Codigo ASME Seccion V Articulo 7- 2010 en Español

ARTÍCULO 7 EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS – MAGNÉTICAS – CÓDIGO CÓDIGO ASME SECCION V – V – 2010 2010

Preparado por: Ing. William José Mendoza C.I.V: 202734, CAWI/AWS Nº 98080574

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CONTENIDO

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Artículo 7 Examinación por Partículas Magnéticas……………………………………………………4 Magnéticas……………………………………………………4 T-710 ALCANCE…………………………………… ALCANCE…………………………………………………………………………………………… ………………………………………………………………….4 ………….4 T-720 T-720 GENERAL……………………………………………… GENERAL………………………………………………………………………………………………… ………………………………………………………..4 ……..4 T-721 T-721 Requerimientos de los procedimientos escritos………………………………………4 T-721.1 T-721.1 Requerimientos……………………………………… Requerimientos…………………………………………………………………………………… ……………………………………………4 4 T-721.2 Calificación de procedimientos…………………………………………………………….5 procedimientos…………………………………………………………….5 T-730 T-730 EQUIPOS………………………………………………………… EQUIPOS……………………………………………………………………………………………………… ……………………………………………..5 ..5 T-731 T-731 Medio de examinación……………………………………………………………………………5 examinación……………………………………………………………………………5 T-740 T-740 REQUERIMIENTOS REQUERIMIENTOS DIVERSOS………………………………………………………………… DIVERSOS………………………………………………………………………….5 ……….5 T-741.1 T-741.1 Preparación………………………………………………………………… Preparación………………………………………………………………………………………..5 ……………………..5 T-741.2 T-741.2 Aumento de contraste superficial No magnético…………………… magnético…………………………………7 ……………7 T-750 T-750 TÉCNICA…………………………………………………………… TÉCNICA………………………………………………………………………………………………………… ……………………………………………7 7 T-751 T-751 Técnicas…………………………… Técnicas…………………………………………………………………………………… ……………………………………………………………………7 ……………7 T-752 T-752 Técnicas de las pinzas (Prods)…………………………………………………………………7 (Prods)…………………………………………………………………7 T-752.1 T-752.1 Procedimiento de magnetización………………… magnetización…………………………………………………………7 ………………………………………7 T-752.2 T-752.2 Corriente magnetizante……………………………………………………………………….7 magnetizante……………………………………………………………………….7 T-752.3 Separación de las pinzas………………………………………………………………………7 T-753 T-753 Tecnica de magnetización longitudinal……………………………………………………………8 T-753.1 T-753.1 Procedimiento de magnetización………………………………………………………..8 magnetización………………………………………………………..8 T-753.2 T-753.2 Densidad de campo magnético……………………… magnético……………………………………………………………8 ……………………………………8 T-753.3 T-753.3 Corriente magnetizante………………………………………………………………………9 magnetizante………………………………………………………………………9 T-754 T-754 Tecnicas de magnetización circular………………………………………………………………..9 circular………………………………………………………………..9 T-754.1 T-754.1 Técnicas de contacto directo………………………………………………………………9 directo………………………………………………………………9 T-754.2 T-754.2 Técnica del d el conductor central…………………………………………………………..10 central…………………………………………………………..10 T-755 T-755 Técnica del Yugo………………………………………………………………………………………….11 Yugo………………………………………………………………………………………….11 T-756 T-756 Técnica de magnetización multidireccional………………………………………………….11 T-756.1 T-756.1 Procedimiento de magnetización……………………………………………………..11 magnetización……………………………………………………..11 T-756.2 T-756.2 Densidad del campo magnético………………………………………………………. magnético………………………………………………………. 12 T-760 T-760 CALIBRACIÓN……………………………………… CALIBRACIÓN……………………………………………………………………………………… ………………………………………………………12 ………12 T-761 T-761 Frecuencia de la calibración…………………………… calibración………………………………………………………………………..12 …………………………………………..12 T-761.1 T-761.1 Equipos de magnetización……………………………………………………………….12 magnetización……………………………………………………………….12 T-761.2 T-761.2 Medidores de luz…………………………………………………………………………….12 luz…………………………………………………………………………….12 T-762 T-762 Energía de levante de los Yugos…………………………………………………………………..12 Yugos…………………………………………………………………..12 T-763 T-763 Gausímetros…………………………………………………… Gausímetros………………………………………………………………………………………………..13 …………………………………………..13 T-764 T-764 Suficiencia y dirección del campo magnético………………………………………………..13 magnético………………………………………………..13 T-764.1 Suficiencia del campo magnético………………………………………………………13 T-764.1.1 Indicadores de campo de partículas magnéticas de forma de torta..14 T-764.1.2 T-764.1.2 Shims de falla artificial………………………… artificial…………………………………………………………………..15 ………………………………………..15 T-764.1.3 T-764.1.3 Exploración del campo tangencial del efecto Hall…………………………..15 Hall…………………………..15 T-764.2 Dirección del campo magnético………………………………………………………..15 magnético………………………………………………………..15 T-764.2.1 Para las técnicas de magnetización multidireccional……………………… 16 T-764.3 T-764.3 Determinación de la suficiencia…………………………………………………………16 suficiencia…………………………………………………………16 T-765 T-765 Contaminación y concentración de las partículas magnéticas……………………….16 T-765.1 T-765.1 Concentración……………… Concentración…………………………………………………… …………………………………………………………………..16 ……………………………..16 T-765.2 T-765.2 Volúmenes de la sedimentación………………………………………………………..17 sedimentación………………………………………………………..17 Prohibida la reproducción reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332 vía,[email protected],04163332202 202 Página 2

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Artículo 7 Examinación por Partículas Magnéticas……………………………………………………4 Magnéticas……………………………………………………4 T-710 ALCANCE…………………………………… ALCANCE…………………………………………………………………………………………… ………………………………………………………………….4 ………….4 T-720 T-720 GENERAL……………………………………………… GENERAL………………………………………………………………………………………………… ………………………………………………………..4 ……..4 T-721 T-721 Requerimientos de los procedimientos escritos………………………………………4 T-721.1 T-721.1 Requerimientos……………………………………… Requerimientos…………………………………………………………………………………… ……………………………………………4 4 T-721.2 Calificación de procedimientos…………………………………………………………….5 procedimientos…………………………………………………………….5 T-730 T-730 EQUIPOS………………………………………………………… EQUIPOS……………………………………………………………………………………………………… ……………………………………………..5 ..5 T-731 T-731 Medio de examinación……………………………………………………………………………5 examinación……………………………………………………………………………5 T-740 T-740 REQUERIMIENTOS REQUERIMIENTOS DIVERSOS………………………………………………………………… DIVERSOS………………………………………………………………………….5 ……….5 T-741.1 T-741.1 Preparación………………………………………………………………… Preparación………………………………………………………………………………………..5 ……………………..5 T-741.2 T-741.2 Aumento de contraste superficial No magnético…………………… magnético…………………………………7 ……………7 T-750 T-750 TÉCNICA…………………………………………………………… TÉCNICA………………………………………………………………………………………………………… ……………………………………………7 7 T-751 T-751 Técnicas…………………………… Técnicas…………………………………………………………………………………… ……………………………………………………………………7 ……………7 T-752 T-752 Técnicas de las pinzas (Prods)…………………………………………………………………7 (Prods)…………………………………………………………………7 T-752.1 T-752.1 Procedimiento de magnetización………………… magnetización…………………………………………………………7 ………………………………………7 T-752.2 T-752.2 Corriente magnetizante……………………………………………………………………….7 magnetizante……………………………………………………………………….7 T-752.3 Separación de las pinzas………………………………………………………………………7 T-753 T-753 Tecnica de magnetización longitudinal……………………………………………………………8 T-753.1 T-753.1 Procedimiento de magnetización………………………………………………………..8 magnetización………………………………………………………..8 T-753.2 T-753.2 Densidad de campo magnético……………………… magnético……………………………………………………………8 ……………………………………8 T-753.3 T-753.3 Corriente magnetizante………………………………………………………………………9 magnetizante………………………………………………………………………9 T-754 T-754 Tecnicas de magnetización circular………………………………………………………………..9 circular………………………………………………………………..9 T-754.1 T-754.1 Técnicas de contacto directo………………………………………………………………9 directo………………………………………………………………9 T-754.2 T-754.2 Técnica del d el conductor central…………………………………………………………..10 central…………………………………………………………..10 T-755 T-755 Técnica del Yugo………………………………………………………………………………………….11 Yugo………………………………………………………………………………………….11 T-756 T-756 Técnica de magnetización multidireccional………………………………………………….11 T-756.1 T-756.1 Procedimiento de magnetización……………………………………………………..11 magnetización……………………………………………………..11 T-756.2 T-756.2 Densidad del campo magnético………………………………………………………. magnético………………………………………………………. 12 T-760 T-760 CALIBRACIÓN……………………………………… CALIBRACIÓN……………………………………………………………………………………… ………………………………………………………12 ………12 T-761 T-761 Frecuencia de la calibración…………………………… calibración………………………………………………………………………..12 …………………………………………..12 T-761.1 T-761.1 Equipos de magnetización……………………………………………………………….12 magnetización……………………………………………………………….12 T-761.2 T-761.2 Medidores de luz…………………………………………………………………………….12 luz…………………………………………………………………………….12 T-762 T-762 Energía de levante de los Yugos…………………………………………………………………..12 Yugos…………………………………………………………………..12 T-763 T-763 Gausímetros…………………………………………………… Gausímetros………………………………………………………………………………………………..13 …………………………………………..13 T-764 T-764 Suficiencia y dirección del campo magnético………………………………………………..13 magnético………………………………………………..13 T-764.1 Suficiencia del campo magnético………………………………………………………13 T-764.1.1 Indicadores de campo de partículas magnéticas de forma de torta..14 T-764.1.2 T-764.1.2 Shims de falla artificial………………………… artificial…………………………………………………………………..15 ………………………………………..15 T-764.1.3 T-764.1.3 Exploración del campo tangencial del efecto Hall…………………………..15 Hall…………………………..15 T-764.2 Dirección del campo magnético………………………………………………………..15 magnético………………………………………………………..15 T-764.2.1 Para las técnicas de magnetización multidireccional……………………… 16 T-764.3 T-764.3 Determinación de la suficiencia…………………………………………………………16 suficiencia…………………………………………………………16 T-765 T-765 Contaminación y concentración de las partículas magnéticas……………………….16 T-765.1 T-765.1 Concentración……………… Concentración…………………………………………………… …………………………………………………………………..16 ……………………………..16 T-765.2 T-765.2 Volúmenes de la sedimentación………………………………………………………..17 sedimentación………………………………………………………..17 Prohibida la reproducción reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332 vía,[email protected],04163332202 202 Página 2

T-765.3 T-765.3 Contaminación……………………………………………………… Contaminación………………………………………………………………………………………….17 ………………………………….17 T-766 T-766 Ejecución de sistemas de unidades horizontales………………… horizontales…………………………………………..18 ………………………..18 T-770 T-770 EXAMINACIÓN………………………………………………… EXAMINACIÓN……………………………………………………………………………………………..19 …………………………………………..19 T-771 T-771 Examinación primaria……………………………………………………… primaria…………………………………………………………………………………..19 …………………………..19 T-772 T-772 Dirección de la magnetización……………………………………………………………………….19 magnetización……………………………………………………………………….19 T-773 T-773 Método de examinación………………… examinación………………………………………………………… …………………………………………………………….19 …………………….19 T-774 T-774 Cobertura de la examinación…………………………………………………………………………20 examinación…………………………………………………………………………20 T-775 T-775 Corriente rectificada……………………………………………………………………………………..2 rectificada……………………………………………………………………………………..20 0 T-776 T-776 Remoción del exceso de partículas……………………………………………………………….21 partículas……………………………………………………………….21 T-777 T-777 Interpretación……………………………………………………… Interpretación………………………………………………………………………………………………21 ………………………………………21 T-777.1 Partículas magnéticas visibles (contraste (contraste de color)……………………………..21 color)……………………………..21 T-777.2 T-777.2 Partículas magnéticas fluorescentes con luz negra……………………………..21 negra……………………………..21 T-777.3 Partículas magnéticas fluorescentes con otras longitudes de ondas de excitación fluorescentes…………………………………………… fluorescentes………………………………………………………………………………………… ……………………………………………22 22 T-778 T-778 Desmagnetización…………………………………………………… Desmagnetización…………………………………………………………………………………………22 ……………………………………22 T-779 T-779 Limpieza posterior a la examinación……………………… examinación……………………………………………………………..23 ……………………………………..23 T-780 EVALUACIÓN……………………………… EVALUACIÓN……………………………………………………………………………………… …………………………………………………………………23 …………23 T-790 DOCUMENTACIÓN……………………………………… DOCUMENTACIÓN………………………………………………………………………………… ………………………………………………..23 ……..23 T-791 Magnetización Multidireccional………………… Multidireccional……………………………………………………………… …………………………………………………23 ……23 T-792 T-792 Registro de las indicaciones…………………………… indicaciones………………………………………………………………………… …………………………………………….23 .23 T-792.1 T-792.1 Indicaciones I ndicaciones No rechazables…………………………………………………………… rechazables……………………………………………………………..23 ..23 T-792.2 T-792.2 Indicaciones rechazables…………………………………………………………………..23 rechazables…………………………………………………………………..23 T-793 T-793 Registros de la examinación………………………………………………………………………….23 examinación………………………………………………………………………….23 Figuras T-754.2.1 Técnica de Conductor Central de Paso Simple y Doble…………………………….10 Doble…………………………….10 T-754.2.2 La Examinación de la Región Efectiva Efectiva Cuando se Usa un Conductor Central Central Descentrado………………………………………………………………………………………………………….11 Descentrado………………………………………………………………………………………………………….11 T-764.1.1 Indicador de Campo Campo de Forma de Torta Torta de Partículas Magnéticas………….13 Magnéticas………….13 T-764.1.2.1 Shims de Falla Artificial………………………………………………………………………..14 Artificial………………………………………………………………………..14 T-764.1.2.2 Shims de Falla Artificial………………………………………………………………………..16 Artificial………………………………………………………………………..16 T-766.1 Anillo de Ensayo Ensayo Ketos (Betz)………………………………………………………………… (Betz)…………………………………………………………………….20 ….20 Tablas T-721 Requerimientos de un Procedimiento por Partículas Part ículas Magnéticas……………………6 Magnéticas……………………6


ARTÍCULO 7 EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS PARTÍCULAS MAGNÉTICAS T-710 ALCANCE Cuando se especifica mediante la sección del Código de referencia, las técnicas de examinación por partículas magnéticas descritas en este artículo deberán ser usadas. En general, este artículo esta en conformidad con SE-709, Guia estándar Para la Examinación Por Partículas Magnéticas. Este documento suministra detalles a ser considerados en el procedimiento usado. Cuando este artículo esta especificado mediante una sección del Código de referencia, el método por partículas magnéticas descrito en este artículo deberá ser usado junto con el Artículo I, Los requerimientos generales. La definición de términos usados en este artículo esta en el apéndice obligatorio II. T-720 GENERAL El método de examinación por partículas magnéticas es aplicado para detectar grietas y otras discontinuidades en las superficies de materiales ferromagnéticos. La sensibilidad es la mayor para discontinuidades superficiales y disminuye rapidamente con el aumento de la profundidad de las discontinuidades por debajo de la superficie. Los tipos típicos de discontinuidades que pueden ser detectados por este método son grietas, solapes, costuras, colds Shuts, y laminaciones. Al principio, este método trae consigo magnetizar un área para ser examinada, y aplicar las partículas ferromagnéticas (el medio de examinación) a la superficie. El patrón de partículas se forma sobre la superficie donde el campo magnético es forzado a salir de la pieza y sobre las discontinuidades para causar un campo de fuga que atrae las partículas. Los patrones de partículas son por lo general característicos del tipo de discontinuidad que es detectada. Cualquiera que sea la técnica usada para producir el flujo magnético en la pieza, la sensibilidad máxima será para las discontinuidades lineales orientadas perpendicular a las líneas de flujo. Para la efectividad optima en la detección de todos los tipos de discontinuidades, cada área que va a ser examinada se debe magnetizar al menos dos veces, con las líneas de flujo durante una examinación que sea aproximadamente perpendicular a las líneas de flujo durante la otra. T-721 Requerimientos de los Procedimientos Escritos T-721.1 Requerimientos. La examinación por partículas magnéticas deberá ser desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito, el cual contendrá, como mínimo, los requerimientos listados en la tabla T-721. El procedimiento escrito establecerá un solo valor, o rango de valores, para cada requerimiento.


T-721.2 Calificación de Procedimientos. Cuando la calificación de procedimiento es especificada por la sección del Código de referencia, un cambio de un requerimiento en la tabla T-721.2 identificado como una variable esencial requerirá recalificación del procedimiento escrito mediante demostración. Un cambio de un requerimiento identificado como una variable no esencial no requiere recalificación del procedimiento escrito. Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales de aquellas especificadas dentro del procedimiento escrito requerirá revisión de, o una adenda para, el procedimiento escrito. T-730 EQUIPOS Deberá ser empleado medios disponibles y apropiados para producir el flujo magnético necesario en la pieza, usando una o más de las técnicas listadas y descritas en T-750. T-731 Medio de Examinación Las partículas divididas en forma menuda usadas para la examinación deberán presentar los siguientes requerimientos. (a) Tipos de partículas. Las partículas deberán ser tratadas para impartir color

(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes, o ambos) a fin de hacerlas altamente visibles (contraste) contra el fondo de la superficie que va a ser examinada. (b) Las partículas. Las partículas secas y húmedas y vehículos en suspensión deberán estar en concordancia con SE- 709. (c) Limitaciones de temperatura. Las partículas deberán ser usadas dentro de las limitaciones de los rangos de temperaturas establecidas por el fabricante de las partículas. Alternativamente, las partículas pueden ser usadas fuera de las recomendaciones del fabricante de las partículas siempre que el procedimiento este calificado en concordancia con el Artículo 1, T-150 a la temperatura propuesta. T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS T-741 Condicionamiento Superficial T-741.1 Preparación. (a) Se obtiene por lo general resultados satisfactorios cuando las superficies estan en las condiciones soldadas, laminadas, fundidas o forjadas. Sin embargo, la preparación superficial mediante esmerilado o maquinado puede ser necesaria donde las irregularidades superficiales pudieran enmascarar las indicaciones debido a las discontinuidades. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 5

TABLA T-721 REQUERIMIENTOS DE UN PROCEDIMIENTO DE EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS Requerimientos

Variable Esencial X X

Variable No Esencial ………………………… ………………………

X

………………………

X

………………………

X X

……………………… ………………………

Revestimientos existente, mayores que el espesor demostrado Aumento del contraste superficial No magnético, cuando es utilizado Demostración de ejecución, cuando sea requerido

X

………………………

Temperatura superficial de la pieza de examinación fuera del rango de temperatura recomendado por el fabricante de las partículas o como se calificó previamente. Forma y tamaño del objeto sometido a ensayo

X

Tecnica Magnetizante Tipo de corriente magnetizante o amperaje fuera del rango especificado por este artículo o como se especificó previamente Preparacion de la superficie Partículas magnéticas (Fluorescente/visible, color, tamaño de partícula, húmedo / seco) Método de aplicación de las partículas Método de la remoción del exceso de partícula Intensidad mínima de luz

X X

……………………… ……………………… ………………………

X X X

Tecnica de limpieza post ensayo

……………………… ………………………

X X

Requerimientos de calificación del personal

………………………

X

Equipo del mismo tipo Temperatura (dentro de aquellas especificadas por el fabricante o como se calificó previamente) Tecnica de desmagnetización

(b) Antes de la examinación por partículas magnéticas, la superficie que va a ser examinada y todas las áreas adyacentes dentro de al menos de 1” (25 mm) deberá estar seca y libre de todo sucio, grasa, pelusas, cascarillas de fundición, fundentes de soldadura, salpicaduras, aceites y otras materias extrañas que pudieran interferir con la examinación. (c) La limpieza puede llevarse a cabo usando detergentes, solventes orgánicos, soluciones de decapado, removedores de pintura, desengrase al vapor, chorro de arena o granalla o métodos de limpieza por ultrasonido. (d) Si se dejan revestimientos no magnéticos sobre la pieza en el área que va a ser examinada, se deberá demostrar que las indicaciones pueden ser detectadas a través del espesor máximo del revestimiento aplicado. Cuando

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se usa la tecnica de magnetización por Yugo con CA, la demostración deberá estar en concordancia con el Apéndice I obligatorio de este Artículo. T- 741.2 Aumento del Contraste Superficial No Magnético. Los contrastes superficiales no magnéticos pueden ser aplicados por el examinador para superficies no revestidas, solo en cantidades suficientes para incrementar el contraste de las partículas. Cuando se usa el aumento del contraste superficial no magnético, deberá demostrarse que las indicaciones pueden ser detectadas a través del incremento. No es requerida la medición del espesor de este incremento de contraste superficial no magnético. Nota: Referirse a T-150 (a) para guiarse para la demostración requerida en T-741.1 (d) y T-741.2.

T-750 TÉCNICA T-751 Técnicas Una o más de las siguientes cinco técnicas de magnetización deberán ser usadas: (a) (b) (c) (d) (e)

Técnica de Pinzas (Prods) Técnica de magnetización longitudinal Técnica de magnetización circular Técnica del Yugo (Yoke) Técnica de magnetización Multidireccional.

T- 752 Técnica de las Pinzas (Prods). T- 752.1 Procedimiento de magnetización. Para la técnica de pinzas, la magnetización se lleva a cabo mediante contactos eléctricos tipo pinzas portátiles presionadas contra la superficie del área que va a ser examinada. Para evitar arcos, se debe suministrar un interruptor de control remoto, el cual puede ser incorporado en los mangos de las pinzas, para permitir que la corriente sea aplicada después que las pinzas hayan sido posicionadas de manera apropiada. T- 752.2 Corriente Magnetizante. Se deberá usar corriente magnetizante directa o rectificada. La corriente deberá ser de 100 amperios/pulgs. (mínimo) (4 amperios/mm) hasta 125 amperios /pulgs. (máximo) (5 amperios/mm) de separación de las pinzas para secciones de ¾”. (19 mm) de espesor o mayores. Para secciones menores de ¾” (19 mm) de espesor, la corriente deberá ser de 90 amperios /pulgs. (3.6 amperios /mm) hasta 110 amperios /pulgs. (4.4 amperios/mm) de separación de las pinzas. T-752.3 Separación de las Pinzas. La separación de las pinzas no deberá exceder de 8” (200 mm). Se pueden usar separaciones mas cortas para adaptarse a las limitaciones geométricas del área que va a ser examinada o para incrementar la sensibilidad, Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 7

pero las separaciones de las pinzas menores de 3” (75 mm) son por lo general poco práctico debido a la acumulación de partículas alrededor de las pinzas. Las puntas delas pinzas deberán conservarse limpias y ahusadas. Si el voltaje de circuito abierto de la fuente de la corriente magnetizante es mayor que 25 voltios, se recomienda pinzas con extremos de plomo, acero, o aluminio (más que cobre) para evitar depósitos de cobre sobre la pieza que va a ser examinada. T-753 Técnica de Magnetización Longitudinal T-753.1 Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva a cabo por el paso de la corriente a través de una bobina fija de múltiples vueltas (o cables) que se enrollan alrededor de la pieza o sección de la pieza que va a ser examinada. Esto produce un campo magnético longitudinal paralelo al eje de la bobina. Si se usa una bobina pre- devanada fija, la pieza deberá estar ubicada cerca del lado de la bobina durante la inspeccion. Esto es de vital importancia cuando la abertura de la bobina es más de 10 veces el área de la sección transversal de la pieza. T- 753.2 Densidad de campo magnético. La corriente directa o rectificada deberá ser usada para magnetizar las partes examinadas por esta técnica. La densidad de campo requerido deberá ser calculado basado en la longitud L y el diámetro D de la pieza en concordancia con T-753.2 (a) y (b), o como se establece en (d) y (e), más adelante. Las piezas largas deberán ser examinadas en secciones que no excedan 18” (450 mm), y deberá usarse 18” (450 mm) para la parte L para calcular la densidad de campo requerida. Para partes cilíndricas, el diámetro D deberá ser la máxima sección diagonal. (a)

Piezas con la relación L/D igual o mayor que 4. La corriente magnetizante deberá estar dentro de ± 10% del valor vuelta-amperios determinado como sigue:

Vuelta – Amperios = 35.000 / [(L/D)+2], por ejemplo una pieza de 10” (250 mm) de largo X 2” (50 mm) de diámetro tiene una relación L/D de 5”. Por lo tanto,

35.000/[(10/2) +2] = 5000 vueltas – amperios (b)

Piezas con la relación L/D menor que 4 pero no menor de 2. La corriente magnetizante vueltas- amperios deberá estar dentro de ± 10% del valor vuelta – amperios determinado como sigue:

Vueltas – amperios = 45.000/ (L/D)


(c) (d)

(e)

Piezas con la relación L/D menor que 2. No se puede usar la tecnica de magnetización con bobina. Si el área que va ser magnetizada de extiende mas allá de 9” (225 mm) en cualquier lado del centro de la bobina, se deberá demostrar la suficiencia del campo usando un indicador de campo magnético o Shims de fallas artificiales. Según T-764. Para grandes piezas debido a su forma y tamaño, la corriente magnetizante deberá ser de 1200 vueltas-amperios hasta 4500 vueltasamperios. La suficiencia del campo deberá ser demostrada usando Shims de falla artificial o un indicador de campo magnético en forma de torta en concordancia con T-764. Un Gausímetro de prueba de Efecto Hall no deberá ser usado con las técnicas de magnetización de bobina envolvente.

T-753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener la densidad de campo necesario deberá ser determinada por dividir las vueltas-amperios obtenidas en los pasos T-753.2 (2) ó (b) entre el número de vueltas en la bobina como sigue:

Amperios (lectura en metros)= (vueltas – amperios) /vueltas Por ejemplo, si se usa una bobina de 5 vueltas y las vueltas- amperios requeridas son 5000, usar

5000/5= 1000 (± 10) T-754 Técnicas de Magnetización Circular T-754.1 Técnica de Contacto Directo (a) Procedimiento de magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva a cabo mediante el paso de corriente a través de la pieza a examinar. Esto produce un campo magnético circular que es perpendicular a la dirección del flujo de corriente en la pieza. (b) Corriente magnetizante. Deberá usarse corriente magnetizante directa o rectificada (media onda rectificada ú onda completa rectificada) (1) La corriente deberá ser de 300 amper/pulgs. (12 Amps/mm) para 800 amp/pulg. (31 Amps/mm) de diámetro exterior. (2) Las piezas con formas geométricas diferentes a las redondas con la diagonal seccional transversal más grande en un plano en un ángulo recto al flujo de corriente determinará las pulgadas que van a ser usadas en T-754.1 (b) (1) antes mencionado. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 9

(3) Si los niveles de corriente requeridos por (b) (1) no pueden ser obtenidos, se debe usar la máxima corriente asequible y la suficiencia del campo deberá ser demostrada en concordancia con T-764. T-754.2 Técnica del Conductor Central (a) Procedimiento magnetizante. Para esta técnica, se usa un conductor central para examinar las superficies internas de las piezas de forma de anillo o cilíndricas. La técnica del conductor central también pueden ser usadas para examinar las superficies externas de estos tipos de formas. Donde los cilindros de gran diámetro van a ser examinados, el conductor deberá ser posicionado cerca de la superficie interna del cilindro. Cuando en conductor no está centrado, la circunferencia del cilindro deberá ser examinado en pequeñas porciones. Se deberá usar las mediciones de la densidad de campo en concordancia con T-764 FIG. T-754.2.1 TECNICA DE CONDUCTOR CENTRAL DE PASO SIMPLE Y DOBLE

para determinar la extensión del arco que puede ser examinado para cada posicion del conductor o las reglas en T-754.2 (c) antes mencionado puede aplicarse. Las barras o cables, que pasan a través del hueco de un cilindro, pueden ser usadas para inducir la magnetización circular. (b) Corriente Magnetizante. La densidad de campo requerida deberá ser igual a aquella determinada en T-754.1 (b) para un conductor central de una sola vuelta. El campo magnético aumentará en proporción al número de veces que el cable del conductor central pasa a través de la parte hueca. Por ejemplo, si se requieren 6000 amperios para examinar una pieza usando un conductor central de pase simple, entonces son requeridos 3000 amperios cuando se use un conductor de pase doble, y 1200 amperios son requeridos si se usan 5 pases (Ver Figura T-754.2.1). Cuando se use la técnica del conductor central,


la suficiencia del campo magnético deberá ser verificada usando un indicador de campo de partículas magnéticas en concordancia con T-764. (c) Conductor Central Desalineado. Cuando el conductor pasa a través del interior de la pieza es ubicado contra la pared interior de la pieza, los niveles de corriente, así dados en T-754.1 (b) (1) aplicarán, excepto aquél diámetro usado para el cálculo de la corriente deberá ser la suma del diámetro del conductor central y dos veces el espesor de la pared. La distancia a lo largo de la circunferencia de la pieza (exterior) que es efectivamente magnetizado deberá ser tomado como cuatro veces el diámetro del conductor central, como se ilustra en la figura T-754.2.2. La circunferencia completa deberá ser inspeccionada mediante la rotación de la parte en el conductor, dejando aproximadamente un solape de campo magnético del 10%. T-755 Técnica de Yugo Para esta técnica, se deberán usar los yugos electromagnéticos de corriente alterna o directa, o yugos de imanes permanentes T-756 Técnica de Magnetización Multidireccional T-756.1 Procedimiento de Magnetización. Para esta técnica, la magnetización se lleva a cabo mediante paquetes de energía de alto amperaje que operan tanto como tres circuitos que son energizados uno a la vez en rápida sucesión. FIG. T-754.2.2 LA EXAMINACIÓN DE LA REGIÓN EFECTIVA CUANDO SE USA UN CONDUCTOR CENTRAL DESALINEADO

El efecto de estas corrientes magnetizante alternas rápidas es producir una magnetización total de la pieza en múltiples direcciones. Los campos magnéticos


circular o longitudinal pueden ser generados en cualquier combinación usando las tecnicas diversas descritas en T-753 y T-754. T-756.2 Densidad de Campo Magnético. Solamente corriente rectificada de onda completa, de tres fases deberá ser usada para magnetizar la pieza. Los requerimientos de la corriente magnetizante inicial para cada circuito deberá ser establecido usando las guías descritas previamente (Ver T-753 y T-754). La suficiencia del campo magnético deberá ser demostrada usando Shims de fallas artificiales o un indicador de campo de partículas magnéticas de forma de torta en concordancia con T-764. Un Gaussímetro explorador del efecto Hall no deberá ser usado para medir la suficiencia del campo para la técnica de magnetización multidireccional. Un campo adecuado deberá obtenerse al menos en dos direcciones perpendiculares aproximadamente, y las intensidades del campo deberan estar balanceadas a fin de que un campo fuerte en una dirección no domine el campo en la otra dirección. Para las áreas donde las densidades de campo adecuado no pueden ser demostradas, deberán ser usadas tecnicas de partículas magnéticas adicionales para obtener la cobertura requerida en dos direcciones. T-760 CALIBRACIÓN T-761 Frequencia de Calibración T-761.1 Equipos de Magnetización (a) Frecuencia. El equipo de magnetización deberá ser calibrado con un amperímetro al menos una vez al año, o todas las veces que el equipo haya estado sometido a una reparación eléctrica mayor, revisión periódica, o daños. Si el equipo no ha estado en uso por un año o mas, debe hacerse la calibración antes del primer uso. (b) Procedimiento. La precisión del medidor de la unidad deberá ser verificado anualmente mediante la trazabilidad del equipo a un estándar nacional. Deben ser tomadas lecturas comparativas por lo menos a tres diferentes niveles de salida de corriente que abarca el rango usual. (c) Tolerancia. La lectura del medidor de la unidad no deberá desviarse por más del ±10% de la escala completa, relativo al valor de la corriente actual como se muestra por el medidor de ensayo. T-761.2 Medidores de luz. Los medidores de luz deberán ser calibrados al menos una vez al año o todas las veces que el medidor haya sido reparado. Si los medidores no han estado en uso por un año o más, la calibración deberá ser hecha antes de su uso. T- 762 Energía de Levante de los Yugos (a) Antes de usar, la energía magnetizante de los yugos electromagnéticos deberá revisarse anualmente. La energía magnetizante de los yugos magnéticos permanentes deberá ser inspeccionada diariamente antes de usar. La energía magnetizante de todos los yugos deberá ser revisada todas las veces que el yugo haya sido dañado o reparado. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 12

(b) Cada yugo electromagnético de corriente alterna deberá tener una energía de levante de al menos 10 libras (4.5 Kgs.) en la separación máxima del polo que será usada. (c) Cada yugo magnético permanente o de corriente directa deberá tener una energía de levante de al menos 40 libras (18 Kgs) en la separación máxima del polo que será usado. (d) Cada peso deberá ser pesado con una balanza de un fabricante respetable y calibrado con un peso nominal aplicable antes de su primer uso. Un peso solo requiere ser verificado de nuevo si se daña de una manera que pudiera haber causado perdida potencial de material. FIG. T-764.1.1 INDICADOR DE CAMPO DE PARTÍCULAS MAGNÉTICAS DE FORMA DE TORTA.

T-763 Gausímetros Los Gausímetros de prueba del efecto Hall usados para verificar la densidad del campo magnetizante en concordancia con T-754 deberá estar calibrado al menos una vez al año p todas las veces que el equipo hay sido sometido a una reparación mayor, revisión periódica, o daño. Si el equipo no ha sido usado por un año o más, la calibración deberá ser realizada antes de su primer uso. T-764 Suficiencia y Dirección del Campo Magnético T-764.1 Suficiencia del Campo Magnético. El campo magnético aplicado deberá tener suficiente densidad para producir indicaciones satisfactorias, pero no deberá ser tan fuerte porque puede enmascarar las indicaciones relevantes mediante acumulaciones no relevantes de partículas magnéticas. Los factores que influencian la densidad de campo requerido incluyen el tamaño, forma, y la permeabilidad del Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 13

material de la pieza; la técnica de magnetización; los revestimientos; el método de aplicación de las partículas; y el tipo de ubicación de las discontinuidades para ser detectadas. Cuando es necesario verificar la suficiencia de la densidad del campo magnético, se deberá verificar por el uso de uno o más de los tres métodos siguientes. T-764.1.1 Indicador de Campo de Partículas Magnéticas de Forma de Torta. El indicador, mostrado en la figura T-764.1.1, deberá ser posicionado sobre la superficie que va a ser examinada, tal que el lado de la placa de cobre esté alejada de la superficie inspeccionada. Se indica una densidad de campo apropiada cuando una línea (o líneas) claramente definida de partículas magnéticas se forman transversalmente a la cara de cobre del indicador cuando las partículas magnéticas son aplicadas simultáneamente con la fuerza magnetizante. Cuando no se forma una línea de partículas claramente definidas, deberá ser cambiada la tecnica magnetizante cuando sea requerida. Los indicadores del tipo torta se usan mejor con los procedimientos de partículas secas. FIG. T-764.1.2.1 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL


NOTA GENERAL: Lo anterior son ejemplos de Shims de falla artificial usados en la verificación del sistema de inspección por partículas magnéticas (el dibujo no esta a escala). Los Shims son construidos de acero de bajo contenido de carbono (Hoja de Acero 1005). La falla artificial es atacada o maquinada en un lado de la hoja a una profundidad del 30% del espesor de la hoja.

T- 764.1.2 Shims de Falla Artificial. Uno de los Shims mostrados en la figura T764.1.2.1 o la figura T- 764.1.2.2 cuya orientación es tal que puede tener un componente perpendicular al campo magnético aplicado deberá ser usado. Los Shims con muescas lineales deberan estar orientadas a fin de que al menos una muesca sea perpendicular al campo magnético aplicado. Los Shims solo con muescas circulares pueden ser usados en cualquier dirección. Los Shims deberán estar sujetados a la superficie para ser examinados, tal que el lado de la falla artificial del Shim este hacia la superficie inspeccionada. La densidad del campo apropiado es indicada cuando una línea claramente definida (o líneas) de partículas magnéticas, representando el 30% de profundidad de la falla, aparecen en la cara del Shim cuando las partículas magnéticas son aplicadas simultáneamente con la fuerza magnetizante. Cuando una línea de partículas claramente definida no se forma, deberá cambiarse la técnica de magnetización así requerida. Los indicadores tipo Shims son mejores usados con procedimientos de partículas húmedas. Nota: Los Shims circulares mostrados en la figura T-764.1.2.2 ilustración (b) tambien tienen profundidades de fallas menores y mayores del 30%.

T-764.1.3 Exploración del campo tangencial del efecto Hall. Un gausímetro y una sonda de campo tangencial del efecto Hall deberán ser usados para medir el valor pico de un campo tangencial. La sonda deberá ser ubicada sobre la superficie que va a ser examinada, de manera tal que la densidad máxima del campo sea determinada. Se indica una densidad de campo apropiada cuando el campo medido esta dentro del rango de 30 G hasta 60 G (2.4 kAm-1 hasta 4.8 kAm-1) mientras la fuerza magnetizante esta siendo aplicada. Ver el Artículo 7, Apéndice A No obligatorio. T-764.2 Dirección del Campo Magnético. La dirección de la magnetización deberá ser determinada mediante las indicaciones de partículas obtenidas usando un indicador o Shims como se muestra en la figura T-764.1.1 o la figura T-764.1.2. Cuando no se forma una línea de partículas claramente definidas en la dirección deseada, la técnica magnetizante deberá cambiarse así requerida.


T-764.2.1 Para las tecnicas de magnetización multidireccional, la orientación de las líneas de flujo deberán estar en al menos dos direcciones casi perpendicularmente. Cuando las líneas de partículas claramente definidas no se forman en al menos dos direcciones casi perpendiculares, la tecnica magnetizante deberá ser cambiada así requerida. T- 764.3 Determinación de la suficiencia y dirección de los campos magnéticos usando indicadores de campos magnéticos o Shims de falla artificial se permiten solamente cuando son específicamente referenciadas mediante tecnicas magnetizantes en T-753.2 (d), T-753.2 (e), T-754.1 (b) (3), T- 754.2(a), T-754.2(b), y T756.2. T-765 Contaminación y Concentración de las Partículas Húmedas. Las unidades horizontales para baños húmedos deberán tener la contaminación y concentracion del baño determinado mediante la medición de su volumen de sedimentación. Esto se lleva a cabo a través del uso de un Método de ensayo ASTM D 96 de un tubo centrífugo en forma de pera con una espiga de 1 -mL (divisiones 0.05mL) para suspensiones de partículas fluorescentes o una espiga de 1.5-mL (divisiones 0.1-mL) para suspensiones no fluorescente. Antes del muestreo, la suspensión deberá fluir a través de un sistema de recirculación por al menos 30 min. para asegurar la mezcla completa de todas las partículas las cuales pudieran haberse sedimentado en el tamíz del sumidero y a lo largo de los lados o en la base del tanque. T-765.1 Concentración. Tomar una porción de 100-mL de la suspensión de la manguera o boquilla, desmagnetizar y permitir que sedimente por aproximadamente 60 minutos con suspensiones de petróleo destilado ó 30 minutos, con suspensiones a base de agua antes de la interpretación. El volumen sedimentado en la base del tubo es indicativo de la concentración de las partículas en el baño. FIG. T-764.1.2.2 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL


T-765.2 Volúmenes de la Sedimentación. Para las partículas fluorescentes, el volúmen de sedimentación requerido es de 0.1 hasta 0.4 mL en una muestra de baño de 100-mL y de 1.2 hasta 2.4 mL por 100 mL de vehículo para partículas no fluorescentes a menos que se especifique lo contrario por el fabricante. La inspeccion de la concentracion deberá hacerse al menos cada ocho horas. T-765.3 Contaminación. Tanto las suspensiones fluorescente y las no fluorescentes deberán ser inspeccionadas periódicamente por si tienen contaminantes tales como sucio, cascarillas de fundición, aceite, pelusas, pérdida de pigmentos fluorescentes, agua (en el caso de las suspensiones a base de aceite), y aglomerado de partículas las cuales pueden afectar adversamente la ejecución del proceso de examinacion por partículas magnéticas. El ensayo para detectar la contaminación deberá desarrollarse al menos una vez a la semana.


(a) Contaminación Portadora. Para baños fluorescentes, el líquido directamente sobre el precipitado deberá ser examinado con luz de excitación fluorescente. El líquido tendrá poca fluorescencia. Su color puede ser comparado con una muestra recién hecha usando los mismos materiales o con una muestra sin usar del baño original que fue retenida para este propósito. Si la muestra “usada” es evidentemente más fluorescente que el estándar de comparación, el baño deberá ser reemplazado. (b) Contaminación de las Partículas. La porción graduada del tubo deberá ser examinada bajo luz de excitación fluorescente si el baño es fluorescente y bajo la luz visible (tanto para partículas fluorescentes y no fluorescentes) para las estrías o bandas, se diferencia en el color o apariencia. Las bandas o estrías pueden indicar la contaminación. Si el volumen total de los contaminantes, incluyendo las bandas o estrías que exceden el 30% del volumen de las partículas magnéticas, o si el líquido es evidentemente fluorescente, el baño deberá ser reemplazado. T-766 Ejecucion de Sistemas de Unidades Horizontales. La muestra de anillo Ketos (Betz) (Ver la figura. T-766.1) deberá ser usada en la evaluación y comparación de la ejecucion y sensibilidad total tanto de las técnicas por partículas magnéticas no fluorescentes y fluorescentes, secas y húmedas usando una técnica de magnetización de conductor central. (a) El Material del Anillo de Ensayo Ketos (Betz). El anillo de acero de herramientas (Ketos) deberá ser maquinado del material AISI 01 en concordancia con la Figura T-766.1. Cualquier anillo maquinado o modelo de acero deberá ser revenido a 1650ºF (900ºC), enfriado a 50ºF (28ºC) por hora a 1000 (540ºC) y luego enfriado al aire a temperatura ambiente para dar resultados comparables que usan anillos similares que hayan tenido el mismo tratamiento. El material y el tratamiento térmico son importantes. La experiencia indica que solo es insuficiente el control del ablandamiento del anillo mediante la dureza (90 a 95 HRB). (b) Uso del Anillo de Ensayo. El anillo de ensayo (Ver la Figura T-T66.1), es magnetizado circularmente con corriente CA de media onda rectificada pasándolo a través de un conductor central con un hueco de 1 pulgada hasta 11/4” (25mm a 32mm) de diámetro ubicado en el centro del anillo. El conductor deberá tener una longitud mayor de 16” (400 mm). La corrientes usadas deberán ser de 1400, y 3400 amperios. El número mínimo de huecos mostrados deberán ser tres, cinco y seis, respectivamente. El borde del anillo deberá ser examinado con cualquier luz negra o luz visible, dependiendo del tipo de partícula involucrada. Este ensayo deberá ser realizado en tres intensidades de corrientes si se debe usar la unidad en estos tipos de amperajes o mayores. Los valores del amperaje establecidos no deberán excederse en el ensayo. Si el ensayo no revela el número requeridos de huecos, el equipo deberá ser sacado de servicio y la causa de la pérdida de Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 18

sensibilidad determinada y corregida. Este ensayo deberá ser realizado al menos una vez por semana. T-770 EXAMINACIÓN T-771 Examinación Primaria Antes de que la examinación por partículas magnéticas sea llevada a cabo, se deberá conducir una revisión de la superficie sometida a la examinación para localizar cualquier discontinuidad abierta a la superficie en la cual las partículas magnéticas no puedan ser atraídas y sostenidas debido a su ancho. T-772 Dirección de la Magnetización Al menos dos examinaciones separadas deberán ser efectuadas sobre cada área. Durante la segunda examinación, las líneas del flujo magnético deberán ser aproximadamente perpendiculares a aquellas usadas durante la primera examinación. Una tecnica diferente para la magnetización deberá ser usada para la segunda examinacion. T-773 Método de Examinación. Las partículas magnéticas usadas en un medio de examinación pueden ser de cualquier tipo secas o húmedas, y pueden ser fluorescentes o no fluorescentes. (a) Partículas secas. La corriente magnetizante deberá permanecer mientras el medio de examinación está siendo aplicado y mientras cualquier exceso del medio de examinación es eliminado. (b) Partículas húmedas. La corriente magnetizante deberá ser aplicada despues que las partículas hayan sido aplicadas. El flujo de partículas deberá detenerse con la aplicación de la corriente. Las partículas húmedas aplicadas desde envases presurizados pueden ser aplicados antes y/o después que la corriente magnetizante sea aplicada. Las partículas húmedas pueden ser aplicadas durante la aplicación de la corriente magnetizante si no son aplicadas directamente al área de examinación y se permite que fluyan sobre el área de examinación o son aplicadas directamente al área de examinación con velocidades insuficientemente bajas para remover las partículas acumuladas.


FIG. T-766.1 ANILLO DE ENSAYO KETOS (BETZ)

Hueco (mm)

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

Diám. [Nota(1)]

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

0.07 (1.8)

“D” [Nota(2)]

0.07 (1.8)

0.14 (3.6)

0.21 (5.3)

0.28 (7.1)

0.35 (9.0)

0.42 (10.8)

0.49 (12.6)

0.56 (14.4)

0.63 (16.2)

0.70 (18.0)

0.77 (19.8)

0.84 (21.6)

NOTAS GENERALES: (a) Todas las dimensiones son ± 0.03” (± 0.8 mm) o como se nota en (1) y (2). (b) Todas las dimensiones estan en pulgadas, a excepción como se nota ( ). (c) El material es acero de herramienta ANSI 01 de annealed round stock. (d) El anillo puede ser tratado térmicamente como sigue: Calentar de 1400ºF hasta 1500ºF (760ºC hasta 790ºC). Mantener esta temperatura por una hora. Enfriar a la velocidad mínima de 40 ºF/h (22ºC/h) hasta bajarla a 1000ºF (540ºC). Enfriar en horno o al aire a temperatura ambiente. Terminar el anillo a RMS 25 y protegerlo de la corrosión. Notas: (1) Todos los diámetros de los huecos son ± 0.005” (± 0.1 mm). Los números de los huecos del 8 hasta el 12 son opcionales. (2) La tolerancia en la distancia D es ± 0.005” (±0.1 mm).

T-774 Cobertura de la Examinación Todas las examinaciones deberán ser dirigidas con solape suficiente del campo para asegurar el 100% de cobertura a la sensibilidad requerida (T-764). T-775 Corriente Rectificada (a) Donde quiera que la corriente directa sea requerida la corriente rectificada puede ser usada. La corriente rectificada para la magnetización deberá ser cualquier corriente trifásica (rectificada de onda completa), o corriente de fase simple (rectificada de media onda).


(b) El amperaje requerido con corriente de fase triple, rectificada de onda completa deberá ser verificada mediante la medición de la corriente promedio. (c) El amperaje requerido con corriente de fase simple (rectificada de media onda) deberá ser verificada mediante la medición de la salida de corriente promedio durante la conducción solamente del medio ciclo. (d) Cuando se mide la corriente rectificada de media onda con un medidor de ensayo de corriente directa deberá ser multiplicada por dos. T-776 Remoción del Exceso de Partículas Las acumulaciones del exceso de las partículas secas en las examinaciones deberán ser removidas con un chorro de aire ligero desde un bulbo o jeringa u otras fuentes de flujo de aire seco a presión. La corriente o energía de la examinación deberá ser mantenida mientras se remueve el exceso de partículas. T-777 Interpretación La interpretación deberá identificar si una indicación es falsa, no relevante, o relevante. Las indicaciones falsas y no relevantes deberán ser comprobadas como falsas o no relevantes. La interpretación deberá ser llevada a cabo para identificar la ubicación de las Indicaciones y la característica de la indicación. T-777.1 Partículas Magnéticas Visibles (Contraste de color). Las discontinuidades superficiales se indican mediante las acumulaciones de partículas magnéticas las cuales deberían contrastar con la superficie de la examinación. El color de las partículas magnéticas deberán ser lo suficientemente diferentes que el color de la superficie de la examinación. Se requiere una intensidad mínima de luz de 100 fc (1000Lx) sobre la superficie que va a ser examinada para asegurar la sensibilidad adecuada durante la examinación y evaluación de las indicaciones. Se requiere que la fuente de luz, la técnica usada, y la verificación del nivel de luz sea demostrada a tiempo, y mantenida en archivo. T-777.2 Partículas Magnéticas Fluorescentes Con Luz Negra. Con las partículas magnéticas fluorescentes, el proceso es esencialmente el mismo como en T-777.1, con la excepción que la examinación se ejecuta usando una luz ultravioleta (es decir, 365nm nominal), llamada luz negra. La examinación deberá desarrollarse como sigue: (a) Deberá ejecutarse en un área oscura. (b) Los examinadores deberán estar en un área oscura por al manos 5 min. Antes de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten a la inspección en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por los examinadores no deberán ser fotocromáticos o mostrar cualquier fluorescencia.


(c) Las luces negras deberán alcanzar un mínimo de 1000 μW/cm2 sobre la superficie de la pieza que va a ser examinada en todas las partes de la examinacion. (d) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes deberán ser inspeccionados y, si es necesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes agrietados o rotos deberán ser reemplazados inmediatamente. (e) La intensidad de la luz negra deberá ser medida con un medidor de luz negra antes de usarla, todas las veces que la fuente de luz negra sea interrumpida o cambiada, y al culminar la examinación o series de examinaciones. T-777.3 Partículas Magnéticas Fluorescentes Con Otras Longitudes de Ondas de Exitación Fluorescentes. Por otra parte los requerimientos en T.777.2, las examinaciones pueden ser ejecutados usando fuentes de luz de longitud de ondas alternas las cuales causan fluorescencias en revestimientos de partículas específicos. Cualquier designación de partículas específicas y fuentes de luz de longitud de onda de luz alterna usadas deberán estar calificadas en concordancia con el Apendice Obligatorio IV. La examinación deberá ser desarrollada como sigue: (a) Deberá ejecutarse en un área oscura. (b) Los examinadores deberán estar en un área oscura por al manos 5 min. Antes de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten a la inspección en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por los examinadores no deberán ser fotocromáticos o mostrar cualquier fluorescencia. (c) Si la fuente de luz de excitación fluorescente emite intensidades de luz mayores que 2 fc (20 Lx), el examinador deberá llevar lentes – filtros que aumentan-la fluorescencia aprobado por el fabricante de fuentes de luz para usarse con aquella fuente de luz. (d) Las fuentes de luz de excitación fluorescente deberán alcanzar al menos el mínimo de intensidad de luz sobre la superficie de la pieza en todas partes de la examinación así calificada en los ensayos del Apéndice Obligatorio IV. (e) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes deberán ser inspeccionados y, si es necesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes agrietados o rotos deberán ser reemplazados inmediatamente. (f) La intensidad de la luz de excitación fluorescente deberá ser medida con un medidor de luz de excitación fluorescente antes de usarla, todas las veces que la fuente de energía de luz sea interrumpida o cambiada, y al culminar la examinación o series de examinaciones. T-778 Desmagnetización Cuando el magnetismo residual en la pieza pudiera interferir con el procesamiento subsecuente o uso, la parte deberá ser desmagnetizada alguna vez después de culminar la examinación. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 22

T-779 Limpieza Posterior a la Examinación. Cuando se requiere la limpieza posterior a la examinación, debería ser dirigida tan pronto como práctico sea usando un proceso que no afecte adversamente la pieza. T-780 EVALUACIÓN (a) Todas las indicaciones deberán ser evaluadas en términos de los estándares de aceptación de la Sección del Código de referencia. (b) Las discontinuidades sobre o próximas a la superficie se indican mediante la retención del medio de examinacion. Sin embargo, las irregularidades superficiales localizadas debido a las marcas de maquinado u otras condiciones superficiales pueden producir indicaciones falsas. (c) Áreas amplias de acumulaciones de partículas, las cuales podrían enmascarar las indicaciones de las discontinuidades, estan prohibidas, y tales áreas deberán ser limpias y reexaminadas. T-790 DOCUMENTACIÓN T-791 Magnetización Multidireccional Tecnica del Croquis Deberá prepararse una tecnica de croquis para cada geometría examinada, mostrando la geometría de la pieza, arreglos del cable y conexiones, corriente magnetizante para cada circuito, y las áreas de examinacion donde se obtienen las densidades del campo magnético adecuado. Las partes con geometrías repetidas, pero de dimensiones diferentes, pueden ser examinadas usando un croquis simple siempre que la densidad de campo magnético sea adecuada cuando se demuestre en concordancia con T-755.2. T-792 Registro de las Indicaciones T-792.1 Indicaciones No Rechazables. Las indicaciones no rechazables deberán ser registradas como se especifica por la Sección del Código en referencia. T-792.2 Indicaciones Rechazables. Las indicaciones rechazables deberán ser registradas. Como mínimo, el tipo de indicaciones (lineal o redondeadas), la ubicación y extensión (longitud, diámetro o alineada) deberán ser registradas T-793 Registros de la Examinación Para cada examinación, la información siguiente deberá ser registrada: (a) Identificación y revisión del procedimiento. (b) Equipos y tipo de corriente de partículas magnéticas (c) Partículas magnéticas (visible o fluorescente, húmedo o seco) (d) La identificación del personal de examinación y si se requiere mediante el Código en referencia, el nivel de calificación. (e) Mapa o registros de identificación para T-792. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 23

(f) Material y espesor (g) Equipo de iluminación (h) Fecha de la examinación


ARTICLE 7 APENDICES OBLIGATORIOS CONTENIDO

Pag.

APÉNDICE I Examinación por partículas magnéticas que usa la tecnica del yugo con CA en materiales revestidos ferríticos con recubrimientos no magnéticos…………… 27 I-710 ALCANCE………………………………………………………………………………………………………27 I-720 GENERAL………………………………………………………………………………………………………27 I-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos…………………………………………….27 I-722 Calificacion del Personal……………………………………………………………………………….27 I-723 Procedimiento/Demostración de la Técnica………………………………………………….27 I-730 EQUIPOS……………………………………………………………………………………………………….27 I-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS………………………………………………………………………..28 I-741 Medicion del Espesor del Revestimiento………………………………………………….28 I-750 TECNICA……………………………………………………………………………………………………….29 I-751 Calificación de la Técnica…………………………………………………………………………29 I-760 CALIBRACION……………………………………………………………………………………………….30 I-761 Fuerza Máxima de Levante del Yugo………………………………………………………..30 I-762 Medicion de la Intensidad de la Luz………………………………………………………….30 I-760 EXAMINACION……………………………………………………………………………………………..31 I-780 EVALUACION………………………………………………………………………………………………..31 I-790 DOCUMENTACION………………………………………………………………………………………..31 I-791 Registro de la Examinacion………………………………………………………………………31 APENDICE II – GLOSARIO DE TERMINOS PARA LA EXAMINACION POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS………………………………………………………………………………………………………..32 II-710 ALCANCE……………………………………………………………………………………………………..32 II-720 RQUERIMIENTOS GENERALES………………………………………………………………………32 II-730 REQUERIMIENTOS……………………………………………………………………………………….32 APENDICE III – EXAMINACION POR PARTICULAS MEGNETICAS USANDO LA TECNICA DEL YUGO CON PARTICULAS FLUORESCENTES EN UN AREA NO OSCURA……………….33 III-710 ALCANCE…………………………………………………………………………………………………….33 III-720 GENERAL…………………………………………………………………………………………………….34 III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito……………………………………………34 III-723 Demostración de Procedimiento………………………………………………………….34 III-750 TECNICA……………………………………………………………………………………………………..34 III-751 Estándar de Calificacion………………………………………………………………………..34 III-760 CALIBRACION………………………………………………………………………………………………34 III-761 Medición de la Intensidad de la Luz Negra……………………………………………34 III-762 Medición de la Intensidad de la Luz Blanca…………………………………………..34 III-770 EXAMINACION…………………………………………………………………………………………….34 III-777 Interpretación………………………………………………………………………………………35 III-790 DOCUMENTACION………………………………………………………………………………………35 Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 25

III-791 Registro de Examinación…………………………………………………………………………….35 APÉNDICE IV — CALIFICACIÓN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNA PARA LA EXCITACIÓN DE PARTÍCULAS FLUORESCENTES…………………………………………36 IV-710 ALCANCE……………………………………………………………………………………………………36 IV-720 GENERAL……………………………………………………………………………………………………36 IV-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos………………………………………..36 IV-723 Demostración de Procedimiento………………………………………………………….36 IV-750 TECNICA……………………………………………………………………………………………………..36 IV-751 Estándar de Calificacion………………………………………………………………………..36 IV-752 Cristales de Filtro………………………………………………………………………………….36 IV-770 EXAMINACIONES DE LA CALIFICACION…………………………………………………………36 IV-771 Intensidad de la Luz Negra…………………………………………………………………….36 IV-772 Requerimientos de la Examinacion……………………………………………………….37 IV-773 Calificacion de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y Partículas Magnéticas…………………………………………………………………………………………………………….37 IV-790 DOCUMENTACION……………………………………………………………………………………….37 IV-791 Registro de Examinacion……………………………………………………………………………..37


CONTENIDO APÉNDICE I EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS QUE USA LA TECNICA DEL YUGO CON CA EN MATERIALES REVESTIDOS FERRÍTICOS CON RECUBRIMIENTOS NO MAGNÉTICOS I-710 ALCANCE Este apéndice suministra la metodología de la examinación de Partículas Magnéticas y los requerimientos de los equipos aplicables para ejecutar la examinación por Partículas Magnéticas en materiales ferríticos con revestimientos no magnéticos. I - 720 GENERAL Los requerimientos del Artículo 7 aplican a menos que sean modificados por este Apéndice. I – 721 Requerimientos de Procedimientos Escritos I – 721.1 Requerimientos. La examinación por Partículas Magnéticas deberá ser desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito el cual deberá, como mínimo, contener los requerimientos listados en las tablas T- 721 y I – 721. El procedimiento escrito deberá establecer un solo valor, o rango de valores, para cada requerimiento. I – 721.2 Calificación de Procedimiento/Validación de la Técnica. Cuando se especifica la calificación de procedimiento, un cambio de un requerimiento en la tabla T- 721 ó I – 721 identificado como una variable esencial del valor especificado, o rango de valores, deben requerir recalificación del procedimiento escrito y la validación de la técnica. Un cambio de un requerimiento identificado como una variable no esencial del valor especificado, o rango de valores, especificado mediante el procedimiento escrito deberá requerir revisión de, o una adenda para, el procedimiento escrito. I – 722 Calificación del Personal Los requerimientos de calificación del personal deberán estar en concordancia con la Sección del Código en referencia. I – 723 Procedimiento/Demostración de la Tecnica. El procedimiento/Tecnica deberá ser demostrado para la satisfacción del inspector en concordancia con los requerimientos de la Sección del Código en referencia. I –730 EQUIPOS I – 730.1 El equipo de magnetización deberá ser estar concordancia con el Articulo 7.


I – 730.2 Cuando se usa la tecnica del polvo seco, deberá ser utilizado un soplador de polvo para la aplicación del polvo. No deberá ser usado aplicadores de partículas exprimidas manualmente cuando se use la tecnica del polvo seco. I – 730.3 Las partículas magnéticas deberá contrastar con el fondo del componente. I – 730.4 Los materiales No conductores tales como un shim plástico disponible puede ser usado para simular revestimientos no magnéticos no conductores para calificación de procedimiento y personal. I – 740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS I – 741 Medición del Espesor del Revestimiento El procedimiento de la demostración y ejecución de las examinaciones deberan ser precedidos por la medicion del espesor del revestimiento en las áreas que van a ser examinadas. Si el revestimiento es no conductor, se debe usar una técnica de corriente de Eddy o técnica magnética para medir el espesor del revestimiento. La tecnica magnética deberá estar en concordancia con SD-1186, Métodos de Ensayos Estándar para la Medición de Espesores de Revestimientos Delgados Secos de Revestimientos No Magnéticos Aplicados a una Base Ferrosa. Cuando los revestimientos son conductores y no magnéticos, deberá ser usada un tecnica espesor de revestimiento en concordancia con SD-1186. Se deberá usar el equipo de medicion de revestimiento en concordancia con las instrucciones del fabricante del equipo. Deberán ser tomadas las mediciones del espesor del revestimiento en las intersecciones de un patrón cuadrícula maximo de 2” (50 mm) sobre el área de examinación y al menos una mitad de la máxima separación de los apoyos del yugo más allá del área de examinación. El espesor deberá ser la media de las tres lecturas separadas dentro de ¼” (6 mm) de cada intersección.


TABLA I-721 REQUERIMIENTOS DE LA TECNICA DEL YUGO CON CA EN COMPONENTES FERRITICOS REVESTIDOS Requerimientos Identificación de las configuraciones de la superficie a ser examinada, incluyendo los materiales del revestimiento, el maximo espesor de revestimiento calificado, y las formas del producto (ejemplo., material base o superficie soldada) Requerimientos de la condición superficial y métodos de preparación. Fabricante y Modelo de Yugo CA Fabricante y tipo de las partículas magnéticas Separación mínima y máxima de los polos Identificación de los pasos en la ejecución de la examinación Intensidad mínima de la iluminación y los requerimientos de energía de levante [como se midió en concordancia con la Técnica de Calificación (I-721.2)] Métodos de identificación de fallas y distinguir entre las indicaciones producidas por discontinuidades e indicaciones falsas o no relevantes (ejemplo., registro magnético, o partículas retenidas por irregularidades superficiales). Instrucciones para la identificación y confirmación de indicaciones de fallas bajo sospechas. Método de medición de espesores de revestimientos Criterio de registro Requerimientos único de calificación de personal para esta técnica Referencia a los registros de calificación de procedimiento

Variable Esencial

Variable No Esencial

X

---------------------

X

---------------------

X X X X

---------------------------------------------------------------------------------

X

---------------------

X

---------------------

X

---------------------

-------------------------------------------------------------

X X X

---------------------

X

I-750 TÉCNICA I-751 Calificación de la técnica (a) Se requiere una muestra de calificación. La muestra deberá ser de geometría similar o perfil de soldadura y que contenga al menos una grieta superficial no mayor que el tamaño máximo de falla permitido en el criterio de aceptación aplicable. El material usado para la muestra deberá ser de la misma especificación y tratamiento térmico como el material ferromagnético revestido que va a ser examinado. Como una alternativa a los requerimientos del material, otros materiales y tratamientos térmicos pueden ser calificados con tal que: (1) La máxima fuerza de levante del yugo medida en el material a ser examinado sea igual o mayor que la fuerza máxima de levante en la calificación del material de la muestra. Ambos valores deberán ser determinados con el mismo o equipo comparable y deberá ser documentado como se requiera en I-751 (c). (2) Todos los requerimientos de I-751 (b) hasta (g) son presentados para el material alterno. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 29

(b) Examinar la muestra descubierta en la mayoría de la orientación desfavorable esperada durante la ejecución de la examinación de producción. (c) Documentar la máxima energía de levante del yugo medido, niveles de iluminación, y los resultados. (d) Medir el espesor máximo de revestimiento en el artículo a ser examinado en concordancia con los requerimientos de I-741. (e) Cubrir la muestra con el mismo tipo de recubrimiento, conductor o no conductor, para el máximo espesor en el artículo de producción que va a ser examinado Alternativamente, se pueden usar shim disponible no conductor para simular revestimientos no conductores. (f) Examinar la muestra revestida en la orientación desfavorable esperada durante la ejecución de la examinacion de producción. Documentar la máxima energía medida de levante del yugo, nivel de iluminación, y los resultados de examinacion. (g) Comparar la longitud de la indicacion resultante de la falla mas larga no mayor que el tamaño de falla maximo permitido por el criterio de aceptación aplicable, antes y después del revestimiento. Se califica el espesor del revestimiento cuando la longitud de la indicación en la superficie revestida es de al menos del 50% de la longitud de la indicación correspondiente antes del revestimiento. (h) Se requiere la recalificación del revestimiento para una disminución en cualquier energia de levante del yugo CA o el nivel de examinacion, o para un aumento en el espesor de recubrimiento. I-760 CALIBRACIÓN I-761 Fuerza Máxima de Levante del Yugo La máxima fuerza de levante del yugo CA deberá ser determinada en la separación normal de los apoyos del yugo a ser usada en la examinacion. Esto puede ser llevado a cabo por mantener el yugo con un peso ferromagnético de 10 libras (4.5Kgs) entre los apoyos (piernas) del yugo y agregando pesos adicionales, calibrados en una postage u otra escala, hasta que el peso ferromagnético sea retirado. La energía de levante del yugo deberá ser el peso combinado del material ferromagnético y los pesos agregados, antes de que el peso ferromagnético haya sido retirado. Pueden ser usados otros métodos tales como indicadores de presiones. I-762 Medición de la Intensidad de Luz La intensidad de la luz negra o blanca (así apropiada) sobre la superficie del componente no deberá ser menor que aquel usado en el ensayo de calificación. Un medidor de luz blanca y/o luz negra calibrado apropiado deberá ser usado para los ensayos. Las intensidades de luz blanca o luz negra mínima deberán cumplir con los requerimientos de T-777.1 o T-777.2 así aplicable.


I-762.1 Luz blanca. La intensidad de luz blanca deberá ser medida en la superficie de inspección. La intensidad de luz blanca para la examinación no deberá ser menor que la que fue usada en la examinación. I-762.2 Luz Negra. La intensidad de luz negra deberá ser medida en la distancia de la luz negra en la calificación del procedimiento y en la misma distancia de la muestra de la examinación. La intensidad de la luz negra no deberá ser menor que aquella usada para calificar el procedimiento. En resumen, la máxima intensidad de la luz blanca deberá ser medida como luz de fondo en la superficie de inspección. La luz blanca de fondo para la examinación no deberá ser mayor que la que fue usada en la calificación. I-770 EXAMINACIÓN (a) Las superficies que van a ser examinadas, y todas las áreas adyacentes dentro de al menos 1” (25 mm), deberá estar libre de todo sucio, grasas, pelusas, cascarillas, fundentes y salpicaduras de soldaduras, aceites, y descascarillados sueltos y soplados, hojuelas, o revestimiento desconchado. (b) Examinar el artículo revestidos en concordancia con el procedimiento calificado. I-780 EVALUACIÓN Si una indicación mayor que el 50% del tamaño máximo de falla permisible es detectada, el recubrimiento en el área de la indicación deberá ser removido y repetida la examinacion. I-790 DOCUMENTACIÓN I-791 Registro de la Examinación Para cada examinación, la informacion requerida en la sección de los registros de T793 y la siguiente información deberá ser registrada: (a) La identificación del procedimiento/tecnica (b) La identificación del personal que ejecuta y es testigo de la calificación (c) La descripción y dibujos o esquemas de la muestra de calificación, incluyendo las mediciones del espesor del revestimiento y dimensiones de la falla. (d) Equipos y materiales usado (e) Nivel de iluminación y energía de levante del yugo (f) Resultados de la calificación, incluyendo el espesor de revestimiento máximo y fallas detectadas.


APENDICE II — GLOSARIO DE TÉRMINOS PARA LA EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS II-710 ALCANCE Este Apéndice obligatorio es usado para el propósito de establecer los términos estándar y definiciones de los términos los cuales aparecen en el Artículo 7, Examinación por Partículas Magnéticas. II- 720 REQUERIMIENTOS GENERALES (a) La Terminología Estándar para las Examinaciones No Destructivas (ASTME 1316) ha sido adoptada por el comité SE-1316. (b) La Sección SE-1316 7 suministra las definiciones de términos listados el II-730 (a). (c) Para los términos generales, tales como Indicacion, Falla, Discontinuidad, Evaluacion, etc., Referirse al Artículo 1, Apendice I Obligatorio (d) El parágrafo II-730(b) suministra una lista de términos y definiciones, los cuales son en adicion para SE-1316 y son específicos del Código. II-730 REQUERIMIENTOS (a) Los siguientes términos SE-1316 son usados conjuntamente con este Artículo: Vuelta-amperios, luz negra, conductor central, magnetización circular, desmagnetización, polvo seco, corriente directa de onda completa, corriente de media onda, magnetización longitudinal, campo magnético, densidad de campo magnético, examinacion por partículas magnéticas, indicador de campo de partículas magnéticas, partículas magnéticas, magnetización multidireccional, imanes permanentes, pinzas, sensibilidad, suspensión, yugo. (b) Los siguientes términos del Codigo son usados conjuntamente con este Artículo: Intensidad de luz negra: Es una expresión cuantitativa de la irradiación ultravioleta. Flujo magnético: Es el concepto en que el campo magnético fluye a lo largo de la fuerza que sugiere que estas líneas son por lo tanto líneas de “flujo”, y son llamado flujo magnético. La densidad del campo se define por el número de líneas de flujo que atraviesan una unidad de área tomada en ángulos rectos a la dirección de las líneas. Corriente magnética rectificada: Por medio de un dispositivo llamado rectificador, el cual permite que la corriente fluya solo en una dirección, la corriente alterna puede ser convertida a una corriente unidireccional. Esto se diferencia de la corriente directa en que el valor de la corriente varía de un nivel estable. Esta variación puede ser extrema, como en el caso de la CA de fase simple de media onda rectificada, o de poca importancia, como en el caso de la CA rectificada trifásica.


TABLA III-721 REQUERIMIENTOS PARA UNA TECNICA DE YUGO DE CDMO (HWDC) O CA CON PARTÍCULAS FLUORESCENTES EN UN ÁREA NO OSCURECIDA REQUERIMIENTOS Identificación de las configuraciones superficiales a ser examinadas y formas de productos ( ejemplo,. Material base o superficie soldada) Requerimiento dela condición superficial y métodos de preparación Fabricante y modelo del yugo Fabricante y designación de partículas Separación de los polos maximo y mínimo Identificación de los pasos en la ejecución de la examinación Máxima intensidad de la luz blanca Máxima intensidad de la luz negra Requerimientos para la calificación del personal Referencia a los registros de calificación de procedimientos

VARIABLE ESENCIAL

VARIABLE NO ESENCIAL

X

----------------------

X

----------------------

X X X X

-------------------------------------------------------------------------------------

X X -------------------------------------------

------------------------------------------X X

Corriente rectificada de media onda CA: Cuando una corriente alterna de fase simple es rectificada en la manera mas simple, la inversión del ciclo es bloqueado completamente. El resultado es una corriente pulsatoria unidireccional con intervalos cuando la corriente no esta fluyendo en su totalidad. Esto a menudo es referido como corriente directa de media onda o corriente directa pulsatoria. Corriente rectificada de onda completa: Cuando la mitad del ciclo inverso cambia de posicion fluye en la misma dirección como en la mitad de avance directo. El resultado es una corriente rectificada de onda completa. Cuando la corriente alterna trifásica es rectificada de onda completa es unidireccional con muy poca pulsación; solo una tensión de variación de ondulación la diferencia de la CD de fase simple. APENDICE III — EXAMINACIÓN POR PARTÍCULAS MAGNÉTICAS USANDO LA TÉCNICA DEL YUGO CON PARTÍCULAS FLUORESCENTES EN UN ÁREA NO OSCURA III- 710 ALCANCE Este Apéndice suministra la metodología y requerimientos de equipos para examinación por Partículas Magnéticas aplicables para ejecutar las examinaciones por partículas magnéticas que usan un yugo con partículas fluorescentes en un área no oscura.


III-720 GENERAL Los requerimientos del Artículo 7 aplican a menos que sea modificado por este Apéndice. III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito III-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de las tablas T-721 y III-721 aplican. III-721.2 Calificacion de Procedimiento. Los requerimientos de la tabla T-721 y III-721 aplican. III-723 Demostración de Procedimiento El procedimiento deberá ser demostrado para la satisfacción del inspector en concordancia con los requerimientos de la Sección del Código en referencia. III-750 TÉCNICA III-751 Estándar de Calificación Un Shim(s) ranurado estándar como se describe en T-764.1.2 deberá ser usado como el estándar de calificación. III-760 CALIBRACIÓN III-761 Medición de la Intensidad de luz negra. La intensidad de la luz negra sobre la superficie del componente deberá ser no menor que el usado en el ensayo de calificación. III-762 Medición de la Intensidad de la luz Blanca La intensidad de la luz blanca sobre la superficie del componente deberá ser no mayor que el usado en el ensayo de calificación. III-770 EXAMINACIÓN El estándar de calificación deberá ser ubicado sobre una plancha de acero al carbono y examinado en concordancia con el procedimiento a ser calificado y un procedimiento que haya sido previamente demostrado como apropiado para el uso. El procedimiento estándar puede utilizar una tecnica fluorescente o visible. Las indicaciones de falla deberán ser comparadas; si aparece la misma la indicación obtenida bajo las condiciones propuestas o mejor que la obtenida bajo las condiciones estándar, el procedimiento propuesto deberá ser considerado calificado para su uso.


TABLA IV-721 REQUERIMIENTOS PARA LA CALIFICACIÓN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDAS ALTERNAS PARA LA EXITACIÓN DE PARTÍCULAS FLUORESCENTES ESPECÍFICAS REQUERIMIENTOS

VARIABLES ESENCIAL

VARIABLE NO ESENCIAL

Fabricante y designación de partículas

X

-------------------------

Vehículo (agua, o aceite); Si es aceite, fabricante y tipo de designación. Fabricante y modelo de la fuente de luz de longitud de onda alterna Medidores, fabricante y modelo de la fuente de luz de longitud de onda alterna Cristal de filtro ( si es necesario)

X

-------------------------

X

-------------------------

X

-------------------------

X

-------------------------

Intensidad de luz de longitud de onda alternativa mínima Registros de calificación

X

-------------------------

-------------------------

X

III-777 Interpretación Para la interpretación, tanto la intensidad de luz negra y blanca deberán ser medida con medidores de luz. III-790 DOCUMENTACIÓN III-791 Registro de la Examinación Para cada examinación, la información requerida en T-793 y la siguiente información deberá ser registrada: (a) (b) (c) (d) (e) (f) (g)

Identificación y revisión del procedimiento calificado. Identificación y revisión del procedimiento estándar. Identificación estándar de la calificación. Identificación del personal que ejecuta y es testigo de la calificación. Equipos y materiales usados. Niveles de iluminación (luz negra y blanca). Resultados de la calificación.


APÉNDICE IV — CALIFICACIÓN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNA PARA LA EXCITACIÓN DE PARTÍCULAS FLUORESCENTES. IV-710 ALCANCE Este Apéndice suministra la metodología para calificar le ejecución de las examinaciones de partículas fluorescentes que usan fuentes de longitud de ondas alternas. IV-720 GENERAL Los requerimientos del Artículo 7 aplican a menos que sea modificado por este Apéndice. IV-721 Requerimientos de Procedimiento Escritos. IV-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de la tabla IV-721 aplican a los requerimientos de los procedimientos escritos (T-721.1) y cuando se especifican mediante la Sección del Código de referencia para la calificación (T-721.2). IV-723 Demostración del Procedimiento El procedimiento deberá ser demostrado para la satisfacción del inspector en concordancia con los requerimientos de la Sección del Código en referencia. IV-750 TÉCNICA IV-751 Estándar de Calificación Los Shims ranurados (s) de 0.002” (0.05 mm) de espesor que tengan el 30% de profundidad de material removido descrito así en T-764.1.2 deberán ser usados para calificar la fuente de luz de longitud de onda alterna y partículas específicas. Los Shims deberán estar sellados con cinta a una superficie de objetos ferromagnéticos y usados como se describe en 7-764.1.2 con la muesca contra la superficie del objeto. IV-752 Cristales de filtro Si la fuente de luz de longitud de onda alternativa emite en una porción visible del espectro (Longitud de onda de 400 nm o mayor), el examinador deberá llevar puestos lentes de filtros que hayan sido suministrado por el fabricante de la fuente de luz para bloquear la luz de excitación visible reflejada mientras se transmite la fluorescencia de las partículas. IV-770 EXAMINACIONES DE LAS CALIFICACIONES IV-771 Intensidad de la Luz Negra. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 36

La intensidad de luz negra sobre la superficie de examinación deberá ser ajustada mediante la variación de la distancia o energía a fin de que tenga una intensidad mínima de 1.100 μW /cm2. IV-772 Requerimientos de la Examinación Los parámetros de la examinación para el objeto seleccionado deberán ser determinados por las reglas de T-750 aplicable al objeto seleccionado y al método de magnetización. Cualquier técnica de magnetización listada en T-751 puede ser usada. Las mismas indicaciones de las discontinuidades del Shim deberán ser usadas tanto para la luz negra y para las examinaciones de luz de longitud de onda alterna IV-772.1 Examinaciones con Luz Negra. El estándar de calificación con el shim(s) sujetado deberá ser examinado con los parámetros establecidos y partículas específicas en un área oscura con iluminación de luz negra. Las indicaciones de partículas resultantes deberán ser fotografiadas. IV-772.2 Examinación con Luz de Longitud de Onda Alterna. Usando las mismas indicaciones examinadas en IV.772.1, encender la fuente de luz de longitud de onda alterna y ajustar la intensidad de luz mediante la variación de la distancia o energía, para establecer las indicaciones de partículas esencialmente iguales a aquella (aquellas) que se obtuvieron con la luz negra según como se realizó antes. La intensidad de la luz deberá ser medida con un medidor de luz de longitud de onda alternativa. La indicacion(s) de partículas resultantes deberá ser fotografiada usando las técnicas fotográficas idénticas como la usada para la luz negra. Sin embargo, para usar filtros de lentes de camara apropiados con la fuente de luz de longitud de onda alterna debería ser usado para registrar la indicacion(s), cuando sea requerida. IV-773 Calificación de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y Partículas Específicas. Cuando la misma indicacion(s) de partículas así logradas con la luz negra pueden obtenerse con la fuente de luz de onda alterna, la fuente de luz de longitud onda alterna puede ser usada para las examinaciones por partículas magnéticas. La fuente de luz de longitud de onda alterna con al menos la mínima intensidad de luz calificada deberá ser usada con la designación de partículas especificas empleadas en la calificación. IV-790 DOCUMENTACIÓN IV-791 Registro de la Examinación. Para cada examinación, la información requerida en T-793 y la siguiente información deberá ser registrada: (a) (b) (c) (d)

La fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo. El medidor de fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo. Cristales filtro, cuando sea necesario Fabricante y designación de las partículas fluorescentes.


(e) (f) (g) (h) (i) (j)

Identificación del estándar de la calificación. Detalles técnicos. Identificación del personal que ejecuta la calificación y testigos de la misma. Equipos y materiales usados. Intensidad de luz de longitud de onda alterna mínima. Luz negra y fotos de la calificación de luz de longitud de onda alterna, calibraciones de la exposición, y filtros, si son usados.


ARTICULO 7 APÉNDICE NO OBLIGATORIO CONTENIDO………………………………………………………………………………………………………Pag. APÉNDICE A — MEDICIÓN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CON GAUSÍMETROS…………………………………………………………………………………………………….40 A-710 ALCANCE……………………………………………………………………………………………………40 A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES…………………………………………………………………..40 A-730 EQUIPOS……………………………………………………………………………………………………40 A-750 PROCEDIMIENTOS……………………………………………………………………………………..40 A-790 DOCUMENTOS/REGISTROS………………………………………………………………………..41


APÉNDICE A — MEDICIÓN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CON GAUSÍMETROS A-710 ALCANCE Este Apéndice No obligatorio es usado con el propósito de establecer procedimientos y especificaciones delos equipos para medir la densidad de campo magnético tangencial aplicado. A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES Los requerimientos de calificación del personal deberán estar en concordancia con el Artículo 1. Los gausímetros y equipos relacionados deberán estar en concordancia con T-763 del Artículo 7. Definiciones: La terminología estándar para las examinaciones por partículas magnéticas se presenta en SE-1316. A-730 EQUIPOS El gausímetro que tiene la capacidad de ser ajustado para leer los valores típicos de la intensidad de campo. La respuesta de la frecuencia del gausímetro deberá ser de al menos de O Hz hasta 300 Hz. La sonda de campo tangencial del Efecto Hall debería ser no mayor de 0.2” (5mm) X 0.2” (5 mm) y debería tener una ubicación del centro máximo de 0.2” (5 mm) de la superficie de la pieza. Los cables de la sonda deberán ser protegido o enrollados para evitar errores en la lectura debido al voltaje inducido durante los grandes cambios de campos encontrados durante las examinaciones por partículas magnéticas. A-750 PROCEDIMIENTO Se deberá tener precaución cuando de mida las densidades del campo tangencial aplicado en T-764.1.3. El plano de la sonda puede ser perpendicular a la superficie de la pieza en la ubicación de la medición dentro de 5º . Esto puede ser difícil de llevar a cabo mediante la orientación manual. Puede ser usado una matriz o accesorio para asegurar que esta orientación sea alcanzada y mantenida. La dirección y magnitud del campo tangencial sobre la superficie de la pieza puede ser determinada mediante la ubicación de la sonda de campo tangencial de Efecto Hall sobre la superficie de la parte en el área de interés. La dirección del campo puede ser determinada durante la aplicación del campo magnetizante por la rotacion de la sonda de campo tangencial mientras esta en contacto con la pieza hasta que se obtenga la mayor lectura del campo en el Gausímetro. La orientación de la sonda, cuando se obtiene el mayor campo, indicará la dirección del campo en ese punto. Los Gausímetros no se pueden usar para determinar la suficiencia de los campos magnéticos para las técnicas de magnetización de bobina y multidireccionales. Prohibida la reproducción de este material por cualquier vía,[email protected],04163332202 Página 40

Codigo ASME Seccion V Articulo 7- 2010 en Español

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