harmonic contend in the different. current Time for cross-blocking with 2nd harmonic Choice a further (n-th) harmonic restraint n-th harmonic contend in the differen. current

on 25 % 10 *1P 5th harmonic 40 %


©Eng. Geraldo M. Aoun________________7UT512_______________10/04/01_____________Página 1

3. TESTES

3.1 – Diff Configuration 3.1.1 – Protected Object

O objeto a ser protegido pelo dispositivo de proteção é selecionado. O objeto protegido pode ser um Transformados, Gerador, Motor ou Barra.

O grupo da a informação sobre a conexão do objeto protegido, as possiveis conexões são :


Y (Estrela) ou D (Delta)

Ò numero de enrolamentos do transformador (somente selecionavel se o transformador é ajustado como elemento protegido).

1

2 3 4 5

1- O nome do enrolamento correspondente pode ser mudado pelo usuário, para permitir uma unica destinação para o elemento protegido. Este nome é tambem automaticamente destinado para os transformadores de corrente e os transformadores de corrente de terra na pagina CT.

2- Tensão nominal do enrolamento correspondente do elemento protegido. 3 - Potencia nominal do enrolamento correspondente do elemento protegido 4 - Grupo vetorial do enrolamento correspondente do elemento protegido. Tipo de Objeto HV LV D0 Y0 D0 Y 30 D0 Y 330

Ajuste HV D D D

LV Y0 Y1 Y 11

Referencia fasorial HV LV 0 0 0 30 lag 0 30 lead


A seleção de faltas tipo monofásicas no modulo de teste não significa que a corrente de terra (corrente de sequencia zero) seja simulada corretamente. Na verdade, o parametro “Startpoint grounding” é critico aqui. Isto significa que a corrente de sequencia zero pode somente fluir no enrolamento se o startpoint é efetivamente aterrado para : -

O lado da falta selecionada para o modulo “Diff Configuration” O lado de referencia da caracteristica “Diff Operating” ou o modulo de tempo “Diff Trip”

5 - “Startpoint grounding” do enrolamento correspondente do elemento protegido. Este ajuste influencia o fluxo de corrente para falhas monofásicas à terra.

3.1.2 - CT

Se a caixa de verificação “Use Ground Current Measurement Inputs (CT) está selecionada, a corrente de sequencia zero do enrolamento correspondente é simulado no gerador de saida.


3.1.3 – Protection Device

A quantidade Ibias algumas vezes se refere como a quantidade de estabilização ou restrição – e usada para comparar com a quantidade Idiff para a decisão de trip. O metodo de calculo para a quantidade Ibias é determinado de acordo com o fabricante do relé e não pode ser ajustado arbitrariamente.

(|Ip| +|Is|) / k1

(Ip + Is)/ k1

(|Ip| +|Is| ±k2) / k1

Max (|Ip| , |Is|)

Siemens digital relay series 7UT51..., GEC digital relay series KBCH SEL Schweitzer digital relay series SEL5 AEG digital relay series PQ7 Vários relés convencionais GE Multilin digital Relay série SR745 ELIN digitan relay serie DRS

K1 = 1 K1 = 2 K1 = 2 K1 = 2 K1 = 1 K2 = 1 K1 = 2 K1 = 3 (Trafo 3 enrol.) K1 = 1

É o enrolamento usado para o calculo da corrente de teste de referencia de Idiff e Ibias. Isto é para o teste da caracteristica de operação e da caracteristica de tempo de trip. A falta sera sempre localizada neste lado. As correntes medidas pelos relés diferenciais são diferentes em valores absolutos e fase sob operação normal e não podem ser usados diretamente para o calculo de Idiff e Ibias. Entretanto, o relé de proteção tem de definir o enrolamento de referência para normalizar as correntes para o mesmo defasamento e eliminação da corrente de sequencia zero. Para que seja capaz de testar a caracteristica de operação esta referencia tem que ser definida para o modulo de teste. Em principio, não existem diferença no lado do transformador que é definido como referencia, mas a distribuição de


corrente nas fases e seus valores absolutos e defasamentos são diferentes para cada enrolamento de referencia, dependendo o grupo vetorial para falhas monofásicas ou bifasicas.

Os valôres absolutos das correntes medidas no transformador para o enrolamento de referencia pelo ajuste do grupo vetorial e eliminação de sequencia zero são diferentes devido a diferentes relações de enrolamentos do transformador. Entretanto, os valores absolutos padronizados das correntes nas extremidades para serem comparadas são diferentes para cada fabricante de relé, A corrente nominal do objeto protegido ou do TC do enrolamento com a maior potencia. Esses parametros são essenciais e tem de ser solicitados aos fabricantes de relés se houver alguma duvida com relação a isso. Ajustes errados levam a testes indefinidos.

Deve ser marcada para testes em relés diferenciais convencionais sem compensação de defasamento.

Test Max. Restringe o maximo tempo de teste para proteger o relé. Delay Time é o tempo entre sucessivos teste para dar o tempo de reset do relé. Estes são ajustes padrão para os parametros de teste atuais que podem ser ajustados na pagina “General test parameters”. Os parametros para o teste de relés diferenciais convencionais. Neste caso, a corrente nominal do relé ( 1 ou 5 A), tem de ser ajustada com o parametro I nom na “General Page”. O ajuste dos dados para o transformador e TC não tem influência no teste, mas eles são representados no relatório.


Para transformadores com enrolamento delta-estrela aterrado, a corrente de sequencia zero irá fluir na direção do enrolamento de terra para falha faseterra. Porque a corrente de sequencia zero não flui no enrolamento delta, a corrente no relé tem de ser compensada ou corrigida pelo desbalanço causado pelo deslocamento angular sobre o transformador. A correção do angulo de fase pode ser completada pelos TC’s de interposição (metodo tradicional) ou com jumpers nos relés (eletromecanicos ou estáticos) ou computacionalmente para relés digitais. O metodo usado para eliminação de sequencia zero é critico para o teste. Entretanto, isto é necessário para selecionar o tipo de eliminação de sequencia zero utilizada. A eliminação de corrente de sequencia zero (somente relevante para falhas monofásicas), pode se ajustada. (IL –I0) – Corrente de linha de sequencia zero YD – Transformador de interposição YDY – Transformador de interposição

Ajustes e tolerâncias do relé de acordo com a planilha de dados do fabricante. 3.1.4 – Characteristc Definition

Dado trazido da pagina “Protection Device”

Campo para a entrada do ponto de partida e fim da linha (Um elemento da caracteristica a ser definida)


Slope que resulta dos pontos inicial e final.

Inicialização automatica do novo ponto de partida após a adição de uma nova linha. Mostra os valores dos pontos definidos da caracteristica no gráfico. Mostra as linhas de grid

Serve para definir as curvas harmonicas, afaixa de tolerancia e o atrazo da restrição harmonica. Para quase todos reles diferenciais digitais o valor lxf = constante é aplicado. O bloqueio de restrição harmonica é independente do valor da corrente diferencial. Para relés diferenciais convencionais, entretanto, o valor lxf = f(Idiff) é aplicado. O bloqueio de restrição harmonica é dependente do valor da corrente diferencial. Para lxf = constante – Linha reta Para lxf = não constante – Curva devido a concatenação de segmentos. Todos estes segmentos são definidos individualmente pelas suas coordenadas Start Idiff/In e Start Ixf/Idiff tambem por End Idiff/In e End Ixf/Idiff. Nota : No caso do relé permitir o ajuste de atrazo, note que este “time delay”(ajustado no box “time delay”) deverá ser ajustado por mais tempo que o tempo de teste maximo (como mostrado na tabela “protection device”).


4. Parametrização dos testes 4.1 – Test Data

Itest – Corrente de teste Add - Adiciona os valores de Itest à tabela de teste. Add Sweep - Adiciona a sequencia de valores de Itest, começando com “Start Value”, o valor de Itest é incrementado pelo “Step Size” até o valor de “End Value” . Remove - Deleta os pontos de teste selecionados na tabela. Table - On the far left of the table the current state is displayed with an icon: Nesta tabela, entram os valores de Itest. Os valores nominais do correspondente ao valor de Idiff é mostrado para comparação. Pontos de teste podem ser adicionados entrando no campo Itest e clicando o botão “Add”. O numero de pontos de teste podem ser adicionados pressionando o botão “Add Sweep” e especificando a sequencia de pontos de teste.

4.2 - Test


Data Input - É possivel especificar quais valores serão lidos/medidos. É possivel escolher entre os valores Primary ou Secondary ou Tertiary em magnitude e angulo, ou valores de Idiff e Ibias. Os campos de entrada mudam por conseguinte. Os dados preenchidos aqui, serão incluidos do relatório do teste. Test Status - O Status do teste é mostrado em forma de Itest e Status. Test Assessment - O teste pode ser manualmente classificado como “Passed” ou “Failed” 4.3 – General

Ajusta que enrolamentos serão testados e que enrolamentos estão no lado da falta e no lado da fonte. Todas testes são possiveis, onde o enrolamento primário é envolvido. Por isso duas possibilidades de teste resultam para transformadores de dois enrolamentos e quatro para transformadores de tres enrolamentos. Ajuste de “Load Side” e Iload – I load é usado somente se o checkbox Iload é marcado. Somente possivel para o teste de objetos com 3 enrolamentos.


©Eng. Geraldo M. Aoun_____________________REG216____________________29/09/96___________________Página 1

CURSO CAIXA DE TESTES OMICRON RELÉ REG216 – ABB 1 - FUNÇÃO DIFERENCIAL GERADOR 87G

1.1 - Ajustes e Cálculos

Diff-Transf | pnr 1 | 87G 1 0 2 1 17 0 0

RunOnCPU CopyOfFunc ParSet4..1 Trip 01-08 Trip 09-16 Trip 17-24 Trip 25-32

0.10 0.25 1.25

g v b

1.00 5 1.33 0 4 4 1.33 0 4 1 1.00 0 0 0 0 1 0 1 0 1 0 2 0 2 0 2 0 2 10 2 0 0 0 0

g-High I-Inst a1 s1 CurrentInp1 a2 s2 CurrentInp2 a3 s3 CurrentInp3 InrushInp HighSetInp BlockInp Trip Trip-R Trip-S Trip-T InrushRatio InrushTime Inrush Stabilizing


1.2 - Montagem da caracteristica diferencial

C A

D B

O

g v b

0,10 0,25 1,25

g-High I-Inst

1,00 5,00

1.2.1 - Primeiro Ramo

0,25 = AB/OB 0,25 = 0,1 / OB => OB = 0,4 Ibias1 = 0,4


Start Point1 Ibias1 = 0 Idiff1 = 0,1 End Point1 Ibias1 = 0,4 Idiff1 = 0,1


1.2.2 – Segundo Ramo

0,25 = CD / OC 0,25 = CD / 1,25 => CD = 0,3125 Idiff2 = 0,3125

Start Point2 Ibias2 = 0,4 Idiff2 = 0,1 End Point2 Ibias2 = 1,25 Idiff2 = 0,3125


1.2.3 – Terceiro Ramo Start Point3 Ibias3 = 1,25 Idiff3 = 0,3125 End Point3 Ibias3 = 1,25 Idiff3 = 5


1.3 – Curva de Restrição Harmonica

InrushRatio InrushTime

10 2


2 - FUNÇÃO DIFERENCIAL GERADOR 87G 2.1 - AJUSTES E CÁLCULOS 4

Diff-Transf | pnr 1 | 87TG 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 1 Trip 01-08 3 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 0.30 g 0.25 v 1.50 b 1.50 g-High 10 I-Inst 1.39 a1 0 s1 4 16 CurrentInp1 1.33 a2 11 s2 4 13 CurrentInp2 1.33 a3 11 s3 4 19 CurrentInp3 0 1 InrushInp 29 15 HighSetInp 0 1 BlockInp 0 0 Trip 0 2 Trip-R 0 2 Trip-S 0 2 Trip-T 10 InrushRatio 2 InrushTime 0 0 Inrush 0 0 Stabilizing


2.2 – Montagem da característica diferencial

g v b

0,30 0,25 1,50

g-High I-Inst

1,50 10,00

2.2.1 – Primeiro Ramo

0,25 = AB / OB = 0,30/ Ibias1 Ibias1 = 0,30/0,25 Ibias1 = 1,2


Start Point1 Ibias1 = 0 Idiff1 = 0,3 End Point1 Ibias1 = 1,2 Idiff1 = 0,3


2.2.2 – Segundo Ramo

0,25 = CD / OC 0,25 = CD / 1,50 => CD = 0,375 Idiff2 = 0,375

Start Point2 Ibias2 = 1,2 Idiff2 = 0,3 End Point2 Ibias2 = 1,50 Idiff2 = 0,375


2.2.3 – Terceiro Ramo Start Point3 Ibias3 = 1,50 Idiff3 = 0,375 End Point3 Ibias3 = 1,5 Idiff3 = 10


2.3 – Curva de Restrição Harmonica

InrushRatio InrushTime

10 2


3 - FUNÇÃO UNDERIMPEDÂNCIA

3.1 - Ajustes e Cálculos FType. Underimped | pnr 1 | 21-1 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 33 Trip 01-08 1 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 0.20 Delay 0.094 Z-Setting 3 NrOfPhases 4 13 CurrentInp 4 22 VoltageInp 23 17 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start


4 - FUNÇÃO MÍNIMA REATANCIA (40)

4.1 - Ajustes e Cálculos 6

18 MinReactance 1 | 40-2 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 0 Trip 01-08 0 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 2.00 Delay -1.00 XA-Setting -0.29 XB-Setting 3 NrOfPhases 4 13 CurrentInp 4 22 VoltageInp 30 Angle 23 17 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start -1 MaxMin


5 - FUNÇÃO SOBRECORRENTE TEMPO INVERSO (51N)

5.1 - Ajustes e Cálculos 13

Current-Inv | pnr 1 | 51N 1 RunOnCPU 0 CopyOfFunc 2 ParSet4..1 5 Trip 01-08 1 Trip 09-16 0 Trip 17-24 0 Trip 25-32 1 c-Setting 10.00 k1-Setting 1.00 I-Start 1 NrOfPhases 4 7 CurrentInp 0.80 IB-Setting 0 1 BlockInp 0 2 Trip 0 2 Start 0.00 t-min


Onde : R(IT) – Tempo teórico de Trip em Segundos A, B, P, Q, K1 e K2 - Parâmetros a serem ajustados pelo usuário para o ajuste fino da característica. Parâmetros controláveis pelo software : D Is In IT

Dial de Tempo ou índice da curva de tempo (Ajuste de tempo para a região De trip I>) Índice da curva de corrente (Ajuste de Ipickup para a região de trip I>) Corrente Nominal (Normalmente 1A ou 5 A) Corrente de teste

Curso OMICRON Eletronorte

Recommend Documents